光學(xué)相干掃描干涉儀
關(guān)注創(chuàng)建者：匿名 創(chuàng)建時(shí)間：2025-11-21
光學(xué)相干掃描干涉儀的實(shí)例教程
摘要
掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性，僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時(shí)才會(huì)出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實(shí)現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測量表面平滑變化的樣品。
建模任務(wù)
仿真干涉條紋
走進(jìn)VirtualLab Fusion
VirtualLab Fusion中的工作流程
?設(shè)置輸入場
?基本光源模型[教程視頻]
?使用導(dǎo)入的數(shù)據(jù)自定義表面輪廓
?定義元件的位置和方向
? LPD II：位置和方向[教程視頻]
?正確設(shè)置通道以進(jìn)行非序列追跡
?非序列追跡的通道設(shè)置[用例]
?使用參數(shù)運(yùn)行檢查影響/變化
?參數(shù)運(yùn)行文檔的使用[用例]
VirtualLab Fusion技術(shù)
文件信息
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掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性，僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時(shí)才會(huì)出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實(shí)現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測量表面平滑變化的樣品。
摘要
掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性，僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時(shí)才會(huì)出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實(shí)現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測量表面平滑變化的樣品。
建模任務(wù) 仿真干涉條紋 走進(jìn)VirtualLab Fusion VirtualLab Fusion中的工作流程 ?設(shè)置輸入場
?基本光源模型[教程視頻]
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?定義元件的位置和方向
? LPD II：位置和方向[教程視頻]
?正確設(shè)置通道以進(jìn)行非序列追跡
?非序列追跡的通道設(shè)置[用例]
?使用參數(shù)運(yùn)行檢查影響/變化
?參數(shù)運(yùn)行文檔的使用[用例]
VirtualLab Fusion技術(shù) 文件信息 更多閱覽
- Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration
- Mach-Zehnder Interferometer
- Fizeau Interferometer for Optical Testing
展開 摘要
掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性，僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時(shí)才會(huì)出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實(shí)現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測量表面平滑變化的樣品。
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VirtualLab Fusion技術(shù)
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- Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration
- Mach-Zehnder Interferometer
- Fizeau Interferometer for Optical Testing
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掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性，僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時(shí)才會(huì)出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實(shí)現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測量表面平滑變化的樣品。
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仿真干涉條紋
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?非序列追跡的通道設(shè)置[用例]
?使用參數(shù)運(yùn)行檢查影響/變化
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光學(xué)相干掃描干涉儀的相關(guān)專題、標(biāo)簽、搜索
光學(xué)相干掃描干涉儀的最新內(nèi)容
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表面的干涉儀數(shù)據(jù)包含不規(guī)則度的相關(guān)信息，包括旋轉(zhuǎn)對(duì)稱不規(guī)則性 (RSI)、用于確定中空間頻率的斜率誤差以及其他表面形狀制造誤差。這些制造誤差取決于在球面或非球面上進(jìn)行的拋光類型，可以是傳統(tǒng)的瀝青拋光、高速拋光以及磁流變拋光 (MRF)。由于很難使用 Zernike 項(xiàng)來模擬所有這些類型的表面形狀變化，因此確定表面誤差如何影響整體系統(tǒng)級(jí)性能的最佳方法是在 OpticStudio
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表面的干涉儀數(shù)據(jù)包含不規(guī)則度的相關(guān)信息，包括旋轉(zhuǎn)對(duì)稱不規(guī)則性 (RSI)、用于確定中空間頻率的斜率誤差以及其他表面形狀制造誤差。這些制造誤差取決于在球面或非球面上進(jìn)行的拋光類型，可以是傳統(tǒng)的瀝青拋光、高速拋光以及磁流變拋光 (MRF)。由于很難使用 Zernike 項(xiàng)來模擬所有這些類型的表面形狀變化，因此確定表面誤差如何影響整體系統(tǒng)級(jí)性能的最佳方法是在 OpticStudio
課程大綱
1
VirtualLab Fusion光之?dāng)?shù)字模型平臺(tái)
光之?dāng)?shù)字模型平臺(tái)在精密系統(tǒng)檢測方面的工作原理
VirtualLab Fusion 用戶界面的基礎(chǔ)操作
VirtualLab Fusion中非序列追跡的通道配置
2
典型光學(xué)檢測系統(tǒng)建模與性能驗(yàn)證
基礎(chǔ)邁克爾遜干涉儀建模仿真
OCT系統(tǒng)仿真-光學(xué)相干層析掃描干涉儀
[VirtualLab] 用于光學(xué)檢測的斐索干涉儀1個(gè)月前
摘要
斐索干涉儀是工業(yè)上常見的光學(xué)計(jì)量設(shè)備，通常用于高精度測試光學(xué)表面的質(zhì)量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下，我們建立了一個(gè)Fizeau干涉儀，并將其用于測試不同的光學(xué)表面，例如圓柱形和球形表面。結(jié)果表明，表面輪廓對(duì)干涉條紋的產(chǎn)生是敏感的。
建模任務(wù)
測試表面
非序列追跡
通用探測器和探測器附加組件
總結(jié)-組件…
摘要
眾所周知，在干涉儀中，條紋對(duì)比度可能取決于光源的相干性。例如，在配有一定帶寬源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對(duì)比度隨著兩臂之間的光程差的增加而減小。通過測量可移動(dòng)反射鏡在不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得出光源的相干長度。典型的傅立葉變換光譜學(xué)通常是基于這類光學(xué)裝置。
建模任務(wù)
非序列追跡
探測器附加組件
參數(shù)運(yùn)行
總結(jié)-組件…
摘要
該用例將多色光源（24個(gè)波長）與邁克爾遜干涉儀設(shè)置中的反射鏡位置（121個(gè)位置）的參數(shù)掃描相結(jié)合。由此產(chǎn)生2904個(gè)基本模擬，其中每個(gè)模擬在標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算機(jī)上只需不到一秒鐘的時(shí)間。
如果沒有分布式計(jì)算，整個(gè)集合需要46?分55?秒。在由六個(gè)本地多核PC組成的網(wǎng)絡(luò)中，分布式計(jì)算由25個(gè)客戶端執(zhí)行，CPU時(shí)間減少到2?分50?秒。
基本仿真任務(wù)
基本任務(wù)集合：波長
[VirtualLab] 菲索光學(xué)測試干涉儀5個(gè)月前
摘 要
斐索干涉儀是工業(yè)中常見的光學(xué)計(jì)量設(shè)備，它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡，我們構(gòu)建了一個(gè)菲索干涉儀，并利用它測試了不同的光學(xué)表面，例如圓柱形和球形。 可以看出，產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)表面輪廓具有敏感性。
建模任務(wù)
傾斜平面下的觀測條紋
圓柱面下的觀測條紋
邁克爾遜干涉儀和光學(xué)計(jì)量學(xué)6個(gè)月前
如今，人們?nèi)匀唤?jīng)常可以找到以邁克爾遜干涉儀形式配置的光學(xué)系統(tǒng)，例如相干掃描干涉儀。借助VirtualLab Fusion，尤其是在非序列場追跡的幫助下，我們展示了邁克爾遜白光干涉儀的工作原理，并展示了其如何應(yīng)用于光學(xué)計(jì)量學(xué)。
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如今，人們?nèi)匀唤?jīng)常可以找到以邁克爾遜干涉儀形式配置的光學(xué)系統(tǒng)，例如相干掃描干涉儀。借助VirtualLab Fusion，尤其是在非序列場追跡的幫助下，我們展示了邁克爾遜白光干涉儀的工作原理，并展示了其如何應(yīng)用于光學(xué)計(jì)量學(xué)。
[VirtualLab] 全場光學(xué)相干掃描干涉儀6個(gè)月前
摘要
掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性，僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時(shí)才會(huì)出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實(shí)現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測量表面平滑變化的樣品。
建模任務(wù)
