電容焊反了會怎樣?華碩宣布召回部分電容焊反的電腦主板



前不久有位國外玩家發現,他的華碩ROG Z690 Hero 主板供電的一顆電容和別人的不一樣,是反裝的,當時他以為是普遍現象,直到華碩官方Facebook賬戶宣布召回這批ROG Z690 Hero主板。

電容焊反了會怎樣?華碩宣布召回部分電容焊反的電腦主板的圖1
據悉,受此電容反裝問題影響的主板有可能出現 53 糾錯代碼,個別主板甚至會出現兩枚 MOSFET 管燒壞的情況,而這兩枚 MOSFET 是負責為主板上的眾多 5v 器件供電的,其中包括 DD5 模塊子系統。嚴重的情況下可能會徹底燒板。

目前,華碩官方已經發文教網友如何辨別自己的ROG Z690 Hero 是否需要召回,如下圖:左側是裝反的,這部分主板需要召回,右側是正常的。

電容焊反了會怎樣?華碩宣布召回部分電容焊反的電腦主板的圖2


如果嫌麻煩,也可以通過序列號來辨別,凡是2021年制造的型號為:90MB18E0-MVAAY0 ,且序列號以 MA、MB 或 MC 開頭的主板都需要召回。

電容焊反了會怎樣?華碩宣布召回部分電容焊反的電腦主板的圖3


12月31日,華碩 ROG 玩家國度發表了關于 ROG MAXIMUS Z690 HERO 缺陷的聲明。官方表示,近期關于這款主板的事件,經內部調查,初步判斷為其中一條生產線有問題,導致主板出現缺陷。中國地區所售的此型號主板均未受影響。
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電容焊反了究竟會怎樣?

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常見PCB測試方法匯總

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對于 PCB 原型應用,一個先決條件是必須的:可靠的測試。這些早期產品的唯一目的是測試設計理念,以確保它們能夠合格的銷售和使用。盡管如此,PCB生產可能是不可預測的,因為有許多部件和補丁關聯。

當電子電路設計簡單時,手動目視檢查 (MVI) 足以識別潛在問題,例如短路、過載、有缺陷的連接點、零件損壞、組件丟失等。

然而,MVI 也會受到人為錯誤和疏忽的影響,可能是一項令人筋疲力盡且乏味的任務。由于故障或召回,這導致了電路缺陷和過多、不必要的成本。

PCB 制造行業和 PCB 相關制造商已經建立了多種測試和評估技術,以確保產品安全可靠。如今的測試標準可以更好地查明當前或未來可能發生故障的故障電路組件。

一個測試過程使用自動光學檢測 (AOI) 方法使目視檢查自動化。AOI 通常使用自動掃描 PCB 設備的相機來測試質量、缺失部件和潛在故障。它現在廣泛用于回流焊之前和之后,并且可以在一些拾取和點焊機上使用。

隨著表面貼裝器件 (SMD) 和球柵陣列 (BGA) 變得越來越普遍,AOI 測試的局限性變得更加明顯。AOI 通常無法識別束bundles下的缺陷。

隨著 PCB 的發展,確??煽啃缘臏y試方法也在發展。因此,開發了一種自動 X 光檢測 (AXI) 方法,該方法可以揭示隱藏的PCB組裝缺陷,即使是在多層PCB中也是如此。

在這個初始評估階段完成后,PCB 通常會通過一個精確的規格測試,在整個電路上執行。

1. 在線測試
在線測試 (ICT) 是現有最可靠的 PCB 測試類型。高價反映了這一點——數萬美元,但成本將取決于電路板和夾具尺寸等因素。

ICT,也稱為針床測試,可啟動并啟動電路板上的各個電路。在大多數情況下,該測試旨在實現 100% 的覆蓋率,但您會接近 85-90% 的覆蓋率。ICT 的好處在于您獲得的 85-90% 完全沒有人為錯誤。

該測試涉及使用以與 PCB 設計相匹配的方式布置的固定探針。探針檢查焊接連接的完整性。釘床測試儀只需將電路板向下推到探針床上即可開始測試。有在板預先設計的接入點,它允許ICT測試探針與電路連接。他們對連接施加了一定的壓力,以確保它保持完整。

ICT 通常在更大的連接和球柵陣列 (BGA) 上執行。

此測試針對“成熟”產品,預計幾乎沒有修訂。如果您沒有將可制造性設計作為目標的一部分,并且板上有合適的焊盤,則您可能無法使用在線測試。不幸的是,您無法改變主意并在生產中途轉向 ICT 戰略。

2. 飛針測試
飛針測試是一種久經考驗的選擇,比在線測試便宜。這是一種無動力類型的測試,用于檢查:
  • 打開
  • 短路
  • 抵抗性
  • 電容
  • 電感
  • 二極管問題

該測試通過在從基本 CAD 獲得的 xy 網格上使用連接到探針的針來進行。您的 ECM 程序進行協調以匹配電路板,然后運行該程序。

我們談到飛針與 ICT是一個常見的比較。每個都有優點和缺點。

在某些情況下,ICT 無需使用飛針測試,但 PCB 的設計必須適合測試夾具——這意味著更高的初始成本。與飛針測試相比,ICT 可以更快且不易出錯,因此您可能會發現額外的成本是值得的。雖然飛針測試最初可能更便宜,但對于大訂單來說,它實際上可能不太劃算。

最后要提醒一句:PCB 飛針測試不會為電路板供電。

3. 自動光學檢測 (AOI)
AOI使用單個 2D 相機或兩個 3D 相機拍攝 PCB 的照片。然后,程序會將電路板的照片與詳細的原理圖進行比較。如果存在與原理圖在一定程度上不匹配的電路板,則該電路板會被標記以供技術人員檢查。

AOI 可用于及早發現問題以確保盡快關閉生產。但是,它不會為電路板供電,并且可能無法 100% 覆蓋所有部件類型。

切勿僅依賴自動光學檢測。AOI 應與其他測試結合使用。我們最喜歡的一些組合是:
  • AOI 和飛針
  • AOI 和在線測試 (ICT)
  • AOI 和功能測試

4. 老化測試
顧名思義,老化測試是對 PCB 的一種更強烈的測試。它旨在檢測早期故障并建立負載能力。由于其強度,老化測試可能會破壞被測部件。

老化測試通過您的電子設備推動電力,通常是在其最大指定容量。電源通過電路板連續運行 48 至 168 小時。

老化測試并不適用于每個項目,但在某些地方它很有意義。它可以在產品到達客戶之前防止尷尬或危險的產品發布。

請記住,老化測試會縮短產品的使用壽命,尤其是當測試使您的電路板承受比額定值更大的壓力時。如果發現的缺陷很少或沒有發現,則可以在較短的時間內降低測試限制,以避免 PCB 承受過大的壓力。

5. X 射線檢查
也稱為 AXI,這種類型的“測試”實際上更像是一種檢查工具,至少對于大多數 ECM 而言。

在此測試期間,X 射線技術人員能夠通過查看以下內容在制造過程中及早定位缺陷:
  • 焊接連接
  • 內部痕跡

有 2D 和 3D AXI 測試,3D 提供更快的測試周期。

X 射線測試可以檢查通常隱藏在視線之外的元素,例如連接和球柵陣列封裝,在芯片封裝下方具有焊點。盡管此檢查非常有用,但它確實需要經過培訓且經驗豐富的操作員。

另請注意,您的 ECM 不一定使用 X 光機檢查電路板的每一層。的確,我們可以看穿電路板來檢測內部缺陷,但這是一個非常耗時且昂貴的過程(對 ECM 和客戶而言)。

6. 功能測試
有些客戶確實喜歡好的、老式的功能測試。您的 ECM 使用它來驗證產品是否會通電。

這個測試確實需要一些東西:
  • 外部設備
  • 燈具
  • UL、MSHA 和其他標準的要求

該功能測試及其參數通常由客戶提供。一些 ECM 可以幫助開發和設計這樣的測試。

這確實需要時間。如果您想快速將產品推出市場,這可能不是您的最佳選擇。但從質量和壽命的角度來看,功能測試可以保面子和省錢。
根據具體情況,還有其他類型的功能測試可用于檢查您的 PCB。

PCB 功能測試驗證 PCB在產品最終使用環境中的行為。功能測試、其開發和程序的要求可能因 PCB 和最終產品而異。

其他 PCB 組裝測試類型包括:
  • 可焊性測試:確保表面堅固并增加形成可靠焊點的機會
  • PCB 污染測試:檢測可能污染電路板、導致腐蝕和其他問題的大量離子
  • 顯微切片分析:調查缺陷、開路、短路和其他故障
  • 時域反射計 (TDR):查找高頻板故障,
  • 剝離測試:找出從板上剝離層壓板所需的強度度量
  • 浮焊測試:確定 PCB 孔可以抵抗的熱應力水平

功能性PCB測試的優勢包括:
  • 模擬操作環境,最大限度地降低客戶成本
  • 可以消除對昂貴的系統測試的需要
  • 可以檢查產品功能——從 50% 到 100% 的發貨產品,您需要檢查和調試它
  • 與其他測試完美搭配,例如 ICT 和飛針
  • 非常適合檢測不正確的組件值、功能故障和參數故障

PCB原型測試過程中分析的主要元件有哪些?

進行測試 PCB 原型時,意味著評估電路板的電路設計以可確保其安全性,并且設計已完全符合項目需求。該電路是電子元件的組合,這些元件將在最終 PCB 設計中通過銅線互連。

這些電子元件可以包括:
電容器 (C)
電阻器 (R)
二極管 (D)
保險絲 (F)
電感(一)
集成電路 (IC)
晶體管 (T)
繼電器 (R)

這些組件是導致 PCB 故障的重要因素,當然,在測試前首先要確保它們在理想模型時是否可以滿足需求。

例如,重要的是要考慮預期的環境條件(例如溫度和濕度)以及可用電流。問問自己:如果發生短路、過載或過熱,會發生什么?

讓我們回顧一些可用的測試方法。

PCB測試方法:
在線測試:PCB 原型評估最理想的測試之一是在線測試 (ICT)。它為 PCB 組件中的所有電子元件提供了一種可靠的、高故障覆蓋率驗證方法。ICT 通過控制和激勵 PCB 的硬件來工作,旨在提供 100% 的包容性。好處是它完全消除了人為錯誤的可能性。

測試步驟:
鋪設固定探頭、 檢查連接、開始測試。
遍歷印刷電路板的組裝點,并通過在其上施加一點張力來確保其牢固。

優勢:
BGA 或主要組件——以及在組裝完成后。

短路測試:此測試需要檢查電路中不同點之間的電阻。可以使用萬用表。許多 PCB 因短路電流而損壞。

重點關注細間距部件,例如具有 LQFP 印模的微控制器。這是因為兩個相鄰引腳之間存在誤焊接可能會損壞微控制器或其他芯片。一定要測量每個不同電壓軌對地的阻抗。

例如,PCB 中可能有 12、5 和 3V 的力網絡,其中任何一個都可能由于緊固不良或零件損壞而短路。通電時,這可能會導致部件發熱。

飛針測試:一種實用的技術,可在需要 ICT 電源的情況下從一個點到另一個點測試 PCB 探針(因此得名“飛針”)。由于不需要定制夾具,因此該測試對于原型和中小批量生產而言非常具有成本效益。

它通常用于尋找電路中的奇異問題,例如:

短路、 電容、阻抗、電感、開關、二極管。

測試步驟:
將針連接到 x-y 網格上的測試(從 AUTOCAD 文件中獲得)
探針可以在電路板周圍移動以評估交替點或個別部分

反極性測試:當插座反向接線時會發生反極性。如果您顛倒了一兩條電路線,可能就會直接冒煙了。在簡單的情況下,您可以在不更換整個電路板的情況下移除損壞的部件。

為了保護 PCB 免受反向極性的影響,可以插入一個保護二極管。但是,二極管會消耗功率。

自動光學檢測 (AOI) 測試:一種主要的視覺方法,用于使用相機檢查裝配是否存在任何明顯或新出現的問題或疑慮。

測試步驟:
拍攝電路板中的零件圖像以進行測試
將圖像與示意圖進行逐項比較
如果電路板與原理圖協調到特定速率,則測試通過

優勢:
捕捉電路板組裝過程中可能出現的早期問題。建議不要完全依賴 AOI 進行全面測試。添加 ICT 或飛針方法以獲得更可靠的結果。

老化測試:涉及通過 PCB 的電子設備運行電源,通常是在升高的溫度下,或其最大額定容量下進行。它的用途是建立和測試負載限制。但是應該小心,因為測試可能會危及 PCB 的組件。理想情況下,應盡早進行老化測試,并/或在測試和更換零件的成本較低時進行老化測試。

測試步驟:
通過 PCB 推動高功率,通常達到其極限。
電源可能會通電 48 到 168 小時
如果電路板出現短路,則稱為“初期失效率”

優勢:
請注意,此測試并非適用于所有條件的 PCB。老化測試會縮短 PCB 的使用壽命。所以,它應該只在必要時使用,而不是毫無意義。

它可能對以下方面有用:
在發布之前盡可能測試項目, 在裝配過程中及早發現潛在問題。

填充元件測試:花費數小時調查微控制器為何忽略啟動,結果卻發現是因為晶振的電容未安裝,這可能令人沮喪。但是當需要考慮多個部分時,很容易遺漏一兩個組件。使用 PCB 原型時,您首先要確保組件適合您計劃設計的電路板。

在開始交叉檢查每個組件之前,請確保您使用的是正確的物料清單。

X 射線檢測測試:X 射線可以在組裝過程的早期定位缺陷,這些缺陷是人眼無法檢測到的,例如芯片束下方的缺陷。有 2-D和 3-D AXI 測試,后者為 PCB 原型提供更快的測試周期。

測試:
焊接連接、 鼓包、內部傷痕。

優勢:
請注意,與老化測試類似,X 射線檢查會縮短 PCB 的使用壽命,因此僅在利大于弊時進行測試,例如:

檢查沒有 X 射線就無法看到的電路板層
需要高級技術人員

功能測試 (FCT):通常模擬被測產品的操作環境,并作為最終制造前的最后一步完成。這些參數通常由客戶提供,并且可能取決于 PCB 的最終用途。通常將計算機連接到測試點以確定 PCB 是否滿足其預期容量。

測試的先決條件:
由客戶提供、 可能包括 UL、MSHA 或其他標準的要求、包括固定裝置或外部設備。

優勢:
發貨前的最后一次測試、 質量保證,但可能很耗時、額外的 PCB 測試。

除了上面提到的那些之外,還有幾種類型的測試,這取決于具體情況。

其他測試:
PCB 污染測試:識別板上可能導致污染的導電離子
可焊性測試:用于檢查表面板的耐用性并確??煽康暮更c
顯微切片分析:檢測缺陷、故障、短路或故障
剝離測試:找出從板上剝離層壓板所需的強度度量
浮焊測試:確定 PCB 孔可以抵抗的熱應力水平

優勢:
不需要客戶支持、 與不同的測試一起使用,例如 ICT 或飛針,以獲得額外的保證。

識別故障:
在為您的項目決定理想的測試之前,請確定 PCB 的用途。權衡可用的不同測試的優缺點,包括它們的成本。有時您可能想要執行多個測試。通常,電子合同制造商會幫助您確定最好的做法。

來源:網絡內容綜合

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