工業(yè)顯微鏡
關(guān)注創(chuàng)建者：匿名 創(chuàng)建時(shí)間：2026-01-05
工業(yè)顯微鏡的視頻教程
小波分析和MATLAB程序詳解視頻與科研顯微鏡
【內(nèi)容簡(jiǎn)介】《第二版小波分析與應(yīng)用和MATLAB程序詳解視頻》（因?yàn)橐曨l中含有QQ號(hào)碼，在淘寶網(wǎng)上被下架了）共9章58節(jié)視頻，總學(xué)時(shí)1272分鐘，合21.2小時(shí)。主要內(nèi)容包括：傅里葉變換提升到小波分析及小波函數(shù)等基本概念，一維和二維離散小波變換等命令的功能及語法，靜態(tài)離散小波變換等命令的功能及語法，小波包分解及最優(yōu)小波樹等概念與降噪應(yīng)用，小波分析在一維信號(hào)降噪方面的應(yīng)用問題，小波分析在圖像降噪與壓縮及紋理增強(qiáng)等方面的應(yīng)用問題
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工業(yè)顯微鏡的實(shí)例教程
GX53倒置顯微鏡專為工業(yè)材料檢測(cè)而設(shè)計(jì)，憑借卓越的光學(xué)性能與高度模塊化架構(gòu)，顯著提升對(duì)大尺寸、厚截面樣品的觀測(cè)效率與成像質(zhì)量。該系統(tǒng)融合先進(jìn)成像技術(shù)與智能分析軟件，廣泛適用于鋼鐵、汽車、電子等制造領(lǐng)域的精密檢測(cè)任務(wù)。
奧林巴斯光學(xué)顯微鏡：https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/microscope/opt/
產(chǎn)品鏈接：https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/microscope/gx53/
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在光學(xué)成像方面，GX53搭載高穩(wěn)定性白光LED光源，確保長時(shí)間工作下色溫一致，避免因光源波動(dòng)影響圖像再現(xiàn)性。系統(tǒng)引入波前像差控制與圖像陰影校正算法，有效抑制光學(xué)畸變，實(shí)現(xiàn)高對(duì)比度、細(xì)節(jié)豐富的清晰成像。針對(duì)表面形貌復(fù)雜的工件，其全聚焦圖像合成功能可自動(dòng)采集多個(gè)焦平面數(shù)據(jù)，并無縫融合生成整體清晰的全景視圖。此外，系統(tǒng)支持高動(dòng)態(tài)范圍（HDR）成像，同步保留高亮與暗部區(qū)域細(xì)節(jié)，克服傳統(tǒng)單次曝光中信息丟失的問題。
設(shè)備配備編碼式物鏡轉(zhuǎn)換器，結(jié)合PRECiV智能圖像分析軟件，實(shí)現(xiàn)從圖像采集、參數(shù)測(cè)量到報(bào)告生成的全流程自動(dòng)化。用戶可快速拼接大視野全景圖像，并利用內(nèi)置工具完成結(jié)構(gòu)識(shí)別、幾何尺寸測(cè)量及數(shù)據(jù)歸檔。軟件界面簡(jiǎn)潔直觀，大幅降低操作門檻，使經(jīng)驗(yàn)較少的技術(shù)人員也能高效執(zhí)行復(fù)雜分析任務(wù)。系統(tǒng)還支持顯微鏡配置參數(shù)一鍵復(fù)位，保障重復(fù)檢測(cè)的一致性與可靠性。
得益于模塊化設(shè)計(jì)理念，GX53可根據(jù)不同產(chǎn)線或檢測(cè)需求靈活選配組件，構(gòu)建定制化解決方案。無論是日常質(zhì)量控制還是深度材料表征，該平臺(tái)均提供穩(wěn)定、精準(zhǔn)且可擴(kuò)展的技術(shù)支撐。通過硬件與軟件的深度協(xié)同，GX53不僅優(yōu)化了工業(yè)顯微檢測(cè)流程，更推動(dòng)該領(lǐng)域向高效化、標(biāo)準(zhǔn)化方向持續(xù)演進(jìn)。
展開 BX53M不僅繼承了傳統(tǒng)光學(xué)顯微技術(shù)的可靠性，更融合現(xiàn)代數(shù)字成像與智能控制理念，為工業(yè)質(zhì)量管控、失效分析及新材料開發(fā)提供精準(zhǔn)、高效且高度可定制的顯微解決方案。
奧林巴斯BX53-P偏光顯微鏡專為高精度偏振光觀測(cè)而打造，集成UIS2無窮遠(yuǎn)校正光學(xué)系統(tǒng)與低應(yīng)力光學(xué)元件，在工業(yè)材料分析領(lǐng)域展現(xiàn)出卓越性能。該系統(tǒng)適用于晶體結(jié)構(gòu)、復(fù)合材料、礦物薄片及其他各向異性樣品的觀察與定量評(píng)估。
奧林巴斯光學(xué)顯微鏡：https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/microscope/opt/
產(chǎn)品鏈接：https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/microscope/bx53-p/
其核心優(yōu)勢(shì)在于高度穩(wěn)定的光學(xué)路徑設(shè)計(jì)。即便在引入檢偏器、補(bǔ)償器或波片等偏振組件時(shí)，UIS2架構(gòu)仍能維持成像質(zhì)量無衰減，并有效消除附加元件引起的放大倍率偏差，從而保障從基礎(chǔ)觀測(cè)到復(fù)雜干涉圖分析的一致性與準(zhǔn)確性。此外，系統(tǒng)兼容BX3系列中間附件及各類工業(yè)相機(jī)與數(shù)字成像設(shè)備，便于無縫集成至自動(dòng)化檢測(cè)流程中。
BX53-P配備可調(diào)焦Bertrand透鏡，支持明場(chǎng)（orthoscopic）與錐光（conoscopic）模式快速切換，清晰呈現(xiàn)后焦面干涉圖樣。配合視場(chǎng)光闌優(yōu)化，可穩(wěn)定獲取高對(duì)比度錐光圖像，滿足對(duì)晶體取向及雙折射特性的精細(xì)解析需求。
為提升測(cè)量靈活性，系統(tǒng)提供六種補(bǔ)償器選項(xiàng)，延遲量程覆蓋0至20λ（約11000 nm）。其中，Berek與Senarmont補(bǔ)償器支持全視場(chǎng)內(nèi)連續(xù)調(diào)節(jié)延遲值，適用于高對(duì)比成像與精確雙折射量化；Brace-Koehler系列則針對(duì)微弱雙折射信號(hào)提供亞納米級(jí)靈敏度。搭配546 nm干涉濾光片使用，可進(jìn)一步提升測(cè)量重復(fù)性與精度。
機(jī)械結(jié)構(gòu)方面，BX53-P搭載高精度旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)，內(nèi)置45°定位卡位及中心調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，確保樣品旋轉(zhuǎn)過程平穩(wěn)精準(zhǔn)。
展開 以共聚焦技術(shù)為原理的共聚焦顯微鏡，是用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。在汽車工業(yè)中，非接觸式共聚焦測(cè)量技術(shù)精確地確定了氣缸運(yùn)行缸孔表面、凸輪軸、連桿、涂層或金屬板在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)過程中的表面結(jié)構(gòu)質(zhì)量。
1、激光焊接焊縫
利用三維線傳感器檢測(cè)激光焊接焊縫的質(zhì)量，包括氣孔和砂眼等。此外，焊縫的完整性和一致性可以完全自動(dòng)化檢測(cè)。如果軟件判定測(cè)量結(jié)果為不良，則需要重新焊接和檢測(cè)。通過這種方式，可以降低廢品率。
2、車身涂層表面(外觀)
涂漆和未涂漆的噴涂和未噴涂金屬片的表面外觀在微觀上是由微觀結(jié)構(gòu)和波紋決定的。使用激光共聚焦顯微鏡可以用于測(cè)量事先定義的不同部位和不同生產(chǎn)工藝流程的車身表面并記錄單個(gè)波長范圍內(nèi)的幅值。通過這些數(shù)據(jù)可以評(píng)估材料和制造條件的影響。一某個(gè)區(qū)域剖面的測(cè)量結(jié)果可以與汽車模型的設(shè)定值進(jìn)行比較。
3、墊圈
激光共聚焦顯微鏡的測(cè)量速度比接觸式測(cè)量快數(shù)百倍。此外，共聚焦顯微系統(tǒng)以更高的精度對(duì)亞微米范圍的結(jié)構(gòu)進(jìn)行非接觸式測(cè)量。在短短幾分鐘內(nèi)，不僅可以測(cè)量整個(gè)面板表面密封件的性能，還可以測(cè)量其與表面組成相關(guān)的各種數(shù)據(jù)點(diǎn)。
4、金屬板
通過軋制形成的油穴不僅可以用于儲(chǔ)油而且能夠改善金屬板成型性能。經(jīng)過實(shí)踐檢驗(yàn)的相關(guān)分析工具同樣適用于評(píng)估這些重要的功能性三維結(jié)構(gòu)。除粗糙度評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)外，還可以計(jì)算和評(píng)估表面封閉區(qū)域的微體積。應(yīng)用拼接功能可以將測(cè)量范圍擴(kuò)大到幾個(gè)毫米。
VT6000激光共聚焦顯微鏡基于共聚焦顯微技術(shù)，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，可以對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量。
展開 熒光顯微鏡主要應(yīng)用在生物領(lǐng)域及醫(yī)學(xué)研究中，能得到細(xì)胞或組織內(nèi)部微細(xì)結(jié)構(gòu)的熒光圖像，在亞細(xì)胞水平上觀察諸如Ca2+ 、PH值，膜電位等生理信號(hào)及細(xì)胞形態(tài)的變化，是形態(tài)學(xué)，分子生物學(xué)，神經(jīng)科學(xué)，藥理學(xué)，遺傳學(xué)等領(lǐng)域中新一代強(qiáng)有力的研究工具。
以共聚焦技術(shù)為原理的共聚焦顯微鏡，是用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。
材料科學(xué)的目標(biāo)是研究材料表面結(jié)構(gòu)對(duì)于其表面特性的影響。因此，高分辨率分析表面形貌對(duì)確定表面粗糙度、反光特性、摩擦學(xué)性能及表面質(zhì)量等相關(guān)參數(shù)具有重要意義。共焦技術(shù)能夠測(cè)量各種表面反射特性的材料并獲得有效的測(cè)量數(shù)據(jù)。
VT6000共聚焦顯微鏡基于共聚焦顯微技術(shù)，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，可以對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量。在材料生產(chǎn)檢測(cè)領(lǐng)域中能對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、平面度、粗糙度、波紋度、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。
應(yīng)用
1.MEMS
微米和亞微米級(jí)部件的尺寸測(cè)量，各種工藝（顯影，刻蝕，金屬化，CVD， PVD，CMP等）后表面形貌觀察，缺陷分析。
2.精密機(jī)械部件，電子器件
微米和亞微米級(jí)部件的尺寸測(cè)量，各種表面處理工藝，焊接工藝后的表面形 貌觀察，缺陷分析，顆粒分析。
3.半導(dǎo)體/ LCD
各種工藝（顯影，刻蝕，金屬化，CVD，PVD，CMP等）后表面形貌觀察， 缺陷分析 非接觸型的線寬，臺(tái)階深度等測(cè)量。
4.摩擦學(xué)，腐蝕等表面工程
磨痕的體積測(cè)量，粗糙度測(cè)量，表面形貌，腐蝕以及亞微米表面工程后的表面形貌。
激光共聚焦顯微鏡測(cè)量技術(shù)在汽車工業(yè)上的應(yīng)用
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工業(yè)顯微鏡的最新內(nèi)容
在工業(yè)無損檢測(cè)（NDT）的宏大敘事中，視頻內(nèi)窺鏡（Videoscope）不僅是物理視界的延伸，更是工業(yè)維護(hù)體系中的“神經(jīng)末梢”，它突破了機(jī)械結(jié)構(gòu)的物理壁壘，將檢測(cè)人員的視野精準(zhǔn)投射至航空發(fā)動(dòng)機(jī)的燃燒室、深埋地下的管道網(wǎng)絡(luò)以及精密鑄造件的微觀腔體中。
隨著Evident完成對(duì)Evident（原奧林巴斯科學(xué)事業(yè)部）檢測(cè)技術(shù)部門的收購，這一領(lǐng)域迎來了新的技術(shù)整合與飛躍，便攜式工業(yè)內(nèi)窺鏡的進(jìn)化史
在工業(yè)無損檢測(cè)（NDT）的宏大版圖中，視頻內(nèi)窺鏡（Videoscope）被譽(yù)為“工業(yè)之眼”。它突破了物理空間的桎梏，將檢測(cè)人員的視野延伸至發(fā)動(dòng)機(jī)深處、復(fù)雜的管網(wǎng)迷宮以及精密鑄造件的微小腔體中。
隨著Wabtec（美國西屋制動(dòng)）完成對(duì)Evident檢測(cè)技術(shù)部門的收購，原奧林巴斯（Olympus）科學(xué)解決方案事業(yè)部的工業(yè)內(nèi)窺鏡技術(shù)正式納入Wabtec的數(shù)字智能業(yè)務(wù)版圖。這一戰(zhàn)略整合不僅延續(xù)了百年的光學(xué)技術(shù)積淀
[NEWSLETTER] 受激發(fā)射損耗（STED）顯微鏡2個(gè)月前
超分辨率顯微鏡——光學(xué)系統(tǒng)，可以達(dá)到超過眾所周知的阿貝衍射極限——已經(jīng)有了廣泛的用途，因?yàn)楂@得最大可能的分辨率是該領(lǐng)域的關(guān)鍵目標(biāo)之一。實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)的一種方法是受激發(fā)射損耗（STED）的概念。在這里，熒光樣品由兩個(gè)激光照射，其中一個(gè)由相位板塑造成甜甜圈模式。通過化學(xué)過程，樣品重新發(fā)出的光將只來自甜甜圈模式的中心點(diǎn)，這可以配置為比經(jīng)典的焦點(diǎn)小得多，從而提高了圖像的分辨率。
光學(xué)建模和設(shè)計(jì)軟件VirtualLab
摘要
受激發(fā)射損耗(STED)顯微鏡描述了一種常用的技術(shù)，以實(shí)現(xiàn)在生物應(yīng)用的超分辨率。在這種方法中，兩束激光—一束正常，一束轉(zhuǎn)變成甜甜圈模式—被疊加到熒光樣品上。通過使用熒光過程的發(fā)射和損耗以及利用由此產(chǎn)生的飽和效應(yīng)，與通常的顯微鏡技術(shù)(例如，寬視場(chǎng)顯微鏡)相比，后反射光顯示出更高的分辨率。在本文檔中，介紹了這種設(shè)備的基本設(shè)置。為了模擬飽和效應(yīng)，在焦點(diǎn)區(qū)域采用等效孔徑。
任務(wù)說明
共聚焦掃描顯微鏡的工作原理3個(gè)月前
建模任務(wù)
共聚焦掃描顯微鏡是如何工作的，它如何檢測(cè)物體橫向位移導(dǎo)致的功率變化？
共聚焦掃描顯微鏡在 1950 年代由 M. L. Minsky 發(fā)明并獲得專利，后來又以采用激光作為光源的新穎性獲得了廣泛的應(yīng)用。 通過使用空間針孔來阻擋從焦平面外散射或反射的光，有助于提高縱向分辨率和對(duì)比度。 在本例中，我們?cè)赩irtualLab
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概述
這篇文章介紹了如何在 OpticStudio 中將序列模式和非序列模式結(jié)合，來設(shè)計(jì)一個(gè)共焦熒光顯微鏡。這個(gè)光學(xué)系統(tǒng)主要由兩部分組成：將激光輸送到顯微物鏡的激光聚焦（和準(zhǔn)直）系統(tǒng)，以及顯微物鏡、鏡筒透鏡和探測(cè)器組成的成像系統(tǒng)。本文提供了設(shè)計(jì)共聚焦顯微鏡的流程以及如何建立用于優(yōu)化的評(píng)價(jià)函數(shù)，還有如何利用轉(zhuǎn)換為 NSC 組工具將整個(gè)序列模式系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為非序列模式
[VirtualLab] 共聚焦掃描顯微鏡的工作原理3個(gè)月前
摘要
共聚焦掃描顯微鏡在 1950 年代由 M. L. Minsky 發(fā)明并獲得專利，后來又以采用激光作為光源的新穎性獲得了廣泛的應(yīng)用。 通過使用空間針孔來阻擋從焦平面外散射或反射的光，有助于提高縱向分辨率和對(duì)比度。 在本例中，我們?cè)赩irtualLab Fusion 中構(gòu)建了一個(gè)共聚焦掃描顯微鏡，并使用具有交替脊和凹槽的金屬光柵作為測(cè)試對(duì)象來演示其工作原理。
建模任務(wù)
共聚焦掃描顯微鏡是如何工作的
用于革命性成像的高數(shù)值孔徑顯微鏡3個(gè)月前
高分辨顯微鏡離軸成像分析
VirtualLab Fusion是一款光學(xué)建模和設(shè)計(jì)軟件，為光學(xué)工程師提供了一套綜合的可互操作仿真算法，并將其整合到一個(gè)平臺(tái)上。這使工程師能夠徹底探索光學(xué)系統(tǒng)，如這些強(qiáng)大的高NA顯微鏡，包括所有相關(guān)的影響，并為他們提供全面探究的必要工具。
高數(shù)值孔徑
具有非常高數(shù)值孔徑的反射顯微鏡系統(tǒng)3個(gè)月前
在單分子顯微鏡成像應(yīng)用中，定位精度是一個(gè)關(guān)鍵問題。由于在某一方向上的定位精度與圖像在同一方向上的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)(point spread function, PSF)的寬度成正比，因此具有較高數(shù)值孔徑(NA)的顯微鏡可以減小點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的寬度，從而提高定位精度。在這個(gè)案例中，我們演示了NA為0.99 (Inagawa等人，2015) 非常緊湊的反射顯微鏡系統(tǒng)的建模，并將使用VirtualLab
高數(shù)值孔徑(NA)顯微鏡以前所未有的清晰度和精度徹底改變了我們探測(cè)生物結(jié)構(gòu)的能力。通過利用光學(xué)原理，具有數(shù)值孔徑的顯微鏡超越了傳統(tǒng)限制，在捕捉復(fù)雜的細(xì)胞結(jié)構(gòu)，動(dòng)態(tài)分子相互作用和微妙的納米級(jí)現(xiàn)象方面表現(xiàn)出色。無論是揭開細(xì)胞動(dòng)力學(xué)的奧秘還是深入研究納米材料的復(fù)雜性，高NA顯微鏡使科學(xué)家能夠在微觀世界中推動(dòng)探索和發(fā)現(xiàn)的界限。
VirtualLab Fusion是一款光學(xué)建模和設(shè)計(jì)軟件
