儀器發(fā)射一束激光線或激光點(diǎn),照射到物體表面。根據(jù)激光光點(diǎn)在表面上的位置變化以及攝像頭接收到的反射光角度差異,利用三角測(cè)量公式計(jì)算出每個(gè)點(diǎn)的空間坐標(biāo)(X, Y, Z),從而繪制出輪廓線。2. 白光干涉原理(White Light Interferometry)這是一種基于光學(xué)干涉的非接觸式測(cè)量技術(shù)。
1954
國(guó)高材高分子材料產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新中心 ??? 4月前