
注冊
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登錄根據壓電陶瓷片在特征頻率附近的機電等效電路可知,其電學支路的靜態電容(又稱鉗位電容,如下圖所示)是會受預應力改變的,因此理論上改變施加在上表面的“力”也會改變特征頻率。
使用comsol內置材料,如sio2,si等求解特征頻率會出現除零錯誤,使用頻域求解就沒有這個問題,是邊界條件設置不對嗎

通過頻響分析+隨機響應分析算了一個結構的隨機振動,輸出了RMISES 云圖,為什么這個均方根應力云圖與頻率有關,給出了隨頻率變化的好多云圖,用Nastran算隨機振動的話,好像只會給出一個均方根應力云圖結果,結果跟頻率無關。是我有什么地方設置錯了嗎?跪求大神們解答。

workbench考慮初始缺陷的屈曲分析極限載荷大于特征值屈曲分析什么原因?如何解決?
通過ansys的諧響應分析可以得到頻率響應曲線,為什么實部和虛部的曲線和通過錘擊法得到的結果差這么多?

The system matrix has 24249 negative eigenvalues. The system matrix has 94131 negative eigenvalues. Excessive distortion at a total of 41177 integration points in solid (continuum
用ansys求10階模態,但solution information里顯示20階并且有負的,還有就是總的有效參與質量也不見了。請問有人遇到過這種問題嗎,如何解決呢?

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