自動光學檢測
關注創建者：匿名 創建時間：2026-01-04
自動光學檢測的實例教程
2021年排名第三的精智達，是近年來在AMOLED行業發展較快的本土設備商之一，Cell/Module制程檢測設備布局完整，AVI、API、老化設備、OTP設備、信號發生器均有良好業績，其AVI設備目前市占率僅次于Young Woo，是業績最多的本土設備商；
2021年排名第四的凌云光，在機器視覺技術方面擁有較強技術實力，近幾年持續布局AMOLED模組市場，目前在API領域業績較多。
2021年排名第五的韓國設備商Young Woo，專注AVI和老化設備。另外一家韓國設備廠商ANI專注API領域。在本土設備商的沖擊下，韓國設備商在中國大陸的市場占有率正逐漸降低。
圖示：AMOLED行業Cell/Module制程檢測設備商產品布局，來源：CINNO Research
AMOLED行業Cell/Module自動光學檢測設備市場分析
在Cell/Module制程檢測設備中，自動光學檢測設備是基于光學原理，檢測并分析產品缺陷、保證和提升產品良率及質量，主要包括畫質檢測設備、De-Mura設備、OTP設備等，是AMOLED行業Cell/Module制程檢測設備的主要構成，在Cell/Module制程檢測設備的投資中占比約60%以上。
根據CINNO Research統計，2017-2021年中國大陸AMOLED行業Cell/Module制程自動光學檢測設備銷售保有量前三位的設備廠商分別為華興源創、精智達和精測電子。
展開 高精度試驗T型槽平臺：三坐標測量與光學檢測專用定點基準臺
在制造檢測領域，三坐標測量與光學檢測是保障產品尺寸精度的核心手段，而高精度試驗T型槽平臺作為專用定點基準臺，其精度穩定性與定點可靠性直接決定檢
三、光學檢測專用方案：低干擾下的基準
1.抗反光與干擾設計：平臺表面采用亞光發黑處理，反射率≤5%，避免光學檢測過程中產生反光干擾，確保成像清晰；選用無磁鑄鐵材質，減少對光學檢測設備的電磁干擾，保障檢測信號穩定。
2.熱穩定性強化：選用低熱膨脹系數材質（8-10×10??/℃），可適配20±2℃的恒溫檢測環境，減少溫度變化導致的熱變形，確保檢測精度穩定；臺面邊緣做倒角處理，避免銳邊產生光影干擾。
3.兼容性適配：預留標準化接口，方便對接光學顯微鏡、激光掃描儀等檢測設備；T型槽支持多規格工裝安裝，可適配不同尺寸的工件檢測，提升平臺通用性。
綜上，高精度試驗T型槽平臺通過針對性的材質優化、結構設計與低干擾配置，可適配三坐標測量與光學檢測的專用需求?？茖W選用專用平臺不僅能保障檢測數據的可靠，還能提升檢測效率。在制造業向高精度、高附加值轉型的趨勢下，專用高精度試驗T型槽平臺成為檢測的核心裝備，對推動產品品質升級具有重要意義。
展開 在現代光學工業中，精密光學元件的制作是一項重要任務。而粗糙度是影響光學曲面質量的重要因素之一。為確保光學元件的卓越性能，輪廓儀成為不可或缺的檢測工具。它以其超高精度、全自動化、多功能性和數據分析的特點，實現非球面鏡片的高精度專業檢測，解讀光學曲面的微妙變化。
光學鏡片曲面測量難點
1、幾何復雜性
光學鏡片具有各種各樣的幾何形狀，包括球面、非球面和自由曲面等。不同幾何形狀對測量方法和設備的要求各不相同，增加了測量的難度。
2、表面反射和折射
光學鏡片曲面的高反射和折射特性會影響信號的傳輸和測量結果的準確性。需要采取適當的技術手段或選擇合適的涂層材料來減小這些影響。
3、鏡片尺寸和材料
大尺寸和特殊材料的光學鏡片曲面測量更具挑戰性。需要使用大型、高精度的測量設備，并制定相應的測量策略和方法。
傳統的測量方法通常需要操作人員進行手動測量，不僅費時費力，而且容易受到人為因素的影響。而SJ5900光學型輪廓儀配備了高精度的傳感器和智能化的軟件，專業檢測光學鏡片曲面，實現自動化測量、數據分析，大大提高了測量的效率和一致性。自動化測量不僅可以減少人力投入，還能夠避免由于人為操作而引起的誤差。
直線度≤0.25μm/200mm，大范圍形貌微觀輪廓Pt≤0.3μm，測力最小0.5mN，無視微小凹凸、起伏，輕松應對復雜的曲率和曲面結構，準確檢測微觀輪廓參數、水平軸線夾角、光軸位置參數及頂點半徑誤差、斜率參數等。
非球面分析軟件
SJ5900光學型輪廓儀nm級高精密光學曲面測量。
展開 Lenscheck光學測試系統（傳函儀）
LenscheckVIS/LWIR是一個成本低效益高的產品，適合您的光學器件生產和產品原型檢測檢驗的需求。作為光學成像測試領域的領導者，Optikos推出這款精簡、高效、易用的產品用于產品質量檢測。Lenscheck包含了擁有專利的VideoMTF圖像分析軟件，以及實時的調制傳遞函數測試和分析。使用這種測試系統可以讓光學儀器廠家迅速、可靠的測試產品，降低產品及組件不合格的風險。
測量
● 軸上/離軸 調制傳遞函數MTF
● 離焦調制傳遞函數
● 有效焦距
● 后焦距
● 像散
● 場曲
● 位置色差，倍率色差
● 畸變
● 主光線角度
● 環繞能
● 透射率
● 相對照度
● 散射光
● 視線
特性
● 擁有專利的VideoMTF技術，可實時測量MTF
● 平臺靈活度高，可測試一系列不同參數
● 業內領先的精確度和可重復性
● 可具體配置的全自動測量程序
● 輕松切換各種波段（可見光/近紅外，短波紅外，長波紅外）
● 高分辨率的USB電機控制平移臺
● 集成的玻璃鱗片編碼器
● 50mm通光孔徑的折/反射式準直儀
● 集成的八個靶位的靶標輪和濾光片輪
● 自動定心的光學鏡頭支架
● 12bit實時視頻
展開 自動光學檢測 (AOI)
AOI使用單個 2D 相機或兩個 3D 相機拍攝 PCB 的照片。然后，程序會將電路板的照片與詳細的原理圖進行比較。如果存在與原理圖在一定程度上不匹配的電路板，則該電路板會被標記以供技術人員檢查。
AOI 可用于及早發現問題以確保盡快關閉生產。但是，它不會為電路板供電，并且可能無法 100% 覆蓋所有部件類型。
切勿僅依賴自動光學檢測。AOI 應與其他測試結合使用。我們最喜歡的一些組合是：
AOI 和飛針
AOI 和在線測試 (ICT)
AOI 和功能測試
4. 老化測試
顧名思義，老化測試是對 PCB 的一種更強烈的測試。它旨在檢測早期故障并建立負載能力。由于其強度，老化測試可能會破壞被測部件。
老化測試通過您的電子設備推動電力，通常是在其最大指定容量。電源通過電路板連續運行 48 至 168 小時。
老化測試并不適用于每個項目，但在某些地方它很有意義。它可以在產品到達客戶之前防止尷尬或危險的產品發布。
請記住，老化測試會縮短產品的使用壽命，尤其是當測試使您的電路板承受比額定值更大的壓力時。如果發現的缺陷很少或沒有發現，則可以在較短的時間內降低測試限制，以避免 PCB 承受過大的壓力。
5. X 射線檢查
也稱為 AXI，這種類型的“測試”實際上更像是一種檢查工具，至少對于大多數 ECM 而言。
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授課時間
2026/6/23（二）-6/24（三）AM 9:00-PM 16:00
授課地點
上海市嘉定區南翔銀翔路819號中暨大廈18樓1805室
課程講師
訊技光電工程團隊及資深顧問
授課時間
2026/5/21（四）-5/22（五）AM 9:00-PM 16:00
授課地點
上海市嘉定區南翔銀翔路819號中暨大廈18樓1805室
課程講師
訊技光電工程團隊及資深顧問
課程費用
3000RMB/1人次
(課程包含課程材料費、開票稅金、午餐費)
課程簡介
本課程聚焦于利用
<p><strong>引言</strong></p><p>火炮身管內壁的燒蝕、裂紋等疵病直接影響火炮使用安全性，Ф30~Ф85mm小口徑炮膛的檢測對設備的空間適配性、成像質量和三維測量能力提出嚴苛要求，而傳統內窺系統存在成像失真、適配性差、無法三維測量等痛點。Zemax作為全球領先的光學系統設計與仿真平臺，憑借建模、優化、像質評價與公差分析的全流程能力，成為攻克炮膛檢測內窺鏡光學系統設計難題的核心工具
摘要
斐索干涉儀是工業上常見的光學計量設備，通常用于高精度測試光學表面的質量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下，我們建立了一個Fizeau干涉儀，并將其用于測試不同的光學表面，例如圓柱形和球形表面。結果表明，表面輪廓對干涉條紋的產生是敏感的。
建模任務
測試表面
非序列追跡
通用探測器和探測器附加組件
總結-組件…
摘要
在半導體工業中，晶片檢測系統被用來檢測晶片上的缺陷并找到它們的位置。為了確保微結構所需的圖像分辨率，檢測系統通常使用高NA物鏡，并且工作在UV波長范圍內。作為例子，我們建立了包括高NA聚焦和光與微結構相互作用的完整晶片檢測系統的模型，并演示了成像過程。
任務描述
微結構晶圓
通過在堆棧中定義適當形狀的表面和介質來模擬諸如在晶片上使用的周期性結構的柵格結構
高精度試驗T型槽平臺：三坐標測量與光學檢測專用定點基準臺
在制造檢測領域，三坐標測量與光學檢測是保障產品尺寸精度的核心手段，而高精度試驗T型槽平臺作為專用定點基準臺，其精度穩定性與定點可靠性直接決定檢3個月前
新能源汽車試驗T型槽平臺：電池包碰撞與電機耐久測試專用方案
在新能源汽車研發與質檢領域，電池包碰撞測試與電機耐久測試是評估核心部件安全性與可靠性的關鍵環節。新能源汽車試驗T型槽平臺作為測試的核心基準載體，其結構設計與性能參數直接決定測試數據的性與測試過程的安全性。本文結合新能源汽車試驗平臺、電池包測試專用T型槽、電機耐久試驗基準臺等高頻關鍵詞，針對性解析適配電池包碰撞與電機耐久測試的專用方案
LLIS光學液位傳感器通過了ATEX、IECEx和UKCA標準認證，結合了先進的光學傳感技術與堅固的構造。其實時液體液位檢測功能在不引入點火風險的情況下安全運行，使其成為石油天然氣、石化、化工處理及環境監測等行業理想的解決方案。
本質安全為何至關重要
在爆炸區域（0區、1區或2區），即使是輕微的電氣故障也可能帶來災難性后果。LLIS傳感器嚴格依據本質安全（
關鍵詞：位移檢測；４ｆ光學系統；光強分布；ＶｉｒｔｕａｌＬａｂ Ｆｕｓｉｏｎ
摘要：為了快速、直觀地檢測出周期性結構的微小偏移，提出了基于４ｆ光學系統的周期性結構微小偏移檢測方法。 首先使用ＶｉｒｔｕａｌＬａｂ Ｆｕｓｉｏｎ 光學仿真軟件進行理論研究，建立預設偏移的周期性微結構模型，構造了光學傳遞函數，利用４ｆ空間濾波方法，獲得與周期性微結構對應的像面幅值圖。
摘要：為了快速、直觀地檢測出周期性結構的微小偏移，提出了基于４ｆ光學系統的周期性結構微小偏移檢測方法。 首先使用ＶｉｒｔｕａｌＬａｂ Ｆｕｓｉｏｎ 光學仿真軟件進行理論研究，建立預設偏移的周期性微結構模型，構造了光學傳遞函數，利用４ｆ空間濾波方法，獲得與周期性微結構對應的像面幅值圖。 經分析得出在透明基底的周期性結構中，不論尺寸大小，若偏移量在相鄰特征尺寸間距的８０％范圍內，經擬合后幅值變化與微結構偏移量呈線性關系
馬赫曾德干涉儀-Z案例分析
簡介
馬赫曾德干涉儀作為經典的分波前干涉裝置，廣泛應用于光學檢測、精密測量、光通信等領域，其核心功能是通過光束分束、反射、合束產生干涉條紋，實現對介質折射率、光路相位差、物體微小形變等物理量的精準測量。OAS 光學軟件憑借強大的光束追跡能力、高精度仿真引擎及可視化功能，可高效完成馬赫曾德干涉儀的光路建模、參數優化與干涉效果模擬，為相關領域的研發設計提供可靠的仿真工具
