VirtualLab Fusion用戶界面的基礎操作 2 基礎知識簡介 干涉發生的條件 楊氏雙縫干涉實驗特性 激光邁克爾遜干涉--非序列追跡和參數掃描功能介紹 3 干涉測量系統建模 利用FP腔研究鈉原子D線光譜 光學相干層析掃描系統 Inces - Gaussian光束產生渦旋陣列激光光束的觀測 利用剪切干涉法的準直測量

2）剪切波干涉測量法，其示意圖如圖3（b）所示。不使用參考光束，光通過超表面后被復制并在傳感器上干涉產生多光束自干涉圖案。該方法測量的相位是相對的，通過對干涉強度圖案進行數值積分來恢復入射光束的相位。 圖3 （a）參考光束干涉測量系統；（b）剪切波干涉法測量系統 相位恢復法： 由衍射理論可知，通過光在給定平面上的場分布、振幅和相位，就有可能確定遠場的場分布。

用剪切干涉法進行準直檢驗 我們展示了如何建立剪切干涉儀，來檢驗激光光束準直。 我們觀察到由于改變準直透鏡系統而引起的干涉條紋的變化。

因此，對準直度的測量也很重要，而剪切干涉法經常被用于此類任務中。 在此示例中，我們演示了如何構建剪切干涉儀并將其用于測量準直。 通過改變光束準直系統(例如該示例中兩個透鏡之間的距離)，我們觀察到了來自剪切干涉儀的干涉條紋。

實例#2：忽略透鏡間的衍射效應 ? 實例#3：剪切干涉法的準直測試 1. 例#3：刻意忽略衍射 查看完整的應用實例 2.

剪切干涉案例分析 簡介 剪切干涉技術作為波前檢測領域的關鍵手段，憑借無需參考光路、結構緊湊、抗干擾能力強等優勢，在高精度光學系統裝調、激光光束質量評估及微納結構檢測中占據重要地位。OAS 光學軟件作為集成化的光學系統設計與仿真平臺，可通過三維建模、光線追跡及物理光學分析等功能，實現剪切干涉過程的全流程化模擬，為技術方案驗證與參數優化提供高效解決方案。 案例設置與操作

因此，對準直度的測量也很重要，而剪切干涉法經常被用于此類任務中。 在此示例中，我們演示了如何構建剪切干涉儀并將其用于測量準直。 通過改變光束準直系統(例如該示例中兩個透鏡之間的距離)，我們觀察到了來自剪切干涉儀的干涉條紋。

摘要 在干涉儀中，條紋的對比度可能取決于光源的相干特性。例如，在具有一定帶寬的光源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對比度隨光程差的不同而變化。通過測量可動鏡不同位置的干涉圖對比度，可以得到光源的相干長度。典型的傅里葉變換光譜通常基于這種類型的光路。 建模任務 橫向干涉條紋——50 nm帶寬 橫向干涉條紋——100 nm帶寬

因此，對準直度的測量也很重要，而剪切干涉法經常被用于此類任務中。 在此示例中，我們演示了如何構建剪切干涉儀并將其用于測量準直。 通過改變光束準直系統(例如該示例中兩個透鏡之間的距離)，我們觀察到了來自剪切干涉儀的干涉條紋。

實例#2：忽略透鏡間的衍射效應 ? 實例#3：剪切干涉法的準直測試 1. 例#3：刻意忽略衍射 查看完整的應用實例 2.