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本節介紹一個Fizeau干涉儀的模擬實例。干涉儀有多種類型，這里介紹的Fizeau干涉儀是一種干涉儀，廣泛用于測量光學元件和透射波面的表面精度。 這里我們介紹一個使用Fizeau干涉儀來測量透鏡的透射波面變形的例子。以下是被測試的系統。 使用一個有效直徑為50毫米、焦距為578毫米的平凸透鏡。為了表示不對稱的像差，用Zernike條紋相位面來增加像散和慧差像差。

用于光學檢測的Fizeau干涉儀 在非序列場追跡技術的幫助下，建立了一個Fizeau干涉儀，并顯示了幾個不同測試面的干涉條紋。 可發送信息了解更多詳情: support@infotek.com.cn / support@infocrops.com

在第一份“最佳”時事通訊中，我們關注的是Fizeau和Mach-Zehnder干涉儀。 用于光學測量的Fizeau 干涉儀 利用非序列場追跡技術，模擬了一個Fizeau干涉儀，并得到不同測試表面的干涉圖案。

用于光學測量的Fizeau 干涉儀 在第一份“最佳”時事通訊中，我們關注的是Fizeau和Mach-Zehnder干涉儀。

用于光學測量的Fizeau 干涉儀 利用非序列場追跡技術，模擬了一個Fizeau干涉儀，并得到不同測試表面的干涉圖案。

用于光學測量的Fizeau 干涉儀 利用非序列場追跡技術，模擬了一個Fizeau干涉儀，并得到不同測試表面的干涉圖案。 Mach-Zehnder 干涉儀 在VirtualLab Fusion中，我們構建了一套Mach-Zehnder干涉儀，并展示了元件的傾斜和移動如何影響干涉圖案。

用于光學檢測的Fizeau干涉儀 在非序列場追跡技術的幫助下，建立了一個Fizeau干涉儀，并顯示了幾個不同測試面的干涉條紋。

Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration - Fizeau Interferometer for Optical Testing

摘要白光干涉儀是一種非接觸測量技術，用于如表面輪廓或微小位移的高精度測量。利用一個邁克爾遜干涉儀系統和一個氙燈光源在VirtualLab Fusion中仿真了一個白光干涉儀。建模中考慮光源中有限相干長度等光譜特性，結果表明只有當兩臂的路徑長度基本相同時才會出現干涉圖樣。 2. 建模任務 3.

因此，對準直度的測量也很重要，而剪切干涉法經常被用于此類任務中。 在此示例中，我們演示了如何構建剪切干涉儀并將其用于測量準直。 通過改變光束準直系統(例如該示例中兩個透鏡之間的距離)，我們觀察到了來自剪切干涉儀的干涉條紋。

：位置和方向[教程視頻] 設置組件的非序列通道? 非序列追跡的通道設置[用戶案例] VirtualLab Fusion技術 文件信息應用用例進一步閱讀 -基于激光的邁克爾遜干涉儀和干涉條紋觀測-用于光學測試的Fizeau干涉儀

更多閱讀 - Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration - Fizeau Interferometer for Optical Testing

摘要斐索干涉儀是工業上常見的光學計量設備，通常用于高精度測試光學表面的質量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下，我們建立了一個Fizeau干涉儀，并將其用于測試不同的光學表面，例如圓柱形和球形表面。結果表明，表面輪廓對干涉條紋的產生是敏感的。

建模任務 元件傾斜引起的干涉條紋 元件移位引起的干涉條紋 文件信息 更多閱覽- Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration- Fizeau Interferometer for Optical

-用于光學測試的Fizeau干涉儀

摘要 斐索干涉儀是工業上常見的光學計量設備，通常用于高精度測試光學表面的質量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下，我們建立了一個Fizeau干涉儀，并將其用于測試不同的光學表面，例如圓柱形和球形表面。結果表明，表面輪廓對干涉條紋的產生是敏感的。

因此，對準直度的測量也很重要，而剪切干涉法經常被用于此類任務中。 在此示例中，我們演示了如何構建剪切干涉儀并將其用于測量準直。 通過改變光束準直系統(例如該示例中兩個透鏡之間的距離)，我們觀察到了來自剪切干涉儀的干涉條紋。

摘要 掃描干涉儀是用于執行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性，僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此，它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。

摘要 掃描干涉儀是用于執行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性，僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此，它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。

我們將忽略準直光學，而是從入射光束進入干涉儀開始。OpticStudio可以透過兩種方式定義寬帶光源：透過在適當範圍內定義多個系統波長，或者透過將關聯的相干長度定義為光源的屬性。