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OpticStudio 中可用的表面類型範(fàn)圍，包括 Even 和 Q 型非球面，為設(shè)計人員提供了滿足規(guī)格的靈活性。雖然性能要求至關(guān)重要，但確保設(shè)計可以製造並在構(gòu)建時性能良好也同樣重要。這裡有許多考慮因素。可製造的特定鏡片形狀將受到限制。同樣，OpticStudio 提供了分析特性的能力，例如最大局部表面斜率，並在優(yōu)化過程中控制這些特性以確保最終的光學(xué)設(shè)計是可製造的。

Figure 3 菲涅耳波帶片系統(tǒng)佈局圖但是，如果現(xiàn)在使用POP分析建模相同的情況，則將觀察到光束開始聚焦在成像表面上，如圖4所示。在這裡，我們從束腰尺寸為2.6 mm的高斯光束開始並將光束聚焦下降到束腰約0.4毫米的斑點。此範(fàn)例說明只能使用POP模擬這種類型的結(jié)構(gòu)。Figure 4 菲涅耳波帶片在成像平面上的 POP結(jié)果。

輸出則為可靠性安全性需求在頂層的模型， 例如對任務(wù)成功的期望、對風(fēng)險的承受度等。 2) 中間層的可靠性安全性需求 中間層需求分析的目標(biāo)是， 基于覆蓋全任務(wù)周期的運行場景， 分析、推導(dǎo)出為實現(xiàn)頂層可靠性安全性目標(biāo)和滿足其他相關(guān)需求所需具備的能力，并將能力轉(zhuǎn)化為明確可標(biāo)識的可靠性安全性模型元素。

、分布計算方式進行可靠性分析結(jié)果計算；3) 單元可靠性計算 不確定性概率量化（支持10余種概率分布）； 支持給定失效閾值下可靠度計算和給定可靠度下的特征值預(yù)計； 提供蒙特卡羅、一次二階矩、重要度采樣講堂等多種概率可靠性仿真算法； 支持考慮設(shè)計變量相關(guān)性下的可靠性仿真計算； 支持考慮設(shè)計參數(shù)時間變性的可靠性仿真計算；4) 故障樹分析

本案例通過有限元分析軟件建立QX機構(gòu)動作性能分析模型，結(jié)合失效機理開展可靠性分析，定量計算該機構(gòu)可靠度，并以可靠度為優(yōu)化目標(biāo)，開展該機構(gòu)參數(shù)的優(yōu)化設(shè)計，提升QX系統(tǒng)性能可靠性。

電機NVH測試優(yōu)化：鑄鐵平臺在噪聲振動測試中的基礎(chǔ)作用 在新能源汽車、工業(yè)電機、家電電機等領(lǐng)域，NVH（噪聲、振動與聲振粗糙度）功能是評估電機品質(zhì)的核心指標(biāo)，直接影響產(chǎn)品舒適性、可靠性與市場競爭力。電機NVH測試的核心訴求是準(zhǔn)捕捉噪聲與振動信號，而測試基準(zhǔn)的穩(wěn)定性直接決定信號采集的真實性。

以 DVD 光碟機的內(nèi)部機構(gòu)件為例，除了平整度的要求外，由於原始設(shè)計的流道重於成品體積(20g：16g)，而客戶要求 Tokyo Seiki 減輕流道重量，經(jīng)過五次的變更設(shè)計分析，流動指數(shù)的比較為 88%：99%，流道與成品體積比較為 10g：16g。

這些仿真充分考慮了由于互聯(lián)的電遷移 (EM)、時間相關(guān)的介電擊穿 (TDDB)以及偏壓溫度不穩(wěn)定性 (BTI)和熱載流子注入 (HCI)等晶體管退化現(xiàn)象所導(dǎo)致的集成電路磨損和老化。考慮到IC的運行條件和制造商提供的測試條件，對每個組件開展組件級可靠性分析。結(jié)果（見下圖）是綜合上述機制得到的每個組件的失效概率和壽命預(yù)測。

為確定質(zhì)量波動的大小，判斷波動是否超出允許范圍，必須按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進行質(zhì)量一致性檢驗。它能真實反映產(chǎn)品的質(zhì)量波動程度和各項使用性能是否合格和穩(wěn)定可靠，實際評判產(chǎn)品的設(shè)計工藝水平。電連接器的可靠性分析產(chǎn)品可靠性是設(shè)計出來的，制造出來的，管理出來的。設(shè)計、材料和工藝水平以及技術(shù)集成度，是決定產(chǎn)品質(zhì)量一致性的關(guān)鍵因素。

該模型的輸入是階數(shù) p 和度數(shù) m、束腰 (w0)、光束的半焦距 (f0) 和光束極性（0 = 偶數(shù)；1 = 奇數(shù)）；最後一個輸入決定了光束是由偶數(shù)還是奇數(shù) Ince 多項式描述的。 Bandres 和 Gutiérrez-Vega 的論文中提供了上述每個輸入的完整描述。 2 列出了一些未使用的輸入，以便該模型的輸入表結(jié)構(gòu)與 OpticStudio 中內(nèi)置的高斯腰模型的結(jié)構(gòu)相匹配。

熱設(shè)計分析、IGBT極限參數(shù)檢測對比發(fā)現(xiàn)IGBT失效由多種原因?qū)е拢琁GBT在器件選型、器件可靠性、閂鎖效應(yīng)、驅(qū)動控制、ESD能力等方面存在不足，逐一分析論證后從IGBT本身及電路設(shè)計方面全部提升IGBT工作可靠性。

案例2：封裝結(jié)構(gòu)隨機振動可靠性分析 某BGA封裝結(jié)構(gòu)需要分析結(jié)構(gòu)在隨機振動環(huán)境下的可靠性，利用電子封裝可靠性軟件快速完成了結(jié)構(gòu)的建模和網(wǎng)格劃分，基于隨機振動求解完成了結(jié)構(gòu)隨機振動分析，在分析結(jié)果的基礎(chǔ)上，采用軟件后處理模塊得到了結(jié)構(gòu)的隨機振動疲勞壽命。

</p><p>后續(xù)專講，可靠性的最基本功能，如何做Probability Plot。其中還會用到CDF的經(jīng)驗計算，非常重要。

5月29日，Ansys推出網(wǎng)絡(luò)研討會『汽車電子芯片和模組多維度結(jié)構(gòu)可靠性仿真分析』，會議由Ansys應(yīng)用工程師主管徐志敏為大家作分享，歡迎所有感興趣的用戶報名參會，了解更多詳情。

對於眼鏡的設(shè)計者而言，根據(jù)不同的人眼參數(shù)和視覺環(huán)境打造出能產(chǎn)生最佳影像品質(zhì)的鏡片設(shè)計是十分具有挑戰(zhàn)性的。當(dāng)作者在澳洲Flinders大學(xué)教導(dǎo)視光學(xué) (Optometry)時，時常要求學(xué)生以O(shè)pticStudio建構(gòu)一組特殊的鏡片，達成夜間、槍械狙擊鏡、辦公環(huán)境或者是孩童友善等各式不同的使用目的。同時，非球面鏡參數(shù)和影像波前等數(shù)值也被列入評分的標(biāo)準(zhǔn)。