冷反射效應(yīng)分析的案例
SYNOPSYS?前視紅外輻射計(jì)（FLIR）設(shè)計(jì)， 冷反射效應(yīng)
我們希望冷反射彌散斑比那要大得多。
RGHOST鬼像分析
在Command Window中輸入MGH
按上圖數(shù)據(jù)，點(diǎn)擊RGHOST
優(yōu)化表面3的冷反射
點(diǎn)擊 按鈕打開(kāi)C30M2.MAC
點(diǎn)擊 按鈕
在Command Window中輸入NAR
透鏡得到了很大改善，表面 3 上的冷反射達(dá)到了我們的目標(biāo)。然而，現(xiàn)在來(lái)自表面 7 的冷反射低于我們的極限。
優(yōu)化表面7的冷反射
在AANT文件中加入命令LLL .23 1 .1 A NAR 7
點(diǎn)擊 按鈕運(yùn)行C30M2
在Command Window中輸入NAR
總結(jié)
本例講述了什么是冷反射，NAR透鏡冷反射特性，GHPLOT不良冷反射透鏡圖，PSPRD衍射點(diǎn)擴(kuò)散圖，RGHOST鬼像分析，優(yōu)化冷反射。
展開(kāi) SYNOPSYS 光學(xué)設(shè)計(jì)軟件課程二十七：理解冷反射效應(yīng)
冷反射發(fā)生了什么？在命令窗口輸入NAR
鏡頭得到了很大改善。事實(shí)上，表面8上的冷反射效應(yīng)變得比我們的目標(biāo)更大。為什么？這個(gè)鏡頭來(lái)自專利文獻(xiàn)，我們懷疑原設(shè)計(jì)師完全忽略了冷反射效應(yīng)。當(dāng)我們重新優(yōu)化它時(shí)，我們發(fā)現(xiàn)它很容易控制。
但現(xiàn)在表面9的冷反射低于我們的極限。我們也為該表面添加目標(biāo)并重新優(yōu)化，然后在表面10處執(zhí)行相同的操作，結(jié)果很好。現(xiàn)在所有表面都接近或超過(guò)極限。
冷反射效應(yīng)通常不難控制，但是如果你忘記查看NAR列表，并且不控制值，你可能最終得到一個(gè)非常糟糕的結(jié)果。
SYNOPSYS?前視紅外輻射計(jì)（FLIR）設(shè)計(jì)， 冷反射效應(yīng)
我們希望冷反射彌散斑比那要大得多。
RGHOST鬼像分析
在Command Window中輸入MGH
按上圖數(shù)據(jù)，點(diǎn)擊RGHOST
優(yōu)化表面3的冷反射
點(diǎn)擊 按鈕打開(kāi)C30M2.MAC
點(diǎn)擊 按鈕
在Command Window中輸入NAR
透鏡得到了很大改善，表面 3 上的冷反射達(dá)到了我們的目標(biāo)。然而，現(xiàn)在來(lái)自表面 7 的冷反射低于我們的極限。
優(yōu)化表面7的冷反射
在AANT文件中加入命令LLL .23 1 .1 A NAR 7
點(diǎn)擊 按鈕運(yùn)行C30M2
在Command Window中輸入NAR
總結(jié)
本例講述了什么是冷反射，NAR透鏡冷反射特性，GHPLOT不良冷反射透鏡圖，PSPRD衍射點(diǎn)擴(kuò)散圖，RGHOST鬼像分析，優(yōu)化冷反射。
展開(kāi) ZEMAX | OpticStudio 的冷反射分析宏
本文將演示如何在具有制冷型探測(cè)器的紅外系統(tǒng)中分析冷反射效應(yīng)。冷反射圖像是由光學(xué)系統(tǒng)表面反射形成的制冷型探測(cè)器的圖像，當(dāng)(近)對(duì)焦時(shí)，在圖像中將產(chǎn)生一個(gè)黑暗的中心斑點(diǎn)。
分析將從使用OpticStudio的鬼像分析生成鬼像文件開(kāi)始，并收集每個(gè)文件的漸暈和傳輸數(shù)據(jù)。
冷反射積分系數(shù)是根據(jù)用戶輸入的溫度數(shù)據(jù)(外殼、探測(cè)器和環(huán)境)計(jì)算出來(lái)的。表面NITD貢獻(xiàn)和總NITD結(jié)果會(huì)顯示在圖中并且數(shù)字NITD數(shù)據(jù)會(huì)被寫入一個(gè)文本文件。
作者 Serhat Hasan, shaslan@aselsan.com.tr
附件下載
聯(lián)系工作人員領(lǐng)取附件
簡(jiǎn)介
冷反射效應(yīng)是致冷型紅外系統(tǒng)中一種著名的現(xiàn)象，它是由探測(cè)器與殼體的巨大溫差引起的。
鏡片鍍膜的抗反射性能的不完善會(huì)導(dǎo)致殘留的熱輻射從每個(gè)鏡片表面返回。熱殼體的部分輻照度也到達(dá)探測(cè)器。如果鏡頭設(shè)計(jì)不當(dāng)，就會(huì)在圖像上產(chǎn)生可分辨的對(duì)比度差異。
對(duì)于固定的鏡頭位置和機(jī)架溫度，這種對(duì)比度差可以通過(guò)電子非均勻性校正算法來(lái)消除。但這些參數(shù)的改變會(huì)導(dǎo)致冷反射圖案的回歸。因此，冷反射分析是制冷型紅外探測(cè)器設(shè)計(jì)過(guò)程中一個(gè)非常重要的部分。
定義冷反射引起的溫差
附件中的宏“Narcissus.zpl” 可以計(jì)算使用制冷型探測(cè)的紅外鏡頭的冷反射引入等效溫差(NITD)。其計(jì)算過(guò)程使用了以下公式1,2:
σij = 從表面j落在冷卻型探測(cè)器表面的反射輻射的立體角與探測(cè)器像元i的冷屏蔽立體角的比值。
t0(λ) = 從第一透鏡表面到探測(cè)器的平均透射率。
ti(λ) = 從探測(cè)器到我們關(guān)心的表面i的平均透射率。
展開(kāi) 
Ansys Zemax | OpticStudio 的冷反射分析宏
附件下載
聯(lián)系工作人員獲取附件
本文將演示如何在具有制冷型探測(cè)器的紅外系統(tǒng)中分析冷反射效應(yīng)。冷反射圖像是由光學(xué)系統(tǒng)表面反射形成的制冷型探測(cè)器的圖像，當(dāng)(近)對(duì)焦時(shí)，在圖像中將產(chǎn)生一個(gè)黑暗的中心斑點(diǎn)。
分析將從使用OpticStudio的鬼像分析生成鬼像文件開(kāi)始，并收集每個(gè)文件的漸暈和傳輸數(shù)據(jù)。
冷反射積分系數(shù)是根據(jù)用戶輸入的溫度數(shù)據(jù)(外殼、探測(cè)器和環(huán)境)計(jì)算出來(lái)的。表面NITD貢獻(xiàn)和總NITD結(jié)果會(huì)顯示在圖中并且數(shù)字NITD數(shù)據(jù)會(huì)被寫入一個(gè)文本文件。
簡(jiǎn)介
冷反射效應(yīng)是致冷型紅外系統(tǒng)中一種著名的現(xiàn)象，它是由探測(cè)器與殼體的巨大溫差引起的。
鏡片鍍膜的抗反射性能的不完善會(huì)導(dǎo)致殘留的熱輻射從每個(gè)鏡片表面返回。熱殼體的部分輻照度也到達(dá)探測(cè)器。如果鏡頭設(shè)計(jì)不當(dāng)，就會(huì)在圖像上產(chǎn)生可分辨的對(duì)比度差異。
對(duì)于固定的鏡頭位置和機(jī)架溫度，這種對(duì)比度差可以通過(guò)電子非均勻性校正算法來(lái)消除。但這些參數(shù)的改變會(huì)導(dǎo)致冷反射圖案的回歸。因此，冷反射分析是制冷型紅外探測(cè)器設(shè)計(jì)過(guò)程中一個(gè)非常重要的部分。
定義冷反射引起的溫差
附件中的宏“Narcissus.zpl” 可以計(jì)算使用制冷型探測(cè)的紅外鏡頭的冷反射引入等效溫差(NITD)。其計(jì)算過(guò)程使用了以下公式1,2:
σij = 從表面j落在冷卻型探測(cè)器表面的反射輻射的立體角與探測(cè)器像元i的冷屏蔽立體角的比值。
t0(λ) = 從第一透鏡表面到探測(cè)器的平均透射率。
ti(λ) = 從探測(cè)器到我們關(guān)心的表面i的平均透射率。
以上等式機(jī)基于下假設(shè)：
假設(shè)探測(cè)器的歸一化光譜響應(yīng)在工作波長(zhǎng)上是恒定的，所以這個(gè)參數(shù)在計(jì)算中不需要。
大氣透射率假設(shè)為1，這意味著NITD參考的是鏡頭前面的環(huán)境溫度。
假設(shè)應(yīng)用在透鏡表面的所有鍍膜的性能在工作波長(zhǎng)上是恒定的。
展開(kāi) 