汽車電子芯片和模組多維度結構可靠性仿真分析

在汽車電子芯片高可靠性要求下,Ansys 結構方案能緊扣 AEC-Q100、GMW3172 標準:芯片級通過溫度循環仿真焊球 / 引線疲勞,模組級模擬振動沖擊下焊點及連接器風險等。

借助Ansys多維度結構可靠性方案,精準對齊標準測試工況,定位失效原因及快速預測壽命。Ansys可以助力客戶設計階段完成可靠性驗證,加速車規級別可靠性認證,為自動駕駛、動力控制模塊提供車規級結構保障。

5月29日,Ansys推出網絡研討會『汽車電子芯片和模組多維度結構可靠性仿真分析』,會議由Ansys應用工程師主管徐志敏為大家作分享,歡迎所有感興趣的用戶報名參會,了解更多詳情。

汽車電子芯片和模組多維度結構可靠性仿真分析的圖1

時間:5月29日(星期四)16:00

講師:

汽車電子芯片和模組多維度結構可靠性仿真分析的圖2

徐志敏 | Ansys應用工程師主管

在PCB及封裝結構產品可靠性有豐富設計仿真經驗,負責Ansys CPS結構可靠性方案;長期支持國內大型半導體、封裝、通訊企業等仿真工作。2015年加入Ansys,負責Mechanical、Sherlock方向的技術支持工作。

形式:線上

費用:免費

汽車電子芯片和模組多維度結構可靠性仿真分析的圖3

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技術鄰簡介:

技術鄰專注于工科技術社區,從最早的CAE技術社區(中國CAE聯盟)發展而來,在CAE領域有20年的教學和咨詢服務經驗。

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汽車電子芯片和模組多維度結構可靠性仿真分析的圖4

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