關(guān)鍵詞:顯微鏡;靜力學(xué)分析;Nastran;優(yōu)化設(shè)計;0 引言由于顯微鏡機構(gòu)的復(fù)雜性,用傳統(tǒng)方法和手段設(shè)計和分析容易導(dǎo)致設(shè)計不夠準確。因此顯微鏡支架部件的結(jié)構(gòu)設(shè)計尤為重要。目前顯微鏡支架部件可通過簡化公式、試驗以及有限元分析進行評估和優(yōu)化設(shè)計。顯微鏡產(chǎn)品設(shè)計除了利用三維軟件建立模型外,有限元分析屬于最關(guān)鍵的環(huán)節(jié)。