通過(guò)實(shí)驗(yàn)可知,短路時(shí)電壓有明顯的變化,找出要重現(xiàn)實(shí)驗(yàn)中的電壓下降所需的短路阻抗和判斷短路發(fā)生的參數(shù)。如通過(guò)某些依賴于應(yīng)變或溫度的條件去觸發(fā)電路短路,產(chǎn)生內(nèi)部短路后,溫度會(huì)明顯上升。上圖右下案例中前2.5s左右的黑色曲線表示的是由焦耳熱引起的溫度升高,它只與進(jìn)入內(nèi)部短路的環(huán)路電流有關(guān),然后必須添加熱失控或放熱反應(yīng)模型,以匹配后續(xù)的溫度,也就是圖中的紅色短橫線(實(shí)驗(yàn)值)。
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Ansys中國(guó) ??? 3年前