在工業(yè)制造與資源勘探的快節(jié)奏環(huán)境中，傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)室送樣檢測(cè)因漫長(zhǎng)的周期，往往成為制約決策效率的瓶頸，Evident（原奧林巴斯科學(xué)解決方案部門）推出的Vanta系列手持式X射線熒光（XRF）分析儀，通過(guò)將實(shí)驗(yàn)室級(jí)的分析能力集成于堅(jiān)固便攜的手持設(shè)備中，徹底改變了這一現(xiàn)狀，該系列設(shè)備不僅實(shí)現(xiàn)了對(duì)從鎂（Mg）到鈾（U）全元素范圍的精準(zhǔn)檢測(cè)，更憑借卓越的耐用性和智能化的數(shù)據(jù)處理能力，成為了工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制

授課時(shí)間 2026/6/23（二）-6/24（三）AM 9:00-PM 16:00 授課地點(diǎn) 上海市嘉定區(qū)南翔銀翔路819號(hào)中暨大廈18樓1805室 課程講師 訊技光電工程團(tuán)隊(duì)及資深顧問(wèn)

摘要 可變角度橢圓偏振光譜儀（VASE）是一種常用的技術(shù)，由于其對(duì)光學(xué)參數(shù)的微小變化具有高靈敏度，而被用在許多使用薄膜結(jié)構(gòu)的應(yīng)用中，如半導(dǎo)體、光學(xué)涂層、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、平板制造等。在本用例中，我們演示了VirtualLab Fusion中的橢圓偏振分析器在二氧化硅（SiO2）涂層上的使用。對(duì)于系統(tǒng)的參數(shù)，我們參考Woollam等人的工作 "可變角度橢圓偏振光譜儀（VASE）概述。I.

摘要 可變角度橢圓偏振光譜儀（VASE）是一種常用的技術(shù)，由于其對(duì)光學(xué)參數(shù)的微小變化具有高靈敏度，而被用在許多使用薄膜結(jié)構(gòu)的應(yīng)用中，如半導(dǎo)體、光學(xué)涂層、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、平板制造等。在本用例中，我們演示了VirtualLab Fusion中的橢圓偏振分析器在二氧化硅（SiO2）涂層上的使用。對(duì)于系統(tǒng)的參數(shù)，我們參考Woollam等人的工作 "可變角度橢圓偏振光譜儀（VASE）概述。I. 基本理論和典型應(yīng)用

摘要 眾所周知，在干涉儀中，條紋對(duì)比度可能取決于光源的相干性。例如，在配有一定帶寬源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對(duì)比度隨著兩臂之間的光程差的增加而減小。通過(guò)測(cè)量可移動(dòng)反射鏡在不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得出光源的相干長(zhǎng)度。典型的傅立葉變換光譜學(xué)通常是基于這類光學(xué)裝置。 建模任務(wù) 非序列追跡 探測(cè)器附加組件 參數(shù)運(yùn)行 總結(jié)-組件…

摘要 該用例將多色光源（24個(gè)波長(zhǎng)）與邁克爾遜干涉儀設(shè)置中的反射鏡位置（121個(gè)位置）的參數(shù)掃描相結(jié)合。由此產(chǎn)生2904個(gè)基本模擬，其中每個(gè)模擬在標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算機(jī)上只需不到一秒鐘的時(shí)間。 如果沒(méi)有分布式計(jì)算，整個(gè)集合需要46?分55?秒。在由六個(gè)本地多核PC組成的網(wǎng)絡(luò)中，分布式計(jì)算由25個(gè)客戶端執(zhí)行，CPU時(shí)間減少到2?分50?秒。 基本仿真任務(wù) 基本任務(wù)集合：波長(zhǎng)

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摘要 本用例以眾所周知的邁克爾遜干涉儀為例，展示了分布式計(jì)算的能力。多色光源與干涉測(cè)量裝置的一個(gè)位置掃描的反射鏡相結(jié)合，以執(zhí)行詳細(xì)的相干測(cè)量。使用具有六個(gè)本地多核PC組成的網(wǎng)絡(luò)分布式計(jì)算，所得到的2,904個(gè)基本模擬的模擬時(shí)間可以從一個(gè)多小時(shí)顯著減少到不到3分鐘。 模擬任務(wù) 基本模擬任務(wù) 基本任務(wù)集合#1：波長(zhǎng) 基本任務(wù)集合#2：反射鏡位置 使用分布式計(jì)算進(jìn)行模擬

馬赫曾德干涉儀-Y案例分析 簡(jiǎn)介 馬赫曾德干涉儀作為經(jīng)典分振幅干涉裝置，在光學(xué)測(cè)量、流體力學(xué)流場(chǎng)診斷、光學(xué)元件質(zhì)量檢測(cè)等領(lǐng)域具有不可替代的作用。借助 OAS 光學(xué)軟件對(duì)該干涉儀進(jìn)行仿真，可突破物理實(shí)驗(yàn)中環(huán)境干擾、設(shè)備調(diào)試復(fù)雜等限制，實(shí)現(xiàn)干涉過(guò)程的可視化模擬與精準(zhǔn)分析，為相關(guān)領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)、參數(shù)優(yōu)化及理論驗(yàn)證提供高效支撐。 案例設(shè)置與操作 光源參數(shù)設(shè)置 在

反射光柵案例分析 簡(jiǎn)介 反射光柵作為光學(xué)系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)光譜色散的核心元件，廣泛應(yīng)用于光譜儀、單色儀、激光雷達(dá)等精密光學(xué)設(shè)備中。其核心功能是將復(fù)色入射光依據(jù)波長(zhǎng)差異分解為單色光，為后續(xù)的光信號(hào)探測(cè)與分析提供基礎(chǔ)。在實(shí)際工程應(yīng)用中，需通過(guò)精準(zhǔn)的光學(xué)仿真驗(yàn)證反射光柵的色散效果，確保其滿足系統(tǒng)對(duì)波長(zhǎng)分辨率、衍射效率等關(guān)鍵指標(biāo)的要求，OAS 光學(xué)軟件憑借強(qiáng)大的三維建模與光線追跡能力，成為反射光柵性能驗(yàn)證的高效工具