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關注創建者:匿名 創建時間:2022-04-02

器件封裝的實例教程
華北電力大學新能源電力系統國家重點實驗室
原位 | DOI:10.13334/j.0258-8013.pcsee.230136
摘要:半導體技術的進步使得芯片的尺寸得以不斷縮小,倒逼著封裝技術的發展和進步,也由此產生了各種各樣的封裝 形式。當前功率器件的設計和發展具有低電感、高散熱和高絕緣能力的屬性特征,器件封裝上呈現出模塊化、多功能化 和體積緊湊化的發展趨勢。為實現封裝器件低電感設計,器件封裝結構更加緊湊,而芯片電壓等級和封裝模塊的功率密度持續提高,給封裝絕緣和器件散熱帶來挑戰。在有限的封 裝空間內,如何把芯片的耗散熱及時高效的釋放到外界環境中以降低芯片結溫及器件內部各封裝材料的工作溫度,已成 為當前功率器件封裝設計階段需要考慮的重要問題之一。本文聚焦于功率器件封裝結構的散熱方面,針對功率半導體器件在散熱路徑方面的結構設計進行歸納總結。通過對國內外 功率器件封裝結構設計的綜述,梳理了功率器件封裝結構設計過程中在散熱方面的考慮及封裝散熱特點,并根據功率器 件散熱特點對功率器件封裝結構類型進行了分類。最后,基于降低封裝結構散熱熱阻、提高器件散熱能力的目的,從高導熱封裝材料和連接工藝、芯片面接觸連接、增加散熱路徑 以及縮短散熱路程四個方面對功率器件封裝結構設計在散熱方面未來的發展趨勢進行了展望。
展開 orcad中單個器件的PCB封裝應該怎么處理呢?
答:第一步,雙擊需要匹配的元器件,編輯改元器件的屬性;
第二步,在彈出的元器件的屬性中,點擊Pivot菜單,可以對屬性框進行橫向的或者是豎向的顯示;
第三步,找到PCB Footprint那一欄,填入該元器件需要匹配的PCB封裝名稱,即可完成對改器件的PCB封裝匹配,如圖3-46所示;
圖3-46元器件單個PCB封裝匹配示意圖
第四步,對于IC類的器件,由于它的封裝是固定的,我們再創建原理圖庫封裝的時候,就把該元器件PCB封裝名稱填上,這樣后期就不用再匹配PCB封裝了, 如圖3-47所示。
圖3-47元器件封裝庫封裝名稱匹配示意圖
文凡億教育原創技術文章,轉載請注明來源
展開 orcad中怎么批量對元器件的PCB封裝進行匹配?
答:第一步,切換到原理圖目錄頁,選中原理圖根目錄或者是其中某一頁的原理圖,點擊右鍵,編輯器件屬性,如圖3-48所示;
圖3-48 編輯元器件屬性示意圖
第二步,打開器件的屬性框,找到PCB Footprint這一欄,批量填入元器件的封裝即可,這樣原理圖中所有的器件封裝都匹配了,如圖3-49所示:
圖3-49 編輯元器件屬性示意圖
第三步,對于所有的封裝,我們可以在原理圖繪制頁面進行顯示,操作如下:任意打開一頁原理圖頁面,框選所有的元器件,點擊右鍵 ,選擇編輯屬性Edit-Properties,如圖3-50所示,選擇PCB Footprint這一欄,點擊右鍵,選擇Display選項,在彈出的界面中選擇Value Only,如圖3-51所示,即可將封裝名稱顯示在原理圖頁面上。
圖3-50 編輯整頁元器件屬性示意圖
圖3-51 顯示原理圖封裝示意圖
文凡億教育原創技術文章,轉載請注明來源
展開 元器件封裝的構建是PCB設計中的一個重要環節,小小的一個錯誤很可能導致整個板子都不能工作以及工期的嚴重延誤。
常規器件的封裝庫一般CAD工具都有自帶,也可以從器件原廠的設計文檔、參考設計源圖中獲取。
元器件封裝的構建是PCB設計中的一個重要環節,小小的一個錯誤很可能導致整個板子都不能工作以及工期的嚴重延誤。
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共封裝光學器件旨在應對現代電子產品的功耗和帶寬挑戰,并被視為光子集成電路開發的重要基石。一些主要應用包括增強現實、虛擬現實、圖像傳感器和光通信等。
利用共封裝光學技術,我們能夠耦合兩個不同尺寸的波導(輸入波導和輸出波導),使光在兩者之間傳輸時具有低衰減或最小的信號損耗。這些連接結構有望成為光子PIC的基本構建單元,從而可用光子元件取代電子元件。
長期致力于高頻高密度電力電子變換技術、寬禁帶器件及功率模塊封裝集成與應用等方向研究。現任中國電源學會競賽委員會副主任委員、磁技術專委會副主任委員等職務,并擔任IEEE Transactions on Power Electronics Letters聯合主編、CPSS Transactions on Power Electronics and Applications編委。
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首先,使用Icepak對整個封裝進行熱仿真。
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光 IO 設計
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光子集成電路優化
AI驅動的光子集成電路優化。
此外,器件和封裝之間的連接也會削弱,甚至斷裂。每當您聽到筆記本電腦風扇啟動或感受到手機背面發熱時,就是熱管理在發揮作用。
電子設備通過電路和電子組件傳遞電流來工作。電線、PCB導線、連接、芯片封裝和組件都會在電流流經電路時發熱。如果沒有有效管理熱量,電子設備各區域的溫度就會上升,從而改變材料屬性。
近年來廣泛應用的P-BGA(塑封球柵陣列)封裝器件對此更為敏感。其內部不僅銀膠會吸濕,連承載芯片的有機基板本身也易吸收水分。如果存儲和生產過程中的濕度管控不當,“爆米花”現象便頻繁發生。
T3ster 通過導入生成的帶有器件封裝的結構函數測試結果并自動進行熱模型校準,通過對某些不確定參數進行合理設計并計算,得到 FloTHERM 熱模型和 T3ster 模型匹配的結果,最終達到精確建模和驗證的目的。
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氮化硼可以作為陶瓷基板、芯片載體、散熱器等器件的封裝材料,提高了電子器件的可靠性和穩定性。
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在電力電子領域,高功率密度的電力電子器件會產生大量的熱量,需要有效的散熱方案來確保器件的可靠性。氮化硼具有高導熱性和優良的熱穩定性,被用作電力電子器件的散熱材料,能夠有效地將熱量傳遞并散發出去,提高了器件的可靠性和壽命。
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在高溫高濕環境下,半導體器件的封裝材料可能會受潮,導致內部電路短路或腐蝕;在低溫低濕環境下,可能出現材料脆化、靜電積累等問題。溫濕度測試設備能夠有效檢測這些潛在風險,廣泛應用于消費電子、通信設備等領域,確保產品在不同氣候環境下的可靠性。
FPC 溫濕度彎折試驗機 WH-1413:從功能上看,它主要用于 FPC(柔性電路板)在溫濕度環境下的彎折測試。
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雖然尚無行業標準,但耦合是通過光柵耦合器、衰減耦合器或端面耦合器等標準器件實現的。端面耦合器是制造在芯片邊緣的,將光纖靠近芯片邊緣,并采用大尺寸模斑轉換器(SSC)將較大的光纖模式絕熱轉換為波導模式。