在第一個例子中,使用高NA物鏡檢查非對稱微結(jié)構(gòu)晶片,而在第二個例子中我們使用不同形狀的測試表面顯示了來自經(jīng)典斐索干涉儀的輻照度圖案。用于微結(jié)構(gòu)晶片檢測的光學(xué)系統(tǒng)該用例顯示了高NA晶片檢測系統(tǒng)的快速物理光學(xué)模擬,該系統(tǒng)通常用于半導(dǎo)體工業(yè)中檢測晶片上的缺陷。光學(xué)檢測用的斐索干涉儀借助非連續(xù)場追跡技術(shù)建立了斐索干涉儀,并顯示了來自幾個不同測試表面的干涉條紋。