光學(xué)分辨率分析的案例
分辨率的分析講解
如何更好地分辨物體是光學(xué)科學(xué)界一直存在的問題，因此如何判斷光學(xué)系統(tǒng)的分辨率是一個重要的問題。根據(jù)Ernst Karl Abbe(1840-1905)和John William Strutt，Third Baron Rayleigh(1842-1919)等人的工作，我們在VirtualLab Fusion中演示了阿貝分辨率極限和瑞利判據(jù)，并說明了如何使用這兩種分析來評估典型成像系統(tǒng)的性能。 用瑞利準(zhǔn)則研究顯微鏡物鏡的分辨率
根據(jù)瑞利判據(jù)，我們研究了三種不同數(shù)值孔徑的顯微物鏡的分辨率。 阿貝理論成像的論證
我們搭建了成像系統(tǒng)，以金屬光柵為實驗對象，利用VirtualLab Fusion演示了阿貝的成像理論。 For more information send a message to: support@infotek.com.cn / support@infocrops.comInternet: http://www.infotek.com.cn / http://www.honglun-seminary.com
展開 [NEWSLETTER] 分辨率的分析
如何更好地分辨物體是光學(xué)科學(xué)界一直存在的問題，因此如何判斷光學(xué)系統(tǒng)的分辨率是一個重要的問題。根據(jù)Ernst Karl Abbe(1840-1905)和John William Strutt，Third Baron Rayleigh(1842-1919)等人的工作，我們在VirtualLab Fusion中演示了阿貝分辨率極限和瑞利判據(jù)，并說明了如何使用這兩種分析來評估典型成像系統(tǒng)的性能。
用瑞利準(zhǔn)則研究顯微鏡物鏡的分辨率
根據(jù)瑞利判據(jù)，我們研究了三種不同數(shù)值孔徑的顯微物鏡的分辨率。
阿貝理論成像的論證
我們搭建了成像系統(tǒng)，以金屬光柵為實驗對象，利用VirtualLab Fusion演示了阿貝的成像理論。
For more information send a message to: support@infotek.com.cn / support@infocrops.com
展開 VirtualLab運用：切爾尼-特納光譜儀—光譜分辨率的分析
光學(xué)測量＞光譜儀
任務(wù)/系統(tǒng)描述
亮點
復(fù)雜光學(xué)系統(tǒng)的高性能分析
使用嚴(yán)格算法對光柵進行嚴(yán)格矢量分析
說明：光源
說明：孔徑
說明：拋物面反射鏡
說明：光柵
說明：探測器
結(jié)果：3D光線追跡
結(jié)果：波長的變化
由于波長的變化，入瞳的像可經(jīng)過探測器孔徑進行掃描
結(jié)果：單色儀的分辨率
光譜分辨率的定義：
光譜分辨率：A=1244
文件&技術(shù)信息
飛機發(fā)動機引起的機艙噪聲的高分辨率振動聲學(xué)測量與分析
在測試期間將采集的數(shù)據(jù)處理到頻域以獲得工作變形分析，然后進一步處理以獲得STI估計。
圖文快覽
測試期間使用的傳感器配置。主要測試是使用5種配置C1到C5完成的，這些配置依次安裝和測量（圖a）。24個傳感器固定安裝在ISTAR的左側(cè)（圖b）
用于發(fā)動機測試的傳感器配置。在275個傳感器的配置下進行發(fā)動機運行。安裝需要固定每個傳感器和電纜，禁止劃行網(wǎng)格方法
所有5種配置中存在的傳感器的2σ偏差。該傳感器位于機身中部，其振幅和相位偏差代表所有固定傳感器
激勵器和發(fā)動機激勵導(dǎo)致的工作變形分析
基于
ODS
計算的
STI
的發(fā)散矢量場
總結(jié)和未來工作
在持續(xù)兩周的測量活動中，DLR ISTAR在1350個位置獲得了振動響應(yīng)。此外，在275個位置測量了發(fā)動機引起的振動。這些數(shù)據(jù)涵蓋了低頻到中頻范圍，并且對于有限元模型更新中的計劃工作具有足夠的質(zhì)量。此外，使用STI對能量傳遞路徑進行了首次計算。這些在低頻范圍內(nèi)并沒有顯示出很多驚喜，但這大部分是意料之中的。STI計算是可能的，并且顯示了直觀可行的能量流場，這一事實證明實驗數(shù)據(jù)具有良好的質(zhì)量和足夠的空間分辨率。
對STI的深入分析需要更多的工作，并將在不久的將來完成：所提出的分析相當(dāng)隨意地選取了74 Hz頻帶。雖然它很好地代表了較低聲學(xué)頻率范圍內(nèi)的結(jié)構(gòu)行為，但這完全是通過工程判斷完成的。
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Moldex3D模流分析之應(yīng)用先進CAE工具驗證光學(xué)產(chǎn)品翹曲及折射率
大綱
精密射出成型技術(shù)常用于大量生產(chǎn)平價的光學(xué)組件，但制造過程常會發(fā)生產(chǎn)品變形和折射率分布不均問題。實務(wù)上多利用有限元素法于來了解自由曲面的Alvarez鏡片在射出成型過程中受到的影響，并藉由干涉儀測量光學(xué)波前。此測量運用折射率匹配液來降低或消除鏡片的表面屈亮度，因此即便波前發(fā)生大偏移，也能夠透過一般的波前量測系統(tǒng)量測。此案例將透過Moldex3D分析表面變形和折射率分布對于波前的影響。
挑戰(zhàn)
產(chǎn)品因熱收縮、不均勻的折射率分布和雙折射等光學(xué)質(zhì)量問題
如何以有限元素法仿真成型過程
如何分析自由曲面光學(xué)產(chǎn)品的精密射出成型制程
驗證光學(xué)制品仿真結(jié)果
解決方案
Moldex3D提供自由曲面光學(xué)鏡片兩項關(guān)鍵且準(zhǔn)確的參數(shù)模擬：產(chǎn)品翹曲及折射率；同時也能呈現(xiàn)充填、保壓、冷卻等階段真實三維的模擬結(jié)果。
效益
加強對精密射出成型的自由曲面光學(xué)產(chǎn)品之質(zhì)量管控
可視化并量測出幾何變形結(jié)果
可視化并量測折射率變化
了解產(chǎn)品表面變形和折射率如何影響前導(dǎo)波變化
案例研究
本案例目標(biāo)為藉由有限元素模型，計算出自由曲面光學(xué)產(chǎn)品的幾何變形和折射率，進而測量前導(dǎo)波，用于評估精密射出鏡片的光學(xué)質(zhì)量，同時比較仿真和實際測量的結(jié)果，以了解CAE技術(shù)對于光學(xué)產(chǎn)品的仿真準(zhǔn)確度。
Moldex3D以HyperMesh網(wǎng)格建立三維有限元素模型，用來仿真產(chǎn)品變形和折射率分布(圖一)。本產(chǎn)品使用的材料為PMMA Plexiglas V825。Moldex3D可偵測并呈現(xiàn)產(chǎn)品的表面變形，以及不均勻的折射率分布(圖二)。接下來再以實際測量驗證，計算像差。
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