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SOLIDWORKS參數(shù)化設(shè)計的思路和技巧我們講過很多了，今天來講一講如何在模型完成之后自動執(zhí)行干涉檢查。SOLIDWORKS軟件本身就有干涉檢查的功能，在評估選項卡里可以找到該功能，我們這里說的干涉檢查指的是靜態(tài)干涉檢查，即模型在靜止時，零件之間是否有干涉存在，我們參數(shù)化完成之后，也是直接調(diào)用該功能來進(jìn)行干涉檢查的。

如圖所示： 到這里，你也許還感覺有點奇怪，感覺和weave直接生成的有點不一樣，請按以下進(jìn)行勾選就行了，如圖所示： 這個模型還不可以直接用，需要進(jìn)行干涉修正。這里最后先來個干涉檢查吧，之后再出帖子說明如何修正。如圖所示： 圖中小白點的地方均需要修正喲。到此就全部結(jié)束了，生成模型已放入帖子附件，可按需自取。

</p><p class="ql-align-center"><img src="https://img.jishulink.com/202401/imgs/7fb73d803cc44b57bc9a9092b749b852.png"></p><p>Rendering目錄下依次為織物節(jié)點渲染，路徑渲染，表面渲染，體積（網(wǎng)格）渲染，干涉渲染，干涉程度渲染，纖維方向渲染，范圍（基體）渲染，范圍坐標(biāo)系渲染，

使用一個單點光源，我們檢查了縫隙寬度和縫隙距離對干涉的影響；在擴展光源的情況下，我們觀察到干涉對比度如何隨光源的橫向擴展而變化。

在第一個例子中，使用高NA物鏡檢查非對稱微結(jié)構(gòu)晶片，而在第二個例子中我們使用不同形狀的測試表面顯示了來自經(jīng)典斐索干涉儀的輻照度圖案。用于微結(jié)構(gòu)晶片檢測的光學(xué)系統(tǒng)該用例顯示了高NA晶片檢測系統(tǒng)的快速物理光學(xué)模擬，該系統(tǒng)通常用于半導(dǎo)體工業(yè)中檢測晶片上的缺陷。光學(xué)檢測用的斐索干涉儀借助非連續(xù)場追跡技術(shù)建立了斐索干涉儀，并顯示了來自幾個不同測試表面的干涉條紋。

由于這是一個模擬干涉儀如何測量表面形狀的雙通道模型，因此我們預(yù)計峰谷（0.433 waves）和 RMS（0.084 waves）波前誤差將與測量值相比翻倍，因為測量結(jié)果報告為透射。讓我們在 Wavefront Map 上仔細(xì)檢查一下。

為了仔細(xì)檢查數(shù)值結(jié)果，我們可以使用 Wavefront Map 分析。由于它是一個雙通模型，我們預(yù)計峰谷 (0.306 waves) 和 RMS (0.063 waves) 波前誤差值將與傳輸中報告的測量結(jié)果相比翻倍。

使用一個單點光源，我們檢查了縫隙寬度和縫隙距離對干涉的影響；在擴展光源的情況下，我們觀察到干涉對比度如何隨光源的橫向擴展而變化。

因此，對準(zhǔn)直度的測量也很重要，而剪切干涉法經(jīng)常被用于此類任務(wù)中。 在此示例中，我們演示了如何構(gòu)建剪切干涉儀并將其用于測量準(zhǔn)直。 通過改變光束準(zhǔn)直系統(tǒng)(例如該示例中兩個透鏡之間的距離)，我們觀察到了來自剪切干涉儀的干涉條紋。

摘要白光干涉儀是一種非接觸測量技術(shù)，用于如表面輪廓或微小位移的高精度測量。利用一個邁克爾遜干涉儀系統(tǒng)和一個氙燈光源在VirtualLab Fusion中仿真了一個白光干涉儀。建模中考慮光源中有限相干長度等光譜特性，結(jié)果表明只有當(dāng)兩臂的路徑長度基本相同時才會出現(xiàn)干涉圖樣。 2. 建模任務(wù) 3.

雙縫干涉實驗最初由Thomas Young在19世紀(jì)初進(jìn)行，它顯示了光的波動性質(zhì)，是空間相干測量的重要技術(shù)。在VirtualLab Fusion中，我們用單點光源和擴展光源復(fù)現(xiàn)了Young的實驗。我們通過檢查干涉條紋對比度的變化來研究擴展源的相干特性。

雙縫干涉實驗最初由Thomas Young在19世紀(jì)初進(jìn)行，它顯示了光的波動性質(zhì)，是空間相干測量的重要技術(shù)。在VirtualLab Fusion中，我們用單點光源和擴展光源復(fù)現(xiàn)了Young的實驗。我們通過檢查干涉條紋對比度的變化來研究擴展源的相干特性。

[用例]?使用參數(shù)運行檢查影響/變化?參數(shù)運行文檔的使用[用例] VirtualLab Fusion技術(shù) 文件信息

摘要 白光干涉測量法是一種非接觸式技術(shù)，用于精確測量，例如表面輪廓和微小位移。使用邁克爾遜干涉儀設(shè)置和氙燈光源，在VirtualLab Fusion中演示了白光干涉測量。考慮到光源的光譜特性，即有限的相干長度，結(jié)果顯示僅當(dāng)兩個臂的路徑長度幾乎相同時才出現(xiàn)干涉圖案。 1. 建模任務(wù) 2. 干涉條紋的變化 3.

[使用案例] 使用“參數(shù)運行”檢查影響/變化 “參數(shù)運行文件”的使用[使用案例] 6.VirtualLab Fusion 技術(shù)7.文件信息

[使用案例] 使用“參數(shù)運行”檢查影響/變化 “參數(shù)運行文件”的使用[使用案例] 6.VirtualLab Fusion 技術(shù)7.文件信息

[使用案例] 使用“參數(shù)運行”檢查影響/變化 “參數(shù)運行文件”的使用[使用案例] 6.VirtualLab Fusion 技術(shù)7.文件信息

因此，對準(zhǔn)直度的測量也很重要，而剪切干涉法經(jīng)常被用于此類任務(wù)中。 在此示例中，我們演示了如何構(gòu)建剪切干涉儀并將其用于測量準(zhǔn)直。 通過改變光束準(zhǔn)直系統(tǒng)(例如該示例中兩個透鏡之間的距離)，我們觀察到了來自剪切干涉儀的干涉條紋。

最后，將鏡面類型更改為 Grid Sag surface，然后 OpticsStudio 生成 YYY.DAT 文件可以在 Surface Properties > Import 選項卡下導(dǎo)入到曲面，如下所示：此時，通過干涉測量法對凸面進(jìn)行建模的雙通道系統(tǒng)應(yīng)如下所示。現(xiàn)在，我們可以檢查表面矢高圖，以驗證鏡子的形狀。