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登錄光學相干斷層掃描設備
關注創建者:匿名 創建時間:2026-01-04

光學相干斷層掃描設備的實例教程
光學測量 > 干涉測量
任務/系統說明
亮點
?從光線追跡分析到快速物理光學建模的簡單轉換;
?對相干效應以及干涉圖樣的高速仿真;
具體要求:光源
具體要求:用于準直的消色差透鏡
具體要求:分束器
具體要求:參考光路反射鏡
具體要求:測試光路反射鏡
具體要求:探測器
結果:3D光線追跡
結果:場追跡
結果:移動樣品的場追跡結果
通過掃描樣品的軸向位置,可以研究出樣品的形貌。
文件&技術信息
Hyun - Spie Bios – 2013 Proc. of SPIE Vol. 8565 85652S-2
本文以實驗結合光學軟件FRED來驗證熒光介質上覆蓋散射層的影響,結合AF-OCT系統能夠減少由于上皮組織增厚引起的假陽性,增強AF疾病檢測的功效。
摘要:
在本文中,我們通過模擬組織的自發熒光(AF)特性進行了模型的研究。我們組合了光學相干斷層掃描(OCT)和AF成像系統,依據散射層的厚度和濃度來測量AF信號的強度。使用由生成的OCT圖像計算得到的厚度和散射濃度,結合AF-OCT系統能夠估計由上皮組織散射引起的AF損耗。我們定義了一個校正因子來計算上皮組織中的散射損耗,并且計算了一個校正散射AF信號。我們認為校正散射AF將會減少在早期呼吸道病變檢測中的診斷誤檢率,誤檢是由混合因子產生,如增加的皮層厚度和炎癥。
關鍵詞:光學相干斷層掃描;自發熒光;光散射;模型;光線光學;OCT A-line數據
1.簡介
自發熒光(AF)成像是一項已實現的技術,使用藍光來激發自然組織熒光。通過收集高風險區域進行活檢識別,已經證明這項技術對于癌癥的早期檢測和癌的分期是及其有效的。雖然通過白光成像可以容易的檢測浸潤癌,原位癌和高度的癌前病變的檢測卻十分棘手。白光成像中的變化十分微小,然而,AF成像可以清楚地對比這種病變。當受到藍光照射時,正常的組織會發出強烈的綠色AF,而異常組織則缺少這種AF輻射。
盡管AF成像可以方便的檢測原位癌,對于良性組織的異常現象也是十分敏感的。例如,上皮組織的厚度未必就與癌癥相關,但是它確實減少了由散射產生的AF信號,導致了假陽性。因此,將癌癥與其他非危險異常現象區別開來可以極大地增加治療的療效。
展開 摘要
掃描干涉儀是用于執行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性,僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此,它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。
建模任務
仿真干涉條紋
走進VirtualLab Fusion
VirtualLab Fusion中的工作流程
?設置輸入場
?基本光源模型[教程視頻]
?使用導入的數據自定義表面輪廓
?定義元件的位置和方向
? LPD II:位置和方向[教程視頻]
?正確設置通道以進行非序列追跡
?非序列追跡的通道設置[用例]
?使用參數運行檢查影響/變化
?參數運行文檔的使用[用例]
VirtualLab Fusion技術
文件信息
展開 摘要
掃描干涉儀是用于執行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性,僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此,它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。
建模任務 仿真干涉條紋 走進VirtualLab Fusion VirtualLab Fusion中的工作流程 ?設置輸入場
?基本光源模型[教程視頻]
?使用導入的數據自定義表面輪廓
?定義元件的位置和方向
? LPD II:位置和方向[教程視頻]
?正確設置通道以進行非序列追跡
?非序列追跡的通道設置[用例]
?使用參數運行檢查影響/變化
?參數運行文檔的使用[用例]
VirtualLab Fusion技術 文件信息 更多閱覽
- Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration
- Mach-Zehnder Interferometer
- Fizeau Interferometer for Optical Testing
展開 摘要
掃描干涉儀是用于執行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性,僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此,它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。

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摘要
掃描干涉儀是用于執行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性,僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此,它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。
建模任務
文章來源:H. Pahlevaninezhad , A. M. D. Lee , C. Hyun - Spie Bios – 2013 Proc. of SPIE Vol. 8565 85652S-2
本文以實驗結合光學軟件FRED來驗證熒光介質上覆蓋散射層的影響,結合AF-OCT系統能夠減少由于上皮組織增厚引起的假陽性,增強AF疾病檢測的功效。
摘要:
在本文中
光學測量 > 干涉測量
任務/系統說明
亮點
?從光線追跡分析到快速物理光學建模的簡單轉換;
?對相干效應以及干涉圖樣的高速仿真;
具體要求:光源
具體要求:用于準直的消色差透鏡
具體要求:分束器
具體要求:參考光路反射鏡
摘要
掃描干涉儀是用于執行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性,僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此,它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。
建模任務
仿真干涉條紋
走進VirtualLab Fusion
摘要
掃描干涉儀是用于執行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性,僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此,它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。
建模任務
仿真干涉條紋
走進VirtualLab Fusion
摘要
掃描干涉儀是用于執行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性,僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此,它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。
建模任務
仿真干涉條紋
走進VirtualLab
摘要
掃描干涉儀是用于執行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性,僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此,它可以實現精確的顯微鏡測量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。
建模任務 仿真干涉條紋 走進VirtualLab Fusion VirtualLab Fusion中的工作流程 ?設置輸入場
?基本光源模型[教程視頻]
?
摘要
掃描干涉法是實現表面高度測量的技術。通過利用白色光源的低相干性,只有當光程差在相干長度內,干涉圖案才會出現。因此,它使精確微觀測量成為可能。使用一個氙燈搭建了一個邁克耳孫干涉儀,用于測量具有平滑變化前表面的樣品。
建模任務
結果
文件信息