X射線計算機斷層掃描成像系統(tǒng)
關(guān)注創(chuàng)建者：匿名 創(chuàng)建時間：2026-01-05
X射線計算機斷層掃描成像系統(tǒng)的實例教程
而要滿足質(zhì)量要求，檢測技術(shù)是必不可少的，傳統(tǒng)的檢測方法需要用夾具夾持工件，以創(chuàng)建特定的測量基準(zhǔn)面，并用坐標(biāo)測量機的觸發(fā)式測頭及時完成整個檢測過程，或使用視覺測量系統(tǒng)測繪工件的外表面。很多情況下，在缺乏先進檢測技術(shù)的幫助下，一些工件內(nèi)部檢查方法需要用二維X射線掃描，或采用破壞性的檢測方式。
工業(yè)用計算機X射線斷層成像（CT）掃描是一種新興檢測技術(shù)，它為大幅降低產(chǎn)品試制檢測成本，以及在三維無損檢測中快速而準(zhǔn)確地分析工件內(nèi)部缺陷提供了可能。
檢測，無需破壞
業(yè)用計算機X射線斷層成像（CT）掃描允許測量內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷。采用這種技術(shù)使用戶能夠以以前只能通過破壞性方法完成的方式可視化內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
拿國際工具與設(shè)備公司（TEI）來說，該公司的設(shè)計團隊開發(fā)了全電動摩托車Lightning LS-218，旋轉(zhuǎn)臂是由3D軟件設(shè)計公司Autodesk創(chuàng)建的，然后用了三個星期的時間進行鑄造、清潔、熱處理、精加工和檢查摩托車擺臂。
為確保零件滿足機械扭轉(zhuǎn)的需求，TEI采用了工業(yè)用計算機X射線斷層成像（CT）掃描來測量內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷。作為自20世紀(jì)70年代以來醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的領(lǐng)先技術(shù)，CT掃描正在工業(yè)領(lǐng)域成為重要的檢測工具。
工業(yè)CT掃描的基本形式與醫(yī)學(xué)CAT掃描類似，只是現(xiàn)在這種CT技術(shù)正被用于掃描各種工業(yè)零部件，而不是人體。醫(yī)學(xué)CAT掃描主要用于可視化目的，而工業(yè)CT掃描不僅實現(xiàn)可視化，而且還可進行測量。工業(yè)CT掃描是將二維X射線圖像交織形成工件內(nèi)部和外部三維影像的過程。*
由于采用X射線掃描，因此可在無需夾持的自由狀態(tài)下對脆弱易損的零部件進行檢測。由于無需對工件施加測量力和進行夾持，因此可確保工件被檢測時處于其自然位置。
展開 在如醫(yī)療成像和工業(yè)檢查等廣泛的應(yīng)用中，X射線成像是一種有價值的工具。在VirtualLab Fusion中，我們已經(jīng)成功地實現(xiàn)了幾個著名的X射線成像系統(tǒng)，它們可以用來探索所討論裝置的成像特性，或用來說明特殊的X射線成像原理。在本通訊中，我們展示了兩個X射線成像實驗：(1)使用Kirkpatrick-Baez鏡創(chuàng)建納米級X射線成像點；(2)用單光柵干涉儀說明相襯X射線成像原理。
X射線束的掠入射聚焦鏡
Kirkpatrick-Baez 鏡將掠入射X射線場聚焦到一個納米級的點上。本用例展示了Kirkpatrick-Baez鏡的分析設(shè)計過程和焦點區(qū)域的衍射圖樣。
用于X射線成像的單光柵干涉儀
在用于X射線的單光柵干涉儀中采用了三種類型的光柵(僅通過相位傳輸建模)，并對所選光柵的自成像進行了研究。
更多信息請發(fā)送消息到：support@infotek.com.cn / support@infocrops.com
展開 在如醫(yī)療成像和工業(yè)檢查等廣泛的應(yīng)用中，X射線成像是一種有價值的工具。在VirtualLab Fusion中，我們已經(jīng)成功地實現(xiàn)了幾個著名的X射線成像系統(tǒng)，它們可以用來探索所討論裝置的成像特性，或用來說明特殊的X射線成像原理。在本通訊中，我們展示了兩個X射線成像實驗：(1)使用Kirkpatrick-Baez鏡創(chuàng)建納米級X射線成像點；(2)用單光柵干涉儀說明相襯X射線成像原理。
X射線束的掠入射聚焦鏡
Kirkpatrick-Baez 鏡將掠入射X射線場聚焦到一個納米級的點上。本用例展示了Kirkpatrick-Baez鏡的分析設(shè)計過程和焦點區(qū)域的衍射圖樣。
用于X射線成像的單光柵干涉儀
在用于X射線的單光柵干涉儀中采用了三種類型的光柵(僅通過相位傳輸建模)，并對所選光柵的自成像進行了研究。
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X射線束的掠入射聚焦鏡
Kirkpatrick-Baez 鏡將掠入射X射線場聚焦到一個納米級的點上。本用例展示了Kirkpatrick-Baez鏡的分析設(shè)計過程和焦點區(qū)域的衍射圖樣。
用于X射線成像的單光柵干涉儀
在用于X射線的單光柵干涉儀中采用了三種類型的光柵(僅通過相位傳輸建模)，并對所選光柵的自成像進行了研究。
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在如醫(yī)療成像和工業(yè)檢查等廣泛的應(yīng)用中，X射線成像是一種有價值的工具。在VirtualLab Fusion中，我們已經(jīng)成功地實現(xiàn)了幾個著名的X射線成像系統(tǒng)，它們可以用來探索所討論裝置的成像特性，或用來說明特殊的X射線成像原理。在本通訊中，我們展示了兩個X射線成像實驗：(1)使用Kirkpatrick-Baez鏡創(chuàng)建納米級X射線成像點；(2)用單光柵干涉儀說明相襯X射線成像原理。
X射線束的掠入射聚焦鏡
在如醫(yī)療成像和工業(yè)檢查等廣泛的應(yīng)用中，X射線成像是一種有價值的工具。在VirtualLab Fusion中，我們已經(jīng)成功地實現(xiàn)了幾個著名的X射線成像系統(tǒng)，它們可以用來探索所討論裝置的成像特性，或用來說明特殊的X射線成像原理。在本通訊中，我們展示了兩個X射線成像實驗：(1)使用Kirkpatrick-Baez鏡創(chuàng)建納米級X射線成像點；(2)用單光柵干涉儀說明相襯X射線成像原理。
在如醫(yī)療成像和工業(yè)檢查等廣泛的應(yīng)用中，X射線成像是一種有價值的工具。在VirtualLab Fusion中，我們已經(jīng)成功地實現(xiàn)了幾個著名的X射線成像系統(tǒng)，它們可以用來探索所討論裝置的成像特性，或用來說明特殊的X射線成像原理。在本通訊中，我們展示了兩個X射線成像實驗：(1)使用Kirkpatrick-Baez鏡創(chuàng)建納米級X射線成像點；(2)用單光柵干涉儀說明相襯X射線成像原理。
X射線束的掠入射聚焦鏡
對于原型設(shè)計與制造公司來說，快速完成交貨與質(zhì)量達到要求是兩大挑戰(zhàn)。而要滿足質(zhì)量要求，檢測技術(shù)是必不可少的，傳統(tǒng)的檢測方法需要用夾具夾持工件，以創(chuàng)建特定的測量基準(zhǔn)面，并用坐標(biāo)測量機的觸發(fā)式測頭及時完成整個檢測過程，或使用視覺測量系統(tǒng)測繪工件的外表面。很多情況下，在缺乏先進檢測技術(shù)的幫助下，一些工件內(nèi)部檢查方法需要用二維X射線掃描，或采用破壞性的檢測方式。
工業(yè)用計算機X射線斷層成像（CT
