楊氏干涉實(shí)驗(yàn)
摘要
楊氏干涉實(shí)驗(yàn)是顯示光的波動特質(zhì)的著名實(shí)驗(yàn)之一。這是當(dāng)今幾個(gè)量子光學(xué)實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)。 我們通過使用可調(diào)節(jié)狹縫寬度和狹縫距離的雙狹縫,在VirtualLab Fusion中重現(xiàn)了這個(gè)著名的實(shí)驗(yàn)。
使用一個(gè)單點(diǎn)光源,我們檢查了縫隙寬度和縫隙距離對干涉的影響;在擴(kuò)展光源的情況下,我們觀察到干涉對比度如何隨光源的橫向擴(kuò)展而變化。
任務(wù)描述-單個(gè)軸上點(diǎn)光源
固定狹縫距離(500μm)和變化的狹縫寬度
固定狹縫寬度(100μm)和變化的狹縫距離
任務(wù)描述-單個(gè)離軸點(diǎn)光源
離軸點(diǎn)光源的結(jié)果(橫向位移X方向 60 μm)
建模任務(wù)–擴(kuò)展光源
具有擴(kuò)展光源的干涉
走進(jìn)VirtualLab Fusion
VirtualLab Fusion工作流程
?編程一個(gè)雙縫函數(shù)功能
?編程一個(gè)雙狹函數(shù)[用例]
?使用以下命令檢查不同參數(shù)的影響
參數(shù)運(yùn)行
?參數(shù)運(yùn)行文檔的使用[用例]
?參數(shù)運(yùn)行的掃描模式[用例]
?通過偏移基本場方法對部分相干源進(jìn)行建模
VirtualLab Fusion技術(shù)
文件信息
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- White-Light Michelson Interferometer
- Mach-Zehnder Interferometer摘要
楊氏干涉實(shí)驗(yàn)是顯示光的波動特質(zhì)的著名實(shí)驗(yàn)之一。這是當(dāng)今幾個(gè)量子光學(xué)實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)。 我們通過使用可調(diào)節(jié)狹縫寬度和狹縫距離的雙狹縫,在VirtualLab Fusion中重現(xiàn)了這個(gè)著名的實(shí)驗(yàn)。
使用一個(gè)單點(diǎn)光源,我們檢查了縫隙寬度和縫隙距離對干涉的影響;在擴(kuò)展光源的情況下,我們觀察到干涉對比度如何隨光源的橫向擴(kuò)展而變化。
任務(wù)描述-單個(gè)軸上點(diǎn)光源
固定狹縫距離(500μm)和變化的狹縫寬度
固定狹縫寬度(100μm)和變化的狹縫距離
任務(wù)描述-單個(gè)離軸點(diǎn)光源
離軸點(diǎn)光源的結(jié)果(橫向位移X方向 60 μm)
建模任務(wù)–擴(kuò)展光源
具有擴(kuò)展光源的干涉
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?編程一個(gè)雙縫函數(shù)功能
?編程一個(gè)雙狹函數(shù)[用例]
?使用以下命令檢查不同參數(shù)的影響
參數(shù)運(yùn)行
?參數(shù)運(yùn)行文檔的使用[用例]
?參數(shù)運(yùn)行的掃描模式[用例]
?通過偏移基本場方法對部分相干源進(jìn)行建模
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