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傳統的建模方式通過GUI方式切分出特定形狀和大小的光斑面，然后在此光斑面施加隨時間（幅值曲線）和空間（解析場）變化的載荷，效率低，不適合多光斑的研究。ABAQUS軟件可以通過顯式VDLOAD或隱式DLOAD子程序二次開發進行單點/多點激光沖擊模擬，效率高。不同之處在于隱式相對計算時間長但是可以在第一步沖擊后直接在第二步進行回彈分析，無需進行數據傳遞來計算回彈過程。

對于圓對稱元件，強度沿著環形點分布，使它幾乎不可能探測到任何光斑大小的變化。換句話說，這些變化并不發生在方位平面上，而徑向平面上發生的變化與光斑整形無關。同時，既然這不是一個周期結構，橢率或零階的影響也無關緊要。 衍射錐透鏡 錐透鏡將一束激光轉換成一個環形狀（近場的貝塞爾強度輪廓）。它還將點光源成像成沿光軸的一條線，而且還增加了景深。

光斑大小約為15μm，半寬為0.05mm、X和Y的像素數為100將使我們能夠分辨出光斑。參考臂該部分只需要一個平面參考鏡，即物體7，它可以在Z方向上調整位置以改變光程差(深度掃描)。物體7的物體類型為矩形探測器，材料為MIRROR，它的位置應與光源和分束器的位置對齊。在“物體7上的Z位置求解”求解類型為拾取，樣品對于樣品臂y方向偏移20mm。根據系統找到光程差為0的位置。

它的工作原理并不復雜：當高斯光束垂直入射到圓錐面時，光線會被按錐角規律折射，形成沿光軸方向傳播的 “無衍射貝塞爾光束”—— 這種光束的核心特點是，在一定距離內（無衍射區），光斑中心亮斑的大小和強度幾乎不隨傳播距離變化，哪怕遇到輕微遮擋，也能快速恢復原有形狀。圖1.

對于圓對稱元件，強度沿著環形點分布，使它幾乎不可能探測到任何光斑大小的變化。換句話說，這些變化并不發生在方位平面上，而徑向平面上發生的變化與光斑整形無關。同時，既然這不是一個周期結構，橢率或零階的影響也無關緊要。 衍射錐透鏡 錐透鏡將一束激光轉換成一個環形狀（近場的貝塞爾強度輪廓）。它還將點光源成像成沿光軸的一條線，而且還增加了景深。

以下面的圖片為例，是序列模式下視場1（軸上）的光斑與在非序列模式下探測器查看器上生成光斑的大小和形狀進行對比。 圖3：序列（左）vs非序列（右下）光斑大小 對于軸上視場，我們很容易地比較了兩種模式之間的光斑尺寸。非序列模式下的光斑尺寸可以通過探測器查看器底部的“光斑信息”選項卡來確認。

光斑大小約為15μm，半寬為0.05mm、X和Y的像素數為100將使我們能夠分辨出光斑。 06 參考臂 該部分只需要一個平面參考鏡，即物體7，它可以在Z方向上調整位置以改變光程差(深度掃描)。

性能評估-點位偏差性能評估-光斑直徑測量此外，該結果可用于更深入地分析由F-theta系統產生的斑點。例如，對光斑大小的檢查顯示，對于更高的輸入角度，單個焦點變得越來越橢圓形。

為了確保光線能到達探測器，必須再定義一個操作數，當沒有光線通過探測器時，光斑尺寸將為0，即定義操作數NSDD像素#=-3，權重為0，從而結合定義一個具有目標的操作數(OPGT)，以確保光線能達到探測器。 為了找到最佳的光斑大小，將聚焦透鏡參數(半徑與厚度)、探測器的位置設置為變量。優化后的均方根半徑為10μm。

性能評估-點位偏差性能評估-光斑直徑測量此外，該結果可用于更深入地分析由F-theta系統產生的斑點。例如，對光斑大小的檢查顯示，對于更高的輸入角度，單個焦點變得越來越橢圓形。

衍射極限光斑尺寸約等于像素尺寸（像素尺寸為10μm，衍射極限光斑尺寸為9.3μm），探測器幾乎被完全照亮（探測器尺寸為20.5毫米，照亮18.5毫米），圈入能量接近衍射極限。光譜分辨率上期我們已經討論了如何定義和計算光譜儀的分辨率。在這里，我們將討論擴展到衍射和探測器作為線相機的像素大小所施加的限制。

光斑均勻性好，溫度受熱均勻； 5. 高精度溫度恒定系統，確保溫度穩定； 6. 光斑大小可調，適應多個產品尺寸； 7. 鍵合后芯片無位置偏移和損傷。

性能評估-點位偏差性能評估-光斑直徑測量此外，該結果可用于更深入地分析由F-theta系統產生的斑點。例如，對光斑大小的檢查顯示，對于更高的輸入角度，單個焦點變得越來越橢圓形。

1.仿真任務在本例中，光學發射器將產生一個拉蓋爾-高斯空間模式LG00，光斑大小等于10μm。空間連接器的X和Y軸偏移為10μm。光纖的半徑為25μm，這與環繞的通量分析儀的分析半徑相同。使用參數掃描將X和Y的值設置為0,2,4,6,8,10 mm，觀察環形通量的變化。2.仿真步驟下圖所示為光路圖。

舉例而言，RMS光斑尺寸（spot size）優化函數針對光斑大小進行評估時，會選擇最后一面為像面。而RMS波前（wavefront）優化函數，則需要根據光線在出瞳（exit pupil）的表現進行計算。綜合上述，在使用IMSF操作數時，像面不再是系統的最后一面，在這種情況下出瞳就必須被重新定義。 使用IMSF優化操作數時，我們可以針對系統中任意面進行評價函數的計算。

光斑大小約為15μm，半寬為0.05mm、X和Y的像素數為100將使我們能夠分辨出光斑。 06 參考臂 該部分只需要一個平面參考鏡，即物體7，它可以在Z方向上調整位置以改變光程差(深度掃描)。

衍射極限光斑尺寸約等于像素尺寸（像素尺寸為10μm，衍射極限光斑尺寸為9.3μm），探測器幾乎被完全照亮（探測器尺寸為20.5毫米，照亮18.5毫米），圈入能量接近衍射極限。光譜分辨率文章"如何構建光譜儀——理論依據"中已經討論了如何定義和計算光譜儀的分辨率。在這里，我們將討論擴展到衍射和探測器作為線相機的像素大小所施加的限制。

仿真任務在本例中，光學發射器將產生一個拉蓋爾-高斯空間模式LG00，光斑大小等于10μm。空間連接器的X和Y軸偏移為10μm。光纖的半徑為25μm，這與環繞的通量分析儀的分析半徑相同。使用參數掃描將X和Y的值設置為0,2,4,6,8,10 mm，觀察環形通量的變化。2. 仿真步驟下圖所示為光路圖。

可以通過在鏡頭文件中設置表面 6的屬性來消除它們： 現在已經完成了近軸LGL光譜儀的設計，打開標準點列圖 ( Standard Spot Diagram ) 來查看最初選擇的三個波長在像面上 （即探測器上）的光斑大小： 可以看出光斑尺寸非常小，這僅僅是因為我們選擇了近軸透鏡并使用了幾何光線追跡才有可能實現。

可以通過在鏡頭文件中設置表面 6的屬性來消除它們：現在已經完成了近軸LGL光譜儀的設計，打開標準點列圖 ( Standard Spot Diagram ) 來查看最初選擇的三個波長在像面上 （即探測器上）的光斑大小：可以看出光斑尺寸非常小，這僅僅是因為我們選擇了近軸透鏡并使用了幾何光線追跡才有可能實現。在真實情況中，由于衍射效應，會使光斑更大。