摘要

眾所周知，在干涉儀中，條紋對比度可能取決于光源的相干性。例如，在配有一定帶寬源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對比度隨著兩臂之間的光程差的增加而減小。通過測量可移動反射鏡在不同位置的干涉圖對比度，可以得出光源的相干長度。典型的傅立葉變換光譜學通常是基于這類光學裝置。

建模任務

非序列追跡

探測器附加組件

參數運行

總結-組件…

橫向干涉條紋–50?nm帶寬

橫向干涉條紋–100?nm帶寬

軸上點的輻射通量測量

VirtualLab Fusion 技術

文件信息

更多閱覽

-基于激光的邁克爾遜干涉儀與干涉條紋探測

-馬赫-曾德爾干涉儀

-用于光學測試的斐索干涉儀