用阿貝判據研究顯微系統的分辨率
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摘要
顯微系統的分辨率一般用阿貝判據進行表征。這也解釋了物鏡的數值孔徑(NA)決定了光柵(作為樣本)衍射階在其后焦平面上的濾波。當高衍射級次的衍射被濾除后,像面不會發生干涉,因此不會成像。本實例演示了數值孔徑NA對濾波效果和分辨率的影響。
1.案例
在VirtualLab Fusion中構建系統
1.系統構建模塊
2.組件連接器
幾何光學仿真
以光線追跡
1.結果:光線追跡
快速物理光學仿真
以場追跡
1.NA=1.4時的光柵成像
2. NA=0.75時的光柵成像
3.NA=0.5時的光柵成像
文件信息
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