用阿貝判據研究顯微系統的分辨率

2025年9月10日 10:03
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摘要
 
顯微系統的分辨率一般用阿貝判據進行表征。這也解釋了物鏡的數值孔徑(NA)決定了光柵(作為樣本)衍射階在其后焦平面上的濾波。當高衍射級次的衍射被濾除后，像面不會發生干涉，因此不會成像。本實例演示了數值孔徑NA對濾波效果和分辨率的影響。
用阿貝判據研究顯微系統的分辨率的圖1


 
1. 案例

用阿貝判據研究顯微系統的分辨率的圖2

 ?
在VirtualLab Fusion中構建系統
 
1. 系統構建模塊
用阿貝判據研究顯微系統的分辨率的圖3


 
2. 組件連接器
用阿貝判據研究顯微系統的分辨率的圖4
 

?
幾何光學仿真
 
以光線追跡
 
1. 結果：光線追跡
 
用阿貝判據研究顯微系統的分辨率的圖5

?
快速物理光學仿真
 
以場追跡
 
1. NA=1.4時的光柵成像 
用阿貝判據研究顯微系統的分辨率的圖6


 
2.  NA=0.75時的光柵成像 
  
用阿貝判據研究顯微系統的分辨率的圖7

 
3. NA=0.5時的光柵成像 
  
用阿貝判據研究顯微系統的分辨率的圖8

 
文件信息
用阿貝判據研究顯微系統的分辨率的圖9


 
了解更多
-       Debye-Wolf Integral Calculator
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