概述在光子學(xué)中,將信號(hào)耦合到芯片是一項(xiàng)獨(dú)特的挑戰(zhàn),需要精確對(duì)準(zhǔn)和復(fù)雜的封裝。鑒于耦合性能對(duì)芯片的功能至關(guān)重要,因此這種設(shè)計(jì)因?yàn)楫a(chǎn)量損失、過(guò)度設(shè)計(jì)和額外的加工/封裝費(fèi)用占技術(shù)成本的很大一部分也就不足為奇了。隨著行業(yè)趨勢(shì)朝著 3D 集成電路內(nèi)共封裝光學(xué)器件的方向發(fā)展,開(kāi)發(fā)工作流程以準(zhǔn)確模擬可靠性并做出經(jīng)濟(jì)可行的設(shè)計(jì)決策變得勢(shì)在必行。