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圖1（a）所示的SRG，可以通過幾種方法製造，如電子束寫入，光刻，納米壓印，或鑽石車削。與VHG不同，SRG沒有空間變化的折射率。相反，光柵的表面是由周期性的微結構組成的。為了對SRG進行建模，需要採用類似傅里葉模態法（也叫RCWA）的算法。本文將介紹VHG的工具。

隱式分析法在接觸條件復雜的模型時，計算結果不易收斂，而顯示分析不但能夠保證計算結果的收斂性，還能很好地模擬準靜態工況，所以采用Abaqus/Explicit顯示分析進行仿真模擬。

為了更好地滿足 SiP 產品的失效定位，3D X-ray、同步熱發射( LIT) 和磁顯微術等非破壞性缺陷檢測及定位技術以及液晶熱點檢測、紅外成像、微光顯微術( EMMI) 、激光束電阻異常偵測技術( OBIＲCH) 、聚焦離子束等破壞性缺陷檢測及定位技術不斷被開發應用。2 存在的問題SiP 概念自 20 世紀 90 年代提出以來，經過多年發展，其已在多個領域廣泛應用。

(2) MJC 斷裂準則由于高估了材料延性，使得 其預測的彈道極限偏高。隨著彈體頭部曲率半徑比 的增大，靶板失效單元中拉伸斷裂占比逐漸增多， 從而使得 Lode 角在數值仿真預測中對彈道極限的 影響逐漸減弱，兩種斷裂準則預測的彈道極限逐漸 接近。