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圖1（a）所示的SRG，可以通過幾種方法製造，如電子束寫入，光刻，納米壓印，或鑽石車削。與VHG不同，SRG沒有空間變化的折射率。相反，光柵的表面是由周期性的微結構組成的。為了對SRG進行建模，需要採用類似傅里葉模態法（也叫RCWA）的算法。本文將介紹VHG的工具。

顏色變化對應於返迴光強度的變化。 這表明發生了重大變化。代表性的OCT系統如下所示。 光束應均勻地分成兩臂，其中一個在樣品體積上會聚，以最小化給定掃描的照射面積。 光源應為一束準直的寬帶光束；大帶寬意味著低相干性和高精度定位產生相干性的深度。深度掃描也稱為軸向掃描或A掃描，它根據反射到樣品中的距離來測量反射光的強度。

隱式分析法在接觸條件復雜的模型時，計算結果不易收斂，而顯示分析不但能夠保證計算結果的收斂性，還能很好地模擬準靜態工況，所以采用Abaqus/Explicit顯示分析進行仿真模擬。

輪胎的材料與結構通常比較復雜，外層通常由堅固的合成橡膠制成，內層則由多層交織的尼龍纖維與交錯排列的鋼絲簾布組成，內部結構包括胎面、胎體、胎壁、鋼線圈、子口護膠、內面層與帶束層等多個部分，如圖1所示。

[11] GJB1718A—2005 電子束焊接[S].文章來源機械制造與自動化. 2023,52(05)

此外，應力狀態在單元失效過程中是不斷 變化，因此，引入平均應力狀態參數進行表征[19]，如下式所示 式中，dD 表示損傷增量； Df 表示整個侵徹過程結 束時單元損傷變量值；η D 和θ D 分別表示平均應力 三軸度和平均 Lode 角。 圖 8 統計了靶板在不同彈體以略高于彈道極限 的速度沖擊下，失效單元的平均應力狀態參數二維頻率百分比。

為了更好地滿足 SiP 產品的失效定位，3D X-ray、同步熱發射( LIT) 和磁顯微術等非破壞性缺陷檢測及定位技術以及液晶熱點檢測、紅外成像、微光顯微術( EMMI) 、激光束電阻異常偵測技術( OBIＲCH) 、聚焦離子束等破壞性缺陷檢測及定位技術不斷被開發應用。2 存在的問題SiP 概念自 20 世紀 90 年代提出以來，經過多年發展，其已在多個領域廣泛應用。