用于光學(xué)測(cè)量的菲索干涉儀
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摘要
斐索干涉儀是工業(yè)中常見(jiàn)的光學(xué)計(jì)量設(shè)備,它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測(cè)試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡,我們構(gòu)建了一個(gè)菲索干涉儀,并利用它測(cè)試了不同的光學(xué)表面,例如圓柱形和球形。 可以看出,產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)表面輪廓具有敏感性。
建模任務(wù)
傾斜平面下的觀測(cè)條紋
圓柱面下的觀測(cè)條紋
球面下的觀測(cè)條紋
VirtualLab Fusion 視窗
VirtualLab Fusion 流程
設(shè)置入射場(chǎng)
- 基本光源模型[教程視頻]
定義元件的位置和方向
- LPD II: 位置和方向[教程視頻]
正確設(shè)置通道的非序列追跡
- 非序列追跡的通道設(shè)置[用戶(hù)案例]
VirtualLab Fusion 技術(shù)
文件信息
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