光譜分析技術(shù)
關(guān)注創(chuàng)建者：匿名 創(chuàng)建時間：2026-01-04
光譜分析技術(shù)的視頻教程
Optistruct free body 技術(shù)，快速局部模型分析，可與拓?fù)鋬?yōu)化技術(shù)聯(lián)合使用
通過optistruct free body 技術(shù)，可以提取整體模型中的物理量，作為邊界條件加入到局部模型中，快速進行局部模型分析。也可和拓?fù)鋬?yōu)化技術(shù)進行聯(lián)合使用，針對特定的零部件進行優(yōu)化，節(jié)省優(yōu)化迭代時間。
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【技術(shù)鄰直播四場】ABAQUS復(fù)合材料分析培訓(xùn)-一次掌握Abaqus各類復(fù)合材料結(jié)構(gòu)建模與分析
直播內(nèi)容簡介： 第一場直播內(nèi)容為： 1.傳統(tǒng)復(fù)合材料結(jié)構(gòu)建模方式介紹 2.Composite layup快速建模 第二場直播內(nèi)容： 9月15日 1.復(fù)合材料加筋板結(jié)構(gòu)建模分析（3種加筋方式） 2.蜂窩夾層結(jié)構(gòu)建模與分析：等效彈性常數(shù)建模/蜂窩細(xì)節(jié)建模 3.圓柱坐標(biāo)系/離散坐標(biāo)系在復(fù)合材料建模中的應(yīng)用 第三場直播內(nèi)容： 9月22日
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CEL分析技術(shù)的理論與應(yīng)用
本課程通過理論結(jié)合案例的方法對CEL技術(shù)進行了介紹，通過本課程你可以學(xué)到： CEL方法基本理論； Volume Fraction Tool方法； Abaqus的更多操作小技巧。
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光譜分析技術(shù)的實例教程
關(guān)鍵詞：Gaussian、GaussView、傅里葉紅外光譜（FTIR）、光譜分析、量子化學(xué)
近年來，紅外光譜分析技術(shù)在材料科學(xué)和化學(xué)領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。紅外光譜是一種基于物質(zhì)分子振動模式的分析方法，可以用于研究物質(zhì)的結(jié)構(gòu)、組成和性質(zhì)。然而在實驗中，由于各種原因(如儀器限制、環(huán)境干擾等),實際測量到的光譜可能會與理論預(yù)測有所偏差。為了解決這個問題，我們可以使用Gaussian軟件對材料的紅外光譜進行模擬。通過對已知物質(zhì)的紅外光譜數(shù)據(jù)進行擬合，我們可以生成一個描述物質(zhì)紅外光譜行為的模型。然后，將這個模型應(yīng)用于實際測量的光譜數(shù)據(jù)，就可以得到對實驗光譜峰震動情況的分析結(jié)果。本文以將介紹如何使用Gaussian軟件模擬材料的紅外光譜，并利用這個光譜來分析實驗的光譜峰的震動情況。
圖1 苯酚使用KBr壓片法測試所得的FTIR圖譜
圖1為苯酚使用KBr壓片法測試所得的FTIR圖譜，由圖可以看到苯酚這個極為簡單的小分子材料出現(xiàn)了很多峰，在缺乏一定的分析化學(xué)能力的情況下難以正確的對其進行分析。因此我們首先使用GaussView軟件對苯酚進行建模，如圖2所示。
圖2 苯酚模型
首先對結(jié)構(gòu)進行優(yōu)化，并且對優(yōu)化后結(jié)構(gòu)進行紅外光譜計算，計算完成后將log/out文件使用GaussView打開，調(diào)出光譜曲線，如圖3所示。理論模擬的光譜和實驗光譜常有一定整體的偏差，為了能夠盡量相符，我們往往需要一些調(diào)節(jié)：一是對光譜的高度乘上刻度系數(shù)，使模擬光譜的峰高能和實驗光譜有較好的對應(yīng)（通常僅進行定性符合）；另外就是對模擬光譜的橫坐標(biāo)也進行scale或整體加減一個數(shù)值，以消除躍遷能量計算的系統(tǒng)性的偏差；此外，有時候還需要調(diào)節(jié)FWHM和展寬函數(shù)使結(jié)果更好地接近實驗譜。
展開 important;">高光譜與多光譜各具特點，選擇時應(yīng)綜合考慮具體需求、預(yù)算、技術(shù)能力與實時性要求。大面積快速監(jiān)測宜用多光譜；精細(xì)識別與高精度分析則優(yōu)先考慮高光譜。</p>
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展開 光學(xué)測量＞光譜儀
任務(wù)/系統(tǒng)描述
亮點
復(fù)雜光學(xué)系統(tǒng)的高性能分析
使用嚴(yán)格算法對光柵進行嚴(yán)格矢量分析
說明：光源
說明：孔徑
說明：拋物面反射鏡
說明：光柵
說明：探測器
結(jié)果：3D光線追跡
結(jié)果：波長的變化
由于波長的變化，入瞳的像可經(jīng)過探測器孔徑進行掃描
結(jié)果：單色儀的分辨率
光譜分辨率的定義：
光譜分辨率：A=1244
文件&技術(shù)信息
光譜儀有許多種類，包括我們常用的手持式光譜儀與直讀光譜儀，便攜式光譜儀等，那么，你知道手持式光譜儀與直讀光譜儀有什么區(qū)別嗎?
直讀光譜儀:
? 直讀光譜儀是定量分析，測量結(jié)果準(zhǔn)確，重復(fù)性好，長期穩(wěn)定。
手持式光譜儀:
手持式光譜儀是定性和半定量分析。用于標(biāo)識材料等級。該測試很方便，但是不能測量精度要求很高的材料。
一、檢測試樣的大小不同
直讀光譜儀對樣品量有嚴(yán)格的要求。樣品必須至少具有不小于激發(fā)腔的平坦表面，并且厚度不得小于1.5mm(通常建議不小于3mm)，并且手持式光譜儀的尺寸和厚度應(yīng)與樣品。沒有如此高的要求，可以測試普通樣品。
二、檢測環(huán)境不同
??直讀光譜儀只能在實驗室使用，環(huán)境溫度和濕度的波動不應(yīng)太大，嚴(yán)重影響檢測效果;手持式光譜儀可以檢測室內(nèi)或室外工作。
三、測試樣品的損壞程度不同
??直讀光譜儀是一種破壞性測試。在激發(fā)過程中，將在材料表面形成直徑約8毫米的小凹坑。直讀光譜儀不適用于貴重和裝飾性金屬。手持式光譜儀是非破壞性測試。測試本身不會影響樣品。有任何不良影響。在靈活性方面，手持式光譜儀還具有很高的利用率。用于測試樣品的直讀光譜儀的尺寸必須適合該表。測試前必須銷毀過多和較長的樣本。
四、數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性不同
??碳和氮的兩個元素只能通過直讀光譜儀檢測。建議使用直讀光譜儀來準(zhǔn)確地確定非金屬元素，例如磷和硫，以及對準(zhǔn)確性有較高要求的地方(要求數(shù)據(jù)波動低于0.05%);通常建議使用手持式光譜儀進行品牌識別或其他定性和半定性定量精度要求。
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</figure><p><br></p><p><strong>（1）可見光-近紅外</strong>（VIS-NIR, 380-1500nm）</p><p>應(yīng)用于農(nóng)業(yè)葉綠素檢測、醫(yī)學(xué)皮膚成像、消費電子，如手機多光譜傳感器。</p><p><strong>（2）短波紅外</strong>（SWIR, 1500-2500nm）</p><p>應(yīng)用于礦物成分分析、塑料分揀、夜間農(nóng)業(yè)檢測，如植被水分評估等。</p><p><strong>（3）中波紅外</strong>（MWIR, 3-5μm）</p><p>應(yīng)用于工業(yè)熱成像、軍事目標(biāo)識別，如偽裝探測等。</p><p><strong>（4）長波紅外</strong>（LWIR, 8-14μm）</p><p>應(yīng)用于天文觀測、大氣成分分析，如溫室氣體檢測等。</p><p><strong> 結(jié)語</strong></p><p>光譜的精細(xì)分類不僅揭示了物質(zhì)與能量的本質(zhì)聯(lián)系，更推動了從微觀粒子到宏觀宇宙的跨尺度探索，每一波段都是自然法則的獨特注腳。人類對光譜的解析，既是對物理規(guī)律的解碼，也是技術(shù)創(chuàng)新的源泉，光譜技術(shù)始終在科學(xué)探索與實際應(yīng)用間架起橋梁。未來，隨著探測器靈敏度的突破與多波段融合技術(shù)的發(fā)展，光譜分析將繼續(xù)在生命科學(xué)、材料工程、氣候變化等前沿領(lǐng)域釋放無限可能，成為人類認(rèn)知世界、改造世界的核心工具之一。</p><p><br></p><p>?文章轉(zhuǎn)載自CMOS相機技術(shù)與應(yīng)用產(chǎn)業(yè)園，僅分享，侵權(quán)刪。
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在工業(yè)制造與資源勘探的快節(jié)奏環(huán)境中，傳統(tǒng)的實驗室送樣檢測因漫長的周期，往往成為制約決策效率的瓶頸，Evident（原奧林巴斯科學(xué)解決方案部門）推出的Vanta系列手持式X射線熒光（XRF）分析儀，通過將實驗室級的分析能力集成于堅固便攜的手持設(shè)備中，徹底改變了這一現(xiàn)狀，該系列設(shè)備不僅實現(xiàn)了對從鎂（Mg）到鈾（U）全元素范圍的精準(zhǔn)檢測，更憑借卓越的耐用性和智能化的數(shù)據(jù)處理能力，成為了工業(yè)現(xiàn)場質(zhì)量控制
授課時間
2026/6/23（二）-6/24（三）AM 9:00-PM 16:00
授課地點
上海市嘉定區(qū)南翔銀翔路819號中暨大廈18樓1805室
課程講師
訊技光電工程團隊及資深顧問
未來，隨著探測器靈敏度的突破與多波段融合技術(shù)的發(fā)展，光譜分析將繼續(xù)在生命科學(xué)、材料工程、氣候變化等前沿領(lǐng)域釋放無限可能，成為人類認(rèn)知世界、改造世界的核心工具之一。</p><p><br></p><p>?文章轉(zhuǎn)載自CMOS相機技術(shù)與應(yīng)用產(chǎn)業(yè)園，僅分享，侵權(quán)刪。
一、高溫高濕泛白的3大核心成因
PC真空鍍鋁后在高溫高濕環(huán)境下泛白，并非單一因素導(dǎo)致，而是“鋁層特性+界面結(jié)構(gòu)+環(huán)境侵蝕”三者共同作用的結(jié)果，其中這3點是關(guān)鍵：
1、鋁層氧化加速
鋁是典型的高活性金屬，即便在真空環(huán)境下完成鍍覆，表面也會快速形成一層極薄的氧化膜（Al?O?）。正常環(huán)境下，這層氧化膜厚度不足10nm，透明且致密，基本不影響外觀；但在高溫環(huán)境（溫度
摘要
可變角度橢圓偏振光譜儀（VASE）是一種常用的技術(shù)，由于其對光學(xué)參數(shù)的微小變化具有高靈敏度，而被用在許多使用薄膜結(jié)構(gòu)的應(yīng)用中，如半導(dǎo)體、光學(xué)涂層、數(shù)據(jù)存儲、平板制造等。在本用例中，我們演示了VirtualLab Fusion中的橢圓偏振分析器在二氧化硅（SiO2）涂層上的使用。對于系統(tǒng)的參數(shù)，我們參考Woollam等人的工作 "可變角度橢圓偏振光譜儀（VASE）概述。I.
摘要
可變角度橢圓偏振光譜儀（VASE）是一種常用的技術(shù)，由于其對光學(xué)參數(shù)的微小變化具有高靈敏度，而被用在許多使用薄膜結(jié)構(gòu)的應(yīng)用中，如半導(dǎo)體、光學(xué)涂層、數(shù)據(jù)存儲、平板制造等。在本用例中，我們演示了VirtualLab Fusion中的橢圓偏振分析器在二氧化硅（SiO2）涂層上的使用。對于系統(tǒng)的參數(shù)，我們參考Woollam等人的工作 "可變角度橢圓偏振光譜儀（VASE）概述。I. 基本理論和典型應(yīng)用
各位技術(shù)鄰的同行們，科研、工業(yè)檢測、環(huán)境監(jiān)測中，進口光譜儀價高難維護、傳統(tǒng)設(shè)備數(shù)據(jù)失真、定制周期長等問題，想必大家都遇到過。
今天給大家安利一款實測過關(guān)的國產(chǎn)光譜儀，適配科研材料表征、工業(yè)質(zhì)量把控等場景，性價比拉滿，核心配置媲美進口，徹底解決行業(yè)痛點！
做技術(shù)的都懂，一款好用的光譜儀，能省時間、省成本、少踩坑，不用再為進口設(shè)備價高、傳統(tǒng)設(shè)備不穩(wěn)發(fā)愁
點擊藍(lán)字 關(guān)注我們
01/簡介
隨著集成電路制程向3nm及以下先進節(jié)點演進，光刻成像系統(tǒng)中的光學(xué)衍射、掩模三維效應(yīng)與光致抗蝕劑非線性響應(yīng)相互疊加，使光源-掩模協(xié)同優(yōu)化（SMO）成為保障圖形保真度與芯片良率的核心技術(shù)。傳統(tǒng)線性壓縮感知（CS）驅(qū)動的SMO技術(shù)，因難以精準(zhǔn)刻畫掩模與成像之間的強非線性映射關(guān)系，在復(fù)雜圖形優(yōu)化中常面臨精度不足、工藝窗口收縮等問題
編輯時間：2025年3月10日
一、引言
在工業(yè)數(shù)字化快速發(fā)展的今天，CAD模型已成為設(shè)計與仿真流程中不可或缺的核心資產(chǎn)。然而，不同CAD軟件生成的格式各異，導(dǎo)致數(shù)據(jù)在不同系統(tǒng)間流轉(zhuǎn)時經(jīng)常面臨格式不兼容、加載緩慢、傳輸困難等問題。為了解決這一痛點，戴西（上海）軟件有限公司推出了 DWS.3DViz_CAD輕量化格式轉(zhuǎn)換軟件，旨在將主流CAD格式高效轉(zhuǎn)換為統(tǒng)一輕量化格式（.dfx），打通設(shè)計與仿真之間的數(shù)據(jù)壁壘
01/簡介
當(dāng)前，壓縮感知光源優(yōu)化的仿真技術(shù)已實現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化與精準(zhǔn)化雙重突破，為技術(shù)落地奠定堅實基礎(chǔ)。仿真條件層面，通過構(gòu)建統(tǒng)一的光源參數(shù)基準(zhǔn)、掩模圖形庫及光學(xué)成像模型，建立了可復(fù)現(xiàn)的標(biāo)準(zhǔn)化仿真環(huán)境，解決了傳統(tǒng)仿真中參數(shù)離散導(dǎo)致的對比誤差問題。
接下來以豎直線條為目標(biāo)圖形進行仿真分析，對比分析在不同變量下曝光圖像的情況。
02/仿真條件
