如果該位置和探測(cè)器的實(shí)際位置在表面的同一側(cè),則關(guān)注的重點(diǎn)采樣區(qū)域是實(shí)像。如果散射表面位于最佳聚焦位置和探測(cè)器之間,則關(guān)注的重點(diǎn)采樣區(qū)域是虛像。在后一種情況下,必須檢查反轉(zhuǎn)光線方向(Reverse Ray Directions)選項(xiàng)。注意在步驟5中使用的歸一化的平均光線方向(紅色箭頭9)。
如果該位置和探測(cè)器的實(shí)際位置在表面的同一側(cè),則關(guān)注的重點(diǎn)采樣區(qū)域是實(shí)像。如果散射表面位于最佳聚焦位置和探測(cè)器之間,則關(guān)注的重點(diǎn)采樣區(qū)域是虛像。在后一種情況下,必須檢查反轉(zhuǎn)光線方向(Reverse Ray Directions)選項(xiàng)。注意在步驟5中使用的歸一化的平均光線方向(紅色箭頭9)。
一般而言,偏振片和玻板(waveplate)確實(shí)是用在準(zhǔn)直入射光線或發(fā)散角(divergence angle)極小的情況下。假如是入射光束是準(zhǔn)直的,且與Jones Matrix互相垂直。我們可以經(jīng)由 k ? E = 0以及傳播向量k具有{0, 0, 1}分量,這兩個(gè)前提得知Ez一定為0。同時(shí),我們可以利用Ex和Ey表示入射光的偏振態(tài)。