使用干涉儀的光學測量

             光學計量學是精確測量的重要技術。例如,它經常被用于表面測試,因此在質量控制中發揮著重要作用。VirtualLab Fusion可以幫助您對各種類型干涉儀進行建模,并將不同的光學表面和系統部件、甚至是傾斜和位移等對準錯誤都包含在模擬中。我們以兩個廣泛使用的干涉儀--Mach-Zehnder型和Fizeau型為例進行演示。 

 

                                           Mach-Zehnder干涉儀

 

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我們在VirtualLab Fusion中建立了一個Mach-Zehnder干涉儀,并演示了元件的傾斜和位移是如何影響干涉條紋的。

 

                                         用于光學檢測的Fizeau干涉儀

   

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在非序列場追跡技術的幫助下,建立了一個Fizeau干涉儀,并顯示了幾個不同測試面的干涉條紋。

 

可發送信息了解更多詳情: support@infotek.com.cn / support@infocrops.com

網站: http://www.infotek.com.cn / http://www.honglun-seminary.com

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