元件級可靠性的案例
MTTFd的含義及液壓元件可靠性計算（轉自液壓那些事）
液壓元件從投入運行到發生危險失效時的平均工作時間。指相鄰兩次危險失效之間的平均工作時間，也為平均危險失效間隔。
MTTFd通過安全可靠性標準方法測試統計評估可獲取：
式中：
nop—為年平均動作次數（或時間），單位：動作次數/年；
MTTFd—平均危險失效前時間，單位為：年。
B10d=2×B10
B10壽命—液壓元件在規定運行條件下，預期有10%將發生失效時的平均壽命。即動作次數（或時間）。這是液壓元件可靠性標準的特征數據。
在GB/T16855.1-2008《機械安全控制系統有關安全部件第1部分：
設計通則》根據ISO13849-1：
2006（IDT）規定：
MTTFd=30年該值是用統計學確定的指數函數，表示至第一年末，危險失效概率不超過3.3%（100個產品有3個發生危險失效可能），至第三十年末，危險失效概率不超過63%。MTTFd=150年表示至第一年末，危險失效概率不超過0.6%（1000個產過品有不超過7個發險失效的可能生危險失效的可能）。
年是計算量綱。
實際產品最長使用壽命一般不可能超過20年。
危險失效前時間數據計算案例
一個液壓換向閥（MTTFd=150年）由設備繼電器操作，在最大負載下持續換向動作（B10d=400000循環）。
根據設備的循環時間：每次操作閥的時間2秒，每天24小時和每年365天工作。
這導致閥的MTTFd壽命為0.25年。
根據元件計數方法，這兩個組件的組合導致MTTFd值僅為0.25年！
B10d-直到10％的設備發生危險故障的循環次數
DC-診斷覆蓋范圍
CCF-常見原因失敗
SYS-系統完整性
FSM-功能安全管理
FT-容錯=ISO13849中的類別
液壓元件安全可靠性表示方法，值得關注。
展開 系統級封裝可靠性的研究現狀及存在問題
同時，傳統摩爾定律( Moore's Law) 的特征尺寸不斷接近集成電路技術工藝的物理極限，單純縮小芯片特征尺寸已不能滿足半導體技術和電子產品發展的需求，系統級封裝( System in Package，SiP) 技術從封裝工藝角度成為另一種延續摩爾定律的技術路線，越來越受到關注并得到應用。
從互連技術角度，SiP 可分為兩大類: ① 通過傳統的芯片組裝技術實現多芯片或器件的封裝，如引線鍵合、載帶自動焊( TAB) 、倒裝焊等; ② 通過直接互連實現芯片堆疊，如通過硅通孔( TSV) 技術實現將一個芯片直接連接到另一個芯片上。圖 1 為國際半導體技術藍圖( ITＲS) 總結的當前 SiP 的主要封裝結構。可以看出，系統級封裝已經不再是一種單一的封裝技術，這種 技 術 包 括 引 線 鍵 合、倒 裝 焊、TAB、封 裝 堆 疊( PoP) 、封裝嵌入( PiP) 、芯片堆疊( CoC) 、圓片級封裝( WLP) 、硅通孔( TSV) 、埋入式基板等封裝工藝的混合開發和集成。SiP 綜合了多種封裝工藝，內部結構復雜，使用材料多樣，這導致了其面臨著更加復雜的可靠性問題。
經過多年努力，人們已對 SiP 的可靠性開展了大量的研究工作，并已取得了一定的成果。筆者將介紹SiP 產品在熱應力、機械應力和電磁干擾下的可靠性研究現狀和主要失效機理，并針對航天領域使用的SiP 產品，分析可靠性方面依然存在的問題，并提出相關建議。
1 SiP 的可靠性研究現狀
相比單片集成電路，SiP 內部復雜的封裝結構以及多種芯片、元件的組合構造導致其對熱應力、機械應力以及電磁干擾更加敏感，易出現失效。
1.1 熱應力
當芯片、元件高度集成時，產品在組裝焊接時會造成溫度分布不均勻; 在工作時，隨著內部芯片、組件產熱的增加，溫度會不斷增加，尤其是功率型器件的存在。
展開 PPT | 車規級功率器件封裝及可靠性
PPT | 車規級功率器件封裝及可靠性
AECQ102認證提高車規級光器件的可靠性要求
克萊斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質及質量系統標準而設立了汽車電子(AEC),是主要汽車制造商與美國的主要部件制造商匯聚一起成立的、以車載電子部件的可靠性以及認定標準的規格化為目的的團體,AEC建立了質量控制的標準.[AEC-Q100]是針對于集成電路應力測試認證的失效機理,針對于分立器件的標準為 [AEC-Q101],針對于LED的標準為 [AEC-Q102],針對于被動元件設計為[AEC-Q200]
車燈是整車的重要組件，圍繞車燈及其附件的可靠性試驗標準紛繁復雜，各主機廠的試驗標準均有不同描述，通用性較差。由福特、克萊斯勒、通用組成的汽車電子（AEC）頒布了光電器件的可靠性標準AEC-Q102，覆蓋了LED、激光組件、光電二極管、光電晶體管等分立器件，共分28個大項，對光電器件的可靠性展開了嚴格的測試要求，為主機廠提供了可靠性高、使用壽命長的光電器件。
測試周期：2-3個月，提供全面的認證計劃、測試等服務
服務內容：
華碧實驗室AEC-Q技術團隊，執行過大量的AEC-Q測試案例，積累了豐富的認證試驗經驗，可為您提供更、更可靠的測試服務。
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