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許多設(shè)計過程需要兩種不同的光學(xué)理論/算法來分別處理光束在自由空間和微結(jié)構(gòu)中的傳播，而其他一些過程僅使用純光線追跡來達(dá)到目標(biāo)。由於模擬技術(shù)發(fā)展迅速，因此本文可能沒有涵蓋所有可用方法。如果用戶提供新訊息或有任何要求，請隨時與我們聯(lián)繫，我們可以相應(yīng)地更新本文。

abaqus二維隨機(jī)圓形、橢圓形孔洞纖維模型。

舉例來說，讓我們探討一下 “光線與表面交會於一點” 這個概念。在一個沒有鍍膜的光學(xué)面上，定義一條光線可以非常簡單：但是，現(xiàn)在讓我們思考另一個狀況：四分之一波長厚度的膜層 (我們另外設(shè)定一個0.25倍波長厚的物件，位於前述物件表面之上)。如果我們放大來檢視這個四分之一波長物件的話，我們會看到：現(xiàn)在，在這個圖中，我們有了幾個疑問：(1) 入射的光線交會於這個表面的 “哪裡”？

如下圖所示：來自紅色行人的散射光到達(dá)了雷射雷達(dá)探測器的一個單位圖元上。雷射雷達(dá)會將接收到返回信號花費(fèi)的時長記錄下來，即飛行時間，並將飛行時間轉(zhuǎn)換為距離。圖元的位置可表明入射光的方向。這兩個值都表明散射光線來自站在離貨車10米遠(yuǎn)的紅色行人。OpticStudio實際上測量的不是時間，而是光線路徑長度，也就是物體和探測器之間的距離。

考慮繞射效率使用戶能夠進(jìn)行圖像模擬和綜合優(yōu)化等高級分析。表面反射光柵與體積全像光柵的比較在介紹這個模型之前，我們先簡單解釋一下表面反射光柵（SRG）和體積全像光柵（VHG）的區(qū)別。這兩種光柵在光學(xué)系統(tǒng)中的作用幾乎是一樣的，但在製造和模擬方面卻有很大的不同。 圖 1.

在模擬的過程中，會將入射光因為元件表面鍍膜、反射和吸收而造成的能量損耗納入考量。一般的情況下，OpticStudio可以對大多數(shù)的鍍膜或雙折射材料進(jìn)行完整的分析。但有時因為分類數(shù)據(jù)報告(Prescription data)不夠齊全，在進(jìn)行模擬時會需要簡化後的模型。舉例而言，當(dāng)我們無法得到真實的鍍膜資訊時，OpticStudio中的理想(IDEAL)和表定(TABLE)鍍膜設(shè)定就可以派上用場。

修正主要集中于低應(yīng)力狀態(tài)下的剪切修正，微尺寸下的尺寸效應(yīng)問題，以及孔洞形狀演化等方面。這里重點對剪切修正進(jìn)行說明。 GTN模型雖然有大量和實驗證明了其理論的可靠性，但模型在低應(yīng)力甚至負(fù)應(yīng)力狀態(tài)下大大低估了損傷的發(fā)展，這主要因為原始的GTN模型在進(jìn)行低應(yīng)力狀態(tài)下失效預(yù)測時孔洞體積分?jǐn)?shù)無顯著變化，即材料性能幾乎不發(fā)生弱化。這和實驗產(chǎn)生了較大差異，尤其是剪切主導(dǎo)的失效行為。

VUMAT子程序中，可以用來實現(xiàn)對延性金屬材料在不同應(yīng)力狀態(tài)下的損傷演化進(jìn)行合理的數(shù)值預(yù)測，應(yīng)用于金屬成型領(lǐng)域（沖壓，軋制，擠壓等）預(yù)測修正后的模型應(yīng)該在簡單拉伸情況下于abaqus自帶的GTN模型保持相同的損傷和其他狀態(tài)變量的分布，并在剪切情況中損傷發(fā)展顯著高于abaqus自帶的模型（自帶的模型忽略了剪切效應(yīng)）。

VUMAT子程序中，可以用來實現(xiàn)對延性金屬材料在不同應(yīng)力狀態(tài)下的損傷演化進(jìn)行合理的數(shù)值預(yù)測，應(yīng)用于金屬成型領(lǐng)域（沖壓，軋制，擠壓等）預(yù)測修正后的模型應(yīng)該在簡單拉伸情況下于abaqus自帶的GTN模型保持相同的損傷和其他狀態(tài)變量的分布，并在剪切情況中損傷發(fā)展顯著高于abaqus自帶的模型（自帶的模型忽略了剪切效應(yīng)）。

，拉伸的中心對稱面的損傷明顯先于外表面，而剪切中心與外表面則無明顯區(qū)別，如下圖所示：同時，作者也詳細(xì)對比了失效位置的損傷組成和孔洞發(fā)展情況，其差別表現(xiàn)為，拉伸樣品的損傷組成中，剪切只有很小一部分，而剪切試樣中，孔洞演化對損傷的貢獻(xiàn)則很小，拉伸損傷中，前期損傷主要由孔洞生長貢獻(xiàn)，當(dāng)基體的等效塑性應(yīng)變高于0.4時，其貢獻(xiàn)主要由孔洞生長貢獻(xiàn)。

透過用戶自訂表面(User-Defined Surface)功能，在序列模式下進(jìn)行光學(xué)設(shè)計時也支援透鏡陣列的使用。 Ansys Zemax國內(nèi)可靠代理商　　光研科技南京有限公司是國內(nèi)可靠的光學(xué)軟件和儀器光電供應(yīng)商，提供企業(yè)定制化上門培訓(xùn)服務(wù)，承接各類光學(xué)設(shè)計項目，并有一系列自主編寫出版的光學(xué)設(shè)計書籍。

圖2. voronoi 3D 插件生成的多晶體模型看到這里有人會問既然你說Neper很專業(yè)了，為什么還要推薦這個插件？它的優(yōu)勢在哪里？這其實就是我想說的，有時候我們的研究會考慮孔洞的增長(void growth)， 就需要含孔洞的晶體模型。而恰好它對于含孔洞的多晶體模型具有絕對的優(yōu)勢(一點也不夸張)，不信？先來看對比(如圖3所示)。從圖中我們可以發(fā)現(xiàn)Neper生成的模型孔洞竟然失真了！！！！

當(dāng)作者在澳洲Flinders大學(xué)教導(dǎo)視光學(xué) (Optometry)時，時常要求學(xué)生以O(shè)pticStudio建構(gòu)一組特殊的鏡片，達(dá)成夜間、槍械狙擊鏡、辦公環(huán)境或者是孩童友善等各式不同的使用目的。同時，非球面鏡參數(shù)和影像波前等數(shù)值也被列入評分的標(biāo)準(zhǔn)。

光源應(yīng)為一束準(zhǔn)直的寬帶光束；大帶寬意味著低相干性和高精度定位產(chǎn)生相干性的深度。深度掃描也稱為軸向掃描或A掃描，它根據(jù)反射到樣品中的距離來測量反射光的強(qiáng)度。 儘管它在OCT系統(tǒng)的類型之間有所不同，但深度掃描通常由參考鏡執(zhí)行，以使樣品返回的光對應(yīng)於樣品和參考之間的特定光程差（OPD）。 透過以x或y方向旋轉(zhuǎn)掃描鏡來執(zhí)行橫向，橫向或b掃描，從而在整個樣品區(qū)域上平移探測光束。

，然而斷裂起始單元的不同強(qiáng)烈影響了后續(xù)的裂紋擴(kuò)展，產(chǎn)生了完全的不同的裂紋發(fā)育路徑，即網(wǎng)格對計算結(jié)果有強(qiáng)烈影響，一個好的解決方法就是引入非局部損傷模型，類似于晶體塑性模型GND的引入，部分文獻(xiàn)已經(jīng)針對這一問題進(jìn)行了研究，并證明了非局部模型計算的巨大優(yōu)勢，當(dāng)然，這同時產(chǎn)生了更多的計算成本和數(shù)值實現(xiàn)的復(fù)雜化。

圖2. voronoi 3D 插件生成的多晶體模型看到這里有人會問既然你說Neper很專業(yè)了，為什么還要推薦這個插件？它的優(yōu)勢在哪里？這其實就是我想說的，有時候我們的研究會考慮孔洞的增長(void growth)， 就需要含孔洞的晶體模型。而恰好它對于含孔洞的多晶體模型具有絕對的優(yōu)勢(一點也不夸張)，不信？先來看對比(如圖3所示)。從圖中我們可以發(fā)現(xiàn)Neper生成的模型孔洞竟然失真了！！！！

由于憑傳統(tǒng)經(jīng)驗和直覺的設(shè)計方式已經(jīng)無法完全掌握日新月異的產(chǎn)品，因此以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)?CAE 分析計算來決定模具設(shè)計質(zhì)量已成為該公司的絕佳競爭力和業(yè)務(wù)著力點，模流分析結(jié)果更是有效說服客戶修改設(shè)計的優(yōu)質(zhì)工具。 –VC Chong, 前工程經(jīng)理 Tokyo Seiki模流分析的過程中有許多項目，可依據(jù)不同觀點和需求另外提出討論。

波前的計算當(dāng)我們說波前時，事實上通常是指波前 “差”，或是光程差，指的是同一件事。OpticStudio預(yù)設(shè)使用出瞳作為波前差的計算參考。因此，當(dāng)我們要計算一條光線的OPD時，此光線會從物面出發(fā)後一路追跡穿過光學(xué)系統(tǒng)，最終到達(dá)像面後，在循原方向後退追跡到 “參考球面”。此參考球面的球心是主光線與像面的交點，半徑是主光線與像面交點到主光線與出瞳面的焦點。