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摘要 我們通常可以遵循1896年John William Strutt提出的的“瑞利判據”理論來表征顯微鏡的分辨率。 該理論定義了當一個艾里斑的中心與另一個艾里斑的第一個最小值重疊時，它們就可以被分辨。 在此示例中，我們遵循Rayleigh的理論，并檢查了具有不同數值孔徑（NA）值的顯微鏡物鏡的分辨率。

我們通常可以遵循1896年John William Strutt提出的的“瑞利判據”理論來表征顯微鏡的分辨率。 該理論定義了當一個艾里斑的中心與另一個艾里斑的第一個最小值重疊時，它們就可以被分辨。 在此示例中，我們遵循Rayleigh的理論，并檢查了具有不同數值孔徑（NA）值的顯微鏡物鏡的分辨率。

摘要 通常可以采用瑞利判據理論表征顯微鏡的分辨率，瑞利判據是1896年由第三代瑞利男爵約翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。該理論認為，當一個艾里圖樣的中心與另一個艾里圖樣的第一個最小值重疊時，就可以分辨它們。在這個例子中，我們根據瑞利的理論，檢驗不同數值孔徑(NA)顯微物鏡的分辨率。

通常可以采用瑞利判據理論表征顯微鏡的分辨率，瑞利判據是1896年由第三代瑞利男爵約翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。該理論認為，當一個艾里圖樣的中心與另一個艾里圖樣的第一個最小值重疊時，就可以分辨它們。在這個例子中，我們根據瑞利的理論，檢驗不同數值孔徑(NA)顯微物鏡的分辨率。

摘要 通常可以采用瑞利判據理論表征顯微鏡的分辨率，瑞利判據是1896年由第三代瑞利男爵約翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。該理論認為，當一個艾里圖樣的中心與另一個艾里圖樣的第一個最小值重疊時，就可以分辨它們。在這個例子中，我們根據瑞利的理論，檢驗不同數值孔徑(NA)顯微物鏡的分辨率。

摘要 通常可以采用瑞利判據理論表征顯微鏡的分辨率，瑞利判據是1896年由第三代瑞利男爵約翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。該理論認為，當一個艾里圖樣的中心與另一個艾里圖樣的第一個最小值重疊時，就可以分辨它們。在這個例子中，我們根據瑞利的理論，檢驗不同數值孔徑(NA)顯微物鏡的分辨率。

在超分辨率顯微鏡中，傅里葉環相關[1]用于評估分辨率。 在衍射極限顯微鏡中，分辨率是用瑞利或斯派羅準則估算的[2]。在實踐中，這些系統的分辨率也可以用微粒測量，微粒選擇明顯小于預期分辨率，選定上述標準之一。這些微粒充當形成PSF的點發源，其尺寸給出了圖像分辨率的估計值，同樣，該尺寸根據其定義而變化。在本文中，我們使用OpticStudio中的PSF來更客觀地評估衍射極限成像系統的分辨率。

瑞利準則的分辨率研究 根據瑞利準則，我們研究了三種具有不同數值孔徑的顯微鏡物鏡的分辨率。

摘要 顯微系統的分辨率一般用阿貝判據進行表征。這也解釋了物鏡的數值孔徑(NA)決定了光柵(作為樣本)衍射階在其后焦平面上的濾波。當高衍射級次的衍射被濾除后，像面不會發生干涉，因此不會成像。本實例演示了數值孔徑NA對濾波效果和分辨率的影響。

例如，在熒光顯微鏡中，分辨率是用熒光微珠測量的。從熒光微珠發出的光通常被認為是不相干的。在這種情況下，顯微鏡的性能有望更符合瑞利準則。 在下一節中，我將展示如何使用 OpticStudio 的圖像模擬功能，通過非相干地對距離相近的點的 PSF 求和來研究非相干照明假設下顯微鏡設計的分辨率。

摘要 顯微系統的分辨率一般用阿貝判據進行表征。這也解釋了物鏡的數值孔徑(NA)決定了光柵(作為樣本)衍射階在其后焦平面上的濾波。當高衍射級次的衍射被濾除后，像面不會發生干涉，因此不會成像。本實例演示了數值孔徑NA對濾波效果和分辨率的影響。 1.

摘要 顯微系統的分辨率一般用阿貝判據進行表征。這也解釋了物鏡的數值孔徑(NA)決定了光柵(作為樣本)衍射階在其后焦平面上的濾波。當高衍射級次的衍射被濾除后，像面不會發生干涉，因此不會成像。本實例演示了數值孔徑NA對濾波效果和分辨率的影響。 1. 案例 在VirtualLab Fusion中構建系統 1.

摘要 顯微系統的分辨率一般用阿貝判據進行表征。這也解釋了物鏡的數值孔徑(NA)決定了光柵(作為樣本)衍射階在其后焦平面上的濾波。當高衍射級次的衍射被濾除后，像面不會發生干涉，因此不會成像。本實例演示了數值孔徑NA對濾波效果和分辨率的影響。

用瑞利準則研究顯微鏡物鏡的分辨率 根據瑞利判據，我們研究了三種不同數值孔徑的顯微物鏡的分辨率。 阿貝理論成像的論證 我們搭建了成像系統，以金屬光柵為實驗對象，利用VirtualLab Fusion演示了阿貝的成像理論。

簡介成像系統的性能與其分辨率有關，但分辨率的定義各不相同。在超分辨率顯微鏡中，傅里葉環相關[1]用于評估分辨率。在衍射極限顯微鏡中，分辨率是用瑞利或斯派羅準則估算的[2]。在實踐中，這些系統的分辨率也可以用微粒測量，微粒選擇明顯小于預期分辨率，選定上述標準之一。這些微粒充當形成 PSF 的點發源，其尺寸給出了圖像分辨率的估計值，同樣，該尺寸根據其定義而變化。

用瑞利準則研究顯微鏡物鏡的分辨率 根據瑞利判據，我們研究了三種不同數值孔徑的顯微物鏡的分辨率。

在實踐中，我們經常使用瑞利準則來表征顯微鏡或望遠鏡系統的分辨率極限。 其定義如下：當一個點的衍射圖樣的中心剛好與另一個點的衍射圖樣的第一個最小值重疊時，根據瑞利準則，它們可以被分辨。

光學測量＞顯微 任務/系統視圖 亮點 ? 顯微鏡系統中光柵的全矢量分析? 在幾秒鐘內對復雜系統進行快速高性能分析? 光線追跡和物理光學建模之間的簡單切換 說明：光源 說明：透鏡系統 說明：樣品結構 說明：探測器

- 用瑞利判據研究顯微鏡物鏡的分辨率

光學測量＞顯微 任務/系統視圖 亮點 ?顯微鏡系統中光柵的全矢量分析?在幾秒鐘內對復雜系統進行快速高性能分析?光線追跡和物理光學建模之間的簡單切換 說明：光源 說明：透鏡系統 說明：樣品結構 說明：探測器