對于多晶體的應(yīng)力-應(yīng)變曲線和織構(gòu)預(yù)測,溫度效應(yīng),局部位錯模型已被證明是強大和有效的。然而,如果模擬規(guī)模變小,例如在專注于納米壓痕(Zaafarani et al.,20082006)和微柱壓縮(Raabe,Ma和Roters,2007a)的研究中,則局部模型可能由于無法描述尺寸效應(yīng)而不足,較小晶粒尺寸的強化效應(yīng)是由于晶界附近非均勻塑性變形的體積分?jǐn)?shù)較高。
對于多晶體的應(yīng)力-應(yīng)變曲線和織構(gòu)預(yù)測,溫度效應(yīng),局部位錯模型已被證明是強大和有效的。然而,如果模擬規(guī)模變小,例如在專注于納米壓痕(Zaafarani et al.,20082006)和微柱壓縮(Raabe,Ma和Roters,2007a)的研究中,則局部模型可能由于無法描述尺寸效應(yīng)而不足,較小晶粒尺寸的強化效應(yīng)是由于晶界附近非均勻塑性變形的體積分?jǐn)?shù)較高。