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馬赫曾德干涉儀-Y的三維追跡圖 馬赫曾德干涉儀-Y的探測器結果圖總結OAS 光學軟件憑借直觀的界面操作、精準的光學計算模型與豐富的結果分析功能，為馬赫曾德干涉儀等光學系統的仿真提供了高效工具。無論是基礎光學實驗教學，還是復雜光學設備的研發設計，均可借助該軟件降低實驗成本、縮短研發周期。

馬赫曾德干涉儀-Z案例分析簡介馬赫曾德干涉儀作為經典的分波前干涉裝置，廣泛應用于光學檢測、精密測量、光通信等領域，其核心功能是通過光束分束、反射、合束產生干涉條紋，實現對介質折射率、光路相位差、物體微小形變等物理量的精準測量。

圖3：集成光子器件中的基本結構單元 (a) 定向耦合器， 以及以其為基礎衍生的二級結構單元包括 (b) 馬赫曾德干涉器，(c) 環形諧振器，和 (d) Sagnac 干涉器 圖4：集成馬赫曾德干涉器，分插復用型環形諧振器，以及級聯Sagnac干涉器的幅頻響應對比 圖5：集成一維光子晶體諧振腔，布拉格光柵，以及級聯Sagnac干涉器的幅頻響應對比

為此相應地發展了多種非接觸式檢測振動和位移的新方法，其中最主要的要屬光干涉法。將光激發和光檢測相結合形成非接觸式激發和檢測聲波的全光學方法，適用于在極端環境下（高溫、高壓、腐蝕及放射性等）對材料和設備進行分析和測試。近年來利用皮秒（10－12秒）或飛秒（10－15秒）量級的超短激光脈沖在凝聚態物質中激發1011赫以上頻段的特高頻聲子。

雜散光和鬼像分析報告相干光束的傳播模擬 馬赫-曾德干涉儀FRED可以模擬多種相干光源，并且借助于“相干標量場分析”工具可以分析相干光的空間傳播特性。左圖是FRED中建立的馬赫-曾德干涉儀模型，由準直相干光源、分束鏡、平面反射鏡、壓電式微反射鏡陣列、探測分析面等元件組成。

圖1 偏心單模光纖建模圖如圖2分別波長1550nm和1560nm的偏心結構的縱向功率分布圖，光源從纖芯輸入，到中間偏心部分后光被分成兩部分一部分進入纖芯，另一部分進入包層，然后纖芯中的光和包層中的光再匯入單模光纖，由于纖芯和包層的折射率不同，所以傳播相等距離后兩部分匯聚的光會產生光程差，從而產生馬赫—曾德干涉儀(Mach-Zehnder; inter-ferometer)。

文件信息拓展閱讀- 分層介質組件- 非序列追跡的通道設置- 激光邁克爾遜干涉儀和干涉條紋探測- 馬赫-曾德干涉儀

5G基站應用了相控陣技術，通過調整不同天線發射的電磁波參數，讓不同波形相互干涉制造能量更大的波峰，以此提升信號傳播范圍。6G新技術也利用了電磁波相互干涉的原理，只不過這次的目的主要是復用空間，而不是加強傳播距離。

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表1.垂直光電探測器的關鍵性能指標比較 表1.垂直光電探測器的關鍵性能指標比較馬赫曾德調制器馬赫-曾德爾調制器 (MZM)是一種在PIC中常用的電光調制器，用于將電信號編碼到光載波上。這些器件采用干涉儀型的結構（平衡或不平衡），并通過在任一臂上引入額外的相移進行建設性或破壞性干涉來控制輸出光信號的幅度。

表1.垂直光電探測器的關鍵性能指標比較馬赫曾德調制器馬赫-曾德爾調制器 (MZM)是一種在PIC中常用的電光調制器，用于將電信號編碼到光載波上。這些器件采用干涉儀型的結構（平衡或不平衡），并通過在任一臂上引入額外的相移進行建設性或破壞性干涉來控制輸出光信號的幅度。對于我們的器件，選擇耗盡型 MZM，它驅動干涉儀臂（波導）上的 PN 結進入反向偏置，以耗盡其中的自由載流子。

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