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摘要白光干涉儀是一種非接觸測量技術，用于如表面輪廓或微小位移的高精度測量。利用一個邁克爾遜干涉儀系統和一個氙燈光源在VirtualLab Fusion中仿真了一個白光干涉儀。建模中考慮光源中有限相干長度等光譜特性，結果表明只有當兩臂的路徑長度基本相同時才會出現干涉圖樣。 2. 建模任務 3.

1.摘要白光干涉儀是一種非接觸測量技術，用于如表面輪廓或微小位移的高精度測量。利用一個邁克爾遜干涉儀系統和一個氙燈光源在VirtualLab Fusion中仿真了一個白光干涉儀。建模中考慮光源中有限相干長度等光譜特性，結果表明只有當兩臂的路徑長度基本相同時才會出現干涉圖樣。

1.摘要白光干涉儀是一種非接觸測量技術，用于如表面輪廓或微小位移的高精度測量。利用一個邁克爾遜干涉儀系統和一個氙燈光源在VirtualLab Fusion中仿真了一個白光干涉儀。建模中考慮光源中有限相干長度等光譜特性，結果表明只有當兩臂的路徑長度基本相同時才會出現干涉圖樣。

1.摘要白光干涉儀是一種非接觸測量技術，用于如表面輪廓或微小位移的高精度測量。利用一個邁克爾遜干涉儀系統和一個氙燈光源在VirtualLab Fusion中仿真了一個白光干涉儀。建模中考慮光源中有限相干長度等光譜特性，結果表明只有當兩臂的路徑長度基本相同時才會出現干涉圖樣。

?由于白光的部分相干性，條紋的對比度降低了?當進行高度掃描時，光強發生了變化 2.系統說明 3.建模/設計結果 4.總結 研究了邁克爾遜干涉儀裝置白光干涉圖案并應用于高度輪廓掃描 1.仿真用光線追跡對干涉儀的仿真。

摘要白光干涉儀是一種非接觸測量技術，用于如表面輪廓或微小位移的高精度測量。利用一個邁克爾遜干涉儀系統和一個氙燈光源在VirtualLab Fusion中仿真了一個白光干涉儀。建模中考慮光源中有限相干長度等光譜特性，結果表明只有當兩臂的路徑長度基本相同時才會出現干涉圖樣。 2. 建模任務 3.

摘要 掃描干涉儀是用于執行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性，僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此，它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。

摘要 掃描干涉儀是用于執行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性，僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此，它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。

摘要 掃描干涉儀是用于執行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性，僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此，它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。

白光干涉原理（White Light Interferometry）這是一種基于光學干涉的非接觸式測量技術。通過將白光分成參考光束和測量光束，當測量光束照射到物體表面并返回時，會與參考光束產生干涉條紋。通過分析干涉條紋的形狀變化，儀器能夠計算出表面的微觀高度變化，實現亞納米級的高精度測量。3.

摘要 掃描干涉儀是用于執行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性，僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此，它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。

摘要 掃描干涉儀是用于執行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性，僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此，它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。

190 6.1.1 使用相干光的馬赫-澤德干涉儀 190 6.1.2 白光邁克爾遜干涉儀 202 6.1.3 F-P干涉儀 220 6.2 顯微鏡模擬仿真 228 6.2.1 高數值孔徑顯微鏡模擬仿真及研究 228 6.3 單色儀和光譜儀模擬仿真 239 6.3.1 切爾尼-特納單色儀—衍射效率分析 239 6.3.2

仿真設定及材料規格： 研究流程：使用白光干涉儀獲得多道和多層樣品的表面形貌。

可以通過微型光學元件來實現光束的均勻化和整形，例如：? 微透鏡陣列? 衍射擴散器? 計算機生成的全息圖? 相位板? 單元陣列 紅色LED照射衍射擴散器產生的天際線圖案光學仿真和設計包括:? 衍射? 干涉? 空間和時間相干度? 像差? 偏振? 光強 應用 用于LED和準分子激光均勻化的微光學照明系統可以用在各個領域

作為第二個例子，我們準備了一個使用白光干涉儀的相干性測量。在這個例子中，多波長以及干涉儀臂的位移會產生總共2904次模擬。通過分布式計算的應用，我們可以將模擬時間從近1小時減少到僅3分鐘。這些例子演示了通過新的分布式計算包可以實現改變游戲規則的模擬加速。 基于分布式計算的AR光波導中測試圖像的仿真光波導元件由超過10000個像素組成的測試圖像照明。

4.2干涉儀當中的衍射、雜光分析4.3馬赫澤德干涉儀，觀察Gouy相移5.成像系統仿真5.1像差的模擬5.2研究鬼像在準直系統中的影響5.3高級PSF和MTF計算6.激光傳輸系統6.1錐透鏡與貝塞爾光束仿真6.2非球面透鏡后的聚焦研究 7.分布式計算 課程安排如需報名可聯系15221255453（微信同號）

基于分布式計算的AR光波導中測試圖像的仿真 這些例子演示了通過新的分布式計算包可以實現改變游戲規則的模擬加速。 作為第二個例子，我們準備了一個使用白光干涉儀的相干性測量。在這個例子中，多波長以及干涉儀臂的位移會產生總共2904次模擬。

1906.1.1 使用相干光的馬赫-澤德干涉儀 1906.1.2 白光邁克爾遜干涉儀 2026.1.3 F-P干涉儀 2206.2 顯微鏡模擬仿真 2286.2.1 高數值孔徑顯微鏡模擬仿真及研究 2286.3 單色儀和光譜儀模擬仿真 2396.3.1 切爾尼-特納單色儀—衍射效率分析 2396.3.2 切爾尼-特納光譜儀—光譜分辨率及鈉雙譜線分析

激光光源為一個基于光纖的具有參考臂和樣品臂的馬赫澤德干涉儀（MZI），如圖1所示（OCT部分）。平衡的光電探測器（ThorLabs）檢測干涉。另一個MZI單元在光源處使用，來產生樣品的參考時鐘。探測器輸出和MZI時鐘注入到數字轉換器卡（AlazarTech）中，實現信號處理和創建OCT圖像。AF成像系統使用一個40mW的半導體激光器（相干），在446nm處激發熒光。