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光學分辨率分析

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創建者:匿名 創建時間:2026-01-05
光學分辨率分析圖1

光學分辨率分析的實例教程

如何更好地分辨物體是光學科學界一直存在的問題,因此如何判斷光學系統的分辨率是一個重要的問題。根據Ernst Karl Abbe(1840-1905)和John William Strutt,Third Baron Rayleigh(1842-1919)等人的工作,我們在VirtualLab Fusion中演示了阿貝分辨率極限和瑞利判據,并說明了如何使用這兩種分析來評估典型成像系統的性能。 用瑞利準則研究顯微鏡物鏡的分辨率 根據瑞利判據,我們研究了三種不同數值孔徑的顯微物鏡的分辨率。 阿貝理論成像的論證 我們搭建了成像系統,以金屬光柵為實驗對象,利用VirtualLab Fusion演示了阿貝的成像理論。 For more information send a message to: support@infotek.com.cn / support@infocrops.comInternet: http://www.infotek.com.cn / http://www.honglun-seminary.com
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如何更好地分辨物體是光學科學界一直存在的問題,因此如何判斷光學系統的分辨率是一個重要的問題。根據Ernst Karl Abbe(1840-1905)和John William Strutt,Third Baron Rayleigh(1842-1919)等人的工作,我們在VirtualLab Fusion中演示了阿貝分辨率極限和瑞利判據,并說明了如何使用這兩種分析來評估典型成像系統的性能。 用瑞利準則研究顯微鏡物鏡的分辨率 根據瑞利判據,我們研究了三種不同數值孔徑的顯微物鏡的分辨率。 阿貝理論成像的論證 我們搭建了成像系統,以金屬光柵為實驗對象,利用VirtualLab Fusion演示了阿貝的成像理論。 For more information send a message to: support@infotek.com.cn / support@infocrops.com
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光學測量>光譜儀 任務/系統描述 亮點 復雜光學系統的高性能分析 使用嚴格算法對光柵進行嚴格矢量分析 說明:光源 說明:孔徑 說明:拋物面反射鏡 說明:光柵 說明:探測器 結果:3D光線追跡 結果:波長的變化 由于波長的變化,入瞳的像可經過探測器孔徑進行掃描 結果:單色儀的分辨率 光譜分辨率的定義: 光譜分辨率:A=1244 文件&技術信息
在測試期間將采集的數據處理到頻域以獲得工作變形分析,然后進一步處理以獲得STI估計。 圖文快覽 測試期間使用的傳感器配置。主要測試是使用5種配置C1到C5完成的,這些配置依次安裝和測量(圖a)。24個傳感器固定安裝在ISTAR的左側(圖b) 用于發動機測試的傳感器配置。在275個傳感器的配置下進行發動機運行。安裝需要固定每個傳感器和電纜,禁止劃行網格方法 所有5種配置中存在的傳感器的2σ偏差。該傳感器位于機身中部,其振幅和相位偏差代表所有固定傳感器 激勵器和發動機激勵導致的工作變形分析 基于 ODS 計算的 STI 的發散矢量場 總結和未來工作 在持續兩周的測量活動中,DLR ISTAR在1350個位置獲得了振動響應。此外,在275個位置測量了發動機引起的振動。這些數據涵蓋了低頻到中頻范圍,并且對于有限元模型更新中的計劃工作具有足夠的質量。此外,使用STI對能量傳遞路徑進行了首次計算。這些在低頻范圍內并沒有顯示出很多驚喜,但這大部分是意料之中的。STI計算是可能的,并且顯示了直觀可行的能量流場,這一事實證明實驗數據具有良好的質量和足夠的空間分辨率。 對STI的深入分析需要更多的工作,并將在不久的將來完成:所提出的分析相當隨意地選取了74 Hz頻帶。雖然它很好地代表了較低聲學頻率范圍內的結構行為,但這完全是通過工程判斷完成的。
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大綱 精密射出成型技術常用于大量生產平價的光學組件,但制造過程常會發生產品變形和折射分布不均問題。實務上多利用有限元素法于來了解自由曲面的Alvarez鏡片在射出成型過程中受到的影響,并藉由干涉儀測量光學波前。此測量運用折射匹配液來降低或消除鏡片的表面屈亮度,因此即便波前發生大偏移,也能夠透過一般的波前量測系統量測。此案例將透過Moldex3D分析表面變形和折射分布對于波前的影響。 挑戰 產品因熱收縮、不均勻的折射分布和雙折射等光學質量問題 如何以有限元素法仿真成型過程 如何分析自由曲面光學產品的精密射出成型制程 驗證光學制品仿真結果 解決方案 Moldex3D提供自由曲面光學鏡片兩項關鍵且準確的參數模擬:產品翹曲及折射;同時也能呈現充填、保壓、冷卻等階段真實三維的模擬結果。 效益 加強對精密射出成型的自由曲面光學產品之質量管控 可視化并量測出幾何變形結果 可視化并量測折射變化 了解產品表面變形和折射如何影響前導波變化 案例研究 本案例目標為藉由有限元素模型,計算出自由曲面光學產品的幾何變形和折射,進而測量前導波,用于評估精密射出鏡片的光學質量,同時比較仿真和實際測量的結果,以了解CAE技術對于光學產品的仿真準確度。 Moldex3D以HyperMesh網格建立三維有限元素模型,用來仿真產品變形和折射分布(圖一)。本產品使用的材料為PMMA Plexiglas V825。Moldex3D可偵測并呈現產品的表面變形,以及不均勻的折射分布(圖二)。接下來再以實際測量驗證,計算像差。
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光學分辨率分析圖2

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如何更好地分辨物體是光學科學界一直存在的問題,因此如何判斷光學系統的分辨率是一個重要的問題。根據Ernst Karl Abbe(1840-1905)和John William Strutt,Third Baron Rayleigh(1842-1919)等人的工作,我們在VirtualLab Fusion中演示了阿貝分辨率極限和瑞利判據,并說明了如何使用這兩種分析來評估典型成像系統的性能。
光學測量>光譜儀 任務/系統描述 亮點 復雜光學系統的高性能分析 使用嚴格算法對光柵進行嚴格矢量分析 說明:光源 說明:孔徑 說明:拋物面反射鏡 說明:光柵 說明:探測器
如何更好地分辨物體是光學科學界一直存在的問題,因此如何判斷光學系統的分辨率是一個重要的問題。根據Ernst Karl Abbe(1840-1905)和John William Strutt,Third Baron Rayleigh(1842-1919)等人的工作,我們在VirtualLab Fusion中演示了阿貝分辨率極限和瑞利判據,并說明了如何使用這兩種分析來評估典型成像系統的性能。 用瑞利準則研究顯微鏡物鏡的分辨率
飛機發動機,特別是當直接安裝在機身上時,會向機身注入大量的音調振動,從而降低機艙噪音的可聽性和舒適性。減少這種噪音需要開發專門的降噪系統。這是一項耗時且昂貴的工作。為了加速和簡化這一過程,需要對飛機結構和發動機注入的力進行足夠詳細的數值模擬。德宇航(DLR) ISTAR飛機(達索獵鷹2000 LX),正用于廣泛的振動測量活動
大綱 精密射出成型技術常用于大量生產平價的光學組件,但制造過程常會發生產品變形和折射率分布不均問題。實務上多利用有限元素法于來了解自由曲面的Alvarez鏡片在射出成型過程中受到的影響,并藉由干涉儀測量光學波前。此測量運用折射率匹配液來降低或消除鏡片的表面屈亮度,因此即便波前發生大偏移,也能夠透過一般的波前量測系統量測。此案例將透過Moldex3D分析表面變形和折射率分布對于波前的影響