用阿貝判據(jù)研究顯微系統(tǒng)的分辨率

摘要

 

顯微系統(tǒng)的分辨率一般用阿貝判據(jù)進(jìn)行表征。這也解釋了物鏡的數(shù)值孔徑(NA)決定了光柵(作為樣本)衍射階在其后焦平面上的濾波。當(dāng)高衍射級次的衍射被濾除后,像面不會發(fā)生干涉,因此不會成像。本實例演示了數(shù)值孔徑NA對濾波效果和分辨率的影響。

用阿貝判據(jù)研究顯微系統(tǒng)的分辨率的圖1

 

1.案例

用阿貝判據(jù)研究顯微系統(tǒng)的分辨率的圖2

 

在VirtualLab Fusion中構(gòu)建系統(tǒng)

 

1.系統(tǒng)構(gòu)建模塊

用阿貝判據(jù)研究顯微系統(tǒng)的分辨率的圖3

 

2.組件連接器

 

用阿貝判據(jù)研究顯微系統(tǒng)的分辨率的圖4

幾何光學(xué)仿真

 

以光線追跡

 

1.結(jié)果:光線追跡

 

用阿貝判據(jù)研究顯微系統(tǒng)的分辨率的圖5

快速物理光學(xué)仿真

 

以場追跡

 

1.NA=1.4時的光柵成像 

用阿貝判據(jù)研究顯微系統(tǒng)的分辨率的圖6

 

2. NA=0.75時的光柵成像 

  

用阿貝判據(jù)研究顯微系統(tǒng)的分辨率的圖7

 

3.NA=0.5時的光柵成像 

  

用阿貝判據(jù)研究顯微系統(tǒng)的分辨率的圖8

 

文件信息

用阿貝判據(jù)研究顯微系統(tǒng)的分辨率的圖9

 

了解更多

-       Debye-Wolf Integral Calculator

-       Analyzing High-NA Objective Lens

-       Resolution Investigation for Microscope Objective Lenses by RayleighCriterion

登錄后免費(fèi)查看全文
立即登錄
App下載
技術(shù)鄰APP
工程師必備
  • 項目客服
  • 培訓(xùn)客服
  • 平臺客服

TOP