二、技術(shù)差異:精密測(cè)量 vs 環(huán)境模擬從技術(shù)方向來(lái)看,兩大測(cè)試賽道壁壘清晰: 顯示面板測(cè)試 核心偏向光學(xué)檢測(cè)、精密測(cè)量、材料力學(xué),追求微米級(jí)精度,如折痕深度、平整度量化、微小缺陷識(shí)別等,對(duì)光學(xué)系統(tǒng)、高速成像、智能算法要求極高。
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