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去耦電容

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創(chuàng)建者:一葉_4024 創(chuàng)建時間:2020-08-27

去耦電容的視頻教程

ANSYS SIwave電源完整性仿真操作詳解
ANSYS SIwave電源完整性仿真操作詳解

本視頻是利用ANSYS SIwave軟件進行電源完整性仿真操作詳解視頻 ,對PCB電源直流壓降仿真,及電源完整性去耦電容自動優(yōu)化仿真,從導入PCB設置,到仿真電源設置,電容選取,結果輸出審查,生成電源樹等全流程進行詳細操作講解。

¥100 40分鐘 80播放
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ANSYS SIwave信號完整性仿真基礎
ANSYS SIwave信號完整性仿真基礎

ANSYS SIwave是一款特別針對PCB、芯片封裝的SI/PI/EMC仿真工具,他與EDA設計工具無縫集成,涵蓋PCB從直流設計到去耦電容設計,從高速設計到EMC設計各個方面,幫助工程師深刻洞察電路器件與電磁場器件的相互作用,并能自動考慮PCB板上所有互連結構,如走線,過孔和焊盤等,對高速信號完整性及電源完整性進行評估分析。

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去耦電容圖1

去耦電容的實例教程

ANSYS SIwave 的PI Advisor功能模塊對于第三方EDA版圖設計中使用的電容器件,在考慮成本和電容數(shù)量等優(yōu)先考慮事項基礎上自動遍歷分析,以實現(xiàn)滿足指定目標阻抗的去耦電容最佳組合方案。設計者可以實施適當?shù)?em>去耦電容優(yōu)化方案,減少電源噪聲,降低零件成本,提高設計性能。 在ANSYS SIwave中的PI Advisor求解模塊主要用來進行去耦電容的自動優(yōu)化,其主要流程如下: 在simulation菜單下點擊PI Advisor,設置阻抗優(yōu)化后的目標值 在如下的對話框中選定需優(yōu)化的電容 計算結束后軟件會給出幾種備選方案,可根據(jù)實際情況選定合適的備選方案,運行自動優(yōu)化。下圖為優(yōu)化前后的對比結果 本文展示了使用ANSYS SIwave 的PI Advidor功能模塊進行去耦電容自動優(yōu)化的基本流程,避免了以工程師經(jīng)驗來進行去耦電容設計,減少了產(chǎn)品在設計時由于不滿足要求的返工次數(shù),節(jié)約開發(fā)時間和成本。
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去耦電容優(yōu)化中如何考慮直流偏置與溫度的影響 (圖為視頻截圖) 視頻簡介: 去耦電容的優(yōu)化對電源完整性和電磁輻射的控制有巨大影響,而傳統(tǒng)的電容優(yōu)化仿真無法考慮電容直流偏置以及環(huán)境溫度對電容性能的影響的,因此在多電壓系統(tǒng)和高溫環(huán)境下無法準確評估系統(tǒng)的最終性能。 ANSYS SIWAVE中內(nèi)置的新電容模型,突破了傳統(tǒng)S參數(shù)模型的局限,結合SIWAVE本身的直流仿真結果和ANSYS ICEPAK的熱仿真結果,能夠自動展現(xiàn)對電容真實性能隨直流偏置和溫度變化的影響,從而幫助用戶在復雜場景下找到最佳的電容優(yōu)化策略。本流程除了可以結合ANSYS ICEPAK仿真的溫度分布,還支持由用戶指定電容的不同溫度狀態(tài),從而在設計初期就實現(xiàn)快速評估。 觀看該視頻的兩種方法: 1. 點擊此處觀看。 2. 已綁定微信端的用戶,可點擊ANSYS公眾號菜單欄中的資訊中心>培訓視頻查找觀看。 如果想要查看更多視頻: 1. 綁定微信號,關注ANSYS官方公眾號(ANSYS-China),點擊菜單欄中的資訊中心>培訓視頻,按照提示的信息輸入即可,以后可免注冊觀看所有的視頻。 2.
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ANSYS SIwave 18.1去耦電容優(yōu)化分析(pdf教程+源文件)
設計印刷線路板時,每個集成電路的電源,地之間都要加一個去耦電容去耦電容有兩個作用:一方面是本集成電路的蓄能電容,提供和吸收該集成電路開門關門瞬間的充放電能;另一方面旁路掉該器件的高頻噪聲。數(shù)字電路中典型的去耦電容為0.1uf的去耦電容有5nH分布電感,它的并行共振頻率大約在7MHz左右,也就是說對于10MHz以下的噪聲有較好的去耦作用,對40MHz以上的噪聲幾乎不起作用。 1uf,10uf電容,并行共振頻率在20MHz以上,去除高頻率噪聲的效果要好一些。在電源進入印刷板的地方和一個1uf或10uf的高頻電容往往是有利的,即使是用電池供電的系統(tǒng)也需要這種電容。 每10片左右的集成電路要加一片充放電電容,或稱為蓄放電容電容大小可選10uf。最好不用電解電容,電解電容是兩層溥膜卷起來的,這種卷起來的結構在高頻時表現(xiàn)為電感,最好使用膽電容或聚碳酸醞電容去耦電容值的選取并不嚴格,可按C=1/f計算;即10MHz取0.1uf,對微控制器構成的系統(tǒng),取0.1~0.01uf之間都可以。 3、降低噪聲與電磁干擾的一些經(jīng)驗。 (1) 能用低速芯片就不用高速的,高速芯片用在關鍵地方。 (2) 可用串一個電阻的辦法,降低控制電路上下沿跳變速率。 (3) 盡量為繼電器等提供某種形式的阻尼。 (4) 使用滿足系統(tǒng)要求的最低頻率時鐘。 (5) 時鐘產(chǎn)生器盡量*近到用該時鐘的器件。石英晶體振蕩器外殼要接地。 (6) 用地線將時鐘區(qū)圈起來,時鐘線盡量短。 (7) I/O驅動電路盡量*近印刷板邊,讓其盡快離開印刷板。對進入印制板的信號要加濾波,從高噪聲區(qū)來的信號也要加濾波,同時用串終端電阻的辦法,減小信號反射。 (8) MCD無用端要接高,或接地,或定義成輸出端,集成電路上該接電源地的端都要接,不要懸空。
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設計印刷線路板時,每個集成電路的電源,地之間都要加一個去耦電容去耦電容有兩個作用:一方面是本集成電路的蓄能電容,提供和吸收該集成電路開門關門瞬間的充放電能;另一方面旁路掉該器件的高頻噪聲。數(shù)字電路中典型的去耦電容為0.1uf的去耦電容有5nH分布電感,它的并行共振頻率大約在7MHz左右,也就是說對于10MHz以下的噪聲有較好的去耦作用,對40MHz以上的噪聲幾乎不起作用。 1uf,10uf電容,并行共振頻率在20MHz以上,去除高頻率噪聲的效果要好一些。在電源進入印刷板的地方和一個1uf或10uf的高頻電容往往是有利的,即使是用電池供電的系統(tǒng)也需要這種電容。 每10片左右的集成電路要加一片充放電電容,或稱為蓄放電容電容大小可選10uf。好不用電解電容,電解電容是兩層溥膜卷起來的,這種卷起來的結構在高頻時表現(xiàn)為電感,好使用膽電容或聚碳酸醞電容去耦電容值的選取并不嚴格,可按C=1/f計算;即10MHz取0.1uf,對微控制器構成的系統(tǒng),取0.1~0.01uf之間都可以。 3、降低噪聲與電磁干擾的一些經(jīng)驗 (1)能用低速芯片就不用高速的,高速芯片用在關鍵地方。 (2)可用串一個電阻的辦法,降低控制電路上下沿跳變速率。 (3)盡量為繼電器等提供某種形式的阻尼。 (4)使用滿足系統(tǒng)要求的低頻率時鐘。 (5)時鐘產(chǎn)生器盡量臨近用該時鐘的器件。石英晶體振蕩器外殼要接地。 (6)用地線將時鐘區(qū)圈起來,時鐘線盡量短。 (7)I/O驅動電路盡量*近印刷板邊,讓其盡快離開印刷板。對進入印制板的信號要加濾波,從高噪聲區(qū)來的信號也要加濾波,同時用串終端電阻的辦法,減小信號反射。 (8)MCD無用端要接高,或接地,或定義成輸出端,集成電路上該接電源地的端都要接,不要懸空。 (9)閑置不用的門電路輸入端不要懸空,閑置不用的運放正輸入端接地,負輸入端接輸出端。
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去耦電容圖2

去耦電容的最新內(nèi)容

00-15:00 合作伙伴:武漢慧和聚成科技有限公司 地點:線上 費用:免費 點擊了解詳情 5月15日 | Ansys SIwave 基礎培訓及案例分析 簡介:本次Ansys SIwave基礎培訓及案例分析課程,以Ansys Electronics Desktop為統(tǒng)一操作平臺,系統(tǒng)講解軟件基礎操作,深度覆蓋SYZ參數(shù)提取、TDR仿真、DCIR分析、PI仿真、去耦電容優(yōu)化核心模塊
PCB的布局會影響PDN阻抗、電流路徑的電感、以及電源層和信號層走線之間的電容。此外,去耦電容器也會影響阻抗。PDN阻抗在不同頻率范圍內(nèi)會發(fā)生顯著變化。 去耦電容去耦電容器,是在穩(wěn)壓器模塊(VRM)響應不夠快時提供電流的分立器件。因為PDN阻抗會隨著頻率而變化,所以設計人員在PDN中放置多個去耦電容器,以在頻率范圍內(nèi)保持低阻抗。 如何測量和分析電源完整性?
(5)加解耦電容去耦電容):在IC的電源端加解耦電容。 (6)高頻扼流 :當有數(shù)字地和模擬地等公共接地時,要在它們之間加高頻扼流器件,一般可以用中心孔穿有導線的高頻鐵氧體磁珠。 (7)鋪銅 :增加接地的面積也可減小信號的干擾。(在鋪銅過程中需要去除死銅) (8)走線長度:走線長度越短越好,這樣的話,受到的干擾就會減少。
(5)加解耦電容去耦電容):在IC的電源端加解耦電容。 (6)高頻扼流:當有數(shù)字地和模擬地等公共接地時,要在它們之間加高頻扼流器件,一般可以用中心孔穿有導線的高頻鐵氧體磁珠。 (7)鋪銅:增加接地的面積也可減小信號的干擾。(在鋪銅過程中需要去除死銅) (8)走線長度:走線長度越短越好,這樣的話,受到的干擾就會減少。
傳統(tǒng)Si基功率模塊封裝存在寄生參數(shù)過高,散熱效率差的問題,這主要是由于傳統(tǒng)封裝采用了引線鍵合和單邊散熱技術,針對這兩大問題,SiC 功率模塊封裝在結構上采用了無引線互連(wireless interconnection)和雙面散熱(double-side cooling)技術,同時選用了導熱系數(shù)更好的襯底材料,并嘗試在模塊結構中集成去耦電容、溫度/電流傳感器以及驅動電路等,研發(fā)出了多種不同的模塊封裝技術
CBYPASS是高頻的去耦電容器,CIN是電容器大電容。在開關元件Q1導通的情況下,電流波形的大部分陡峭部分由CBYPASS提供,然后由CIN提供。 在圖1-b中,紅線示出了當開關元件Q1斷開時的電流流動的狀態(tài)。續(xù)流二極管D1導通,存儲在電感器L中的能量釋放到輸出側。對于降壓轉換器拓撲,由于電感插入輸出串聯(lián)輸出電容電流平穩(wěn)。
OptimizePI可以幫助設計人員自動地在合適的位置放置合適容值的去耦電容,來確保產(chǎn)品設計以最低的成本或最小的面積滿足電源分配系統(tǒng)(PDS)的性能目標,優(yōu)化電源平面諧振,或者在不增加電容種類的情況下實現(xiàn)最佳的PI、EMI性能。
確定單電源參考平面 安全使用去耦電容是處理電源完整性的一種至關重要的措施。去偶電容只能夠存放在PCB的頂層和底層。 去耦電容的走線、焊盤,還有過孔將嚴重的影響到去耦電容的效果。因此在設計時必須充分考慮連接去耦電容的走線,應盡可能的短而寬,連接到過孔的導線也應盡可能的短。
對于電磁干擾、電場干擾可采用電磁屏蔽、靜電屏蔽來隔離噪聲,也可采用接地、去耦電容等措施來減少噪聲的影響。 (5)冗余設計。硬件冗余設計可以在元件級、子系統(tǒng)級或系統(tǒng)級上進行,必然增加硬件和成本。因此,設計時應仔細權衡采用硬件冗余的利弊關系。在計算機控制系統(tǒng)中,主要采用控制單元冗余和控制系統(tǒng)冗余來提高系統(tǒng)硬件可靠性。 3.
IMEC 3D 系統(tǒng)集成研發(fā)副總裁 Eric Beyne也指出,在2022 年的 VLSI 論文中,實現(xiàn)了將背面處理與 2.5D金屬-絕緣體-金屬電容器 (MIMCAP) 相結合,該電容器用作去耦電容器。2.5D MIMCAP 將電容密度提高了4到5倍,進一步改善了 IR 壓降。他們的工作表明,背面供電可以通過新的設計選項創(chuàng)建一個非常動態(tài)的設計空間,幫助解決傳統(tǒng)2D IC縮放的缺點。