近年來(lái)AI/HPC等芯片設(shè)計(jì)的蓬勃發(fā)展,伴隨這些設(shè)計(jì)除了最先進(jìn)工藝技術(shù)的應(yīng)用,2.5D/3D IC設(shè)計(jì)也逐漸成為主流。但采用最先進(jìn)工藝及設(shè)計(jì)技術(shù)的芯片,往往伴隨著諸多挑戰(zhàn),其中散熱成為該類(lèi)型芯片設(shè)計(jì)亟需考慮的問(wèn)題。使用Ansys RedHawk-SC-Electrothermal,設(shè)計(jì)者可以輕松應(yīng)對(duì)3D IC的熱及熱應(yīng)力分析。本次會(huì)議將帶來(lái)3D IC熱可靠性分析的最新功能更新及案例分享。