
發布
注冊
/
登錄儀器校準
關注創建者:匿名 創建時間:2026-01-05
儀器校準的視頻教程
聲學與振動傳感器計量校準方法及系統
培訓內容 基于工作標準電容傳聲器、壓電加速度計檢定規程,介紹HBK 9721型聲學校準系統和3629型振動校準系統所使用的儀器溯源和校準方法。 介紹基于該系統可開展的傳聲器、振動傳感器、測振儀、力傳感器、聲學和振動校準器校準方面的工作。
免費 1小時2分鐘 54播放
查看
儀器校準的實例教程
職位名稱:
聲學振動測試儀器校準維修工程師
工作地點:
廣州
工作性質和內容:
1. 聲學、振動測試儀器及相關設備和系統的故障檢查、判斷及維修:
零部件的維修與更換
線纜、小配件的制作和本地采購
儀器和系統維修后的性能一致性測試
儀器和系統的校準
2. 通過電話、郵件、微信等方式對用戶進行技術指導、解答用戶技術問題、遠程協助解決用戶設備故障
3. 向用戶介紹、推薦公司的系統維護方案、軟件升級方案
4. 為用戶訂購各類備件及常用部件
5. 將特定儀器或系統送往總部檢修并及時跟蹤維修進度
6. 基本的聲學、振動測試儀器的安裝、調試和培訓等
7. 協助辦理用戶培訓班
8. 協助銷售工程師做好售前技術支持工作
9. 編寫、翻譯技術資料及相關的用戶操作手冊
10. 需要出差
基本要求:
1. 責任心強,始終把用戶放在第一位
2. 待人熱心、周到
3. 能耐心、細致解答用戶各類技術問題
4. 具備一定的溝通能力及技巧
5. 有外企工作經驗者優先考慮
專業技術要求:
1. 對電子儀器的原理及其維修具有良好的理解
2. 具有較強的電子儀器排查故障及維修能力,動手能力強
3. 能獨立解決相關的技術及維修服務問題
4. 對聲學和振動的原理有一定的了解
工作經驗:
1. 具有3-5年以上電子產品或儀器校準或維修工作經驗
2. 具有聲學、振動行業工作經驗者為佳
年齡要求:
30 – 40歲之間
學歷要求:
電子、儀器或聲學專業學士及以上學位
外語要求:
1.
展開 在制造業領域,為了確保產品質量和工藝精確度,在機檢測與機床校準補償系統被廣泛應用于機床領域。
原理解析
在機檢測與機床校準補償系統由精密測量儀器、信息處理設備和控制系統組成。
機床校準補償基于有限元分析和反饋控制理論。對機床進行檢測和測量,從而獲取機床在工作過程中的誤差和變形信息。然后通過與預設標準進行比較和分析,計算出校準補償量。最后,通過控制系統將補償量應用到機床中,從而實現誤差的補償和控制。
在線檢測類似于數控加工系統,其硬件部分通常由機床設備、數控系統、伺服系統、測頭系統以及計算機輔助系統等組成。其中直接影響檢測精度的關鍵部件是測頭部分。測頭通過機械臂將接觸頭與工件表面相接觸,然后沿著X/Y/Z坐標方向進行掃描,從而測量出工件表面的形貌信息。
應用解析
在機檢測與機床校準補償系統應用十分廣泛:
1、提高機床精度
通過校準補償,能夠有效減少機床在加工過程中產生的誤差和變形,從而提高產品的加工質量。
2、提高生產效率
通過實時監測和校準,能夠快速調整機床,減少因誤差而帶來的加工時間延誤。
3、延長機床的使用壽命和降低損耗
通過校準補償,減少機床在工作過程中的負荷和磨損,從而延長機床的使用壽命。
在實際應用中,在機檢測與機床校準補償系統已經廣泛應用于各類機床和加工領域。如對數控機床,系統能提高其定位精度和重復定位精度,從而保證產品的一致性和穩定性。
展開 l 電池狀態初始化
電池放入絕熱加速量熱儀之前,在25℃環境倉進行電池狀態初始化:
① 對于放電生熱功率測試,在環境倉內對電池進行標準充電至滿電狀態(100%SOC);
② 對于充電生熱功率測試,在環境倉內對電池進行標準放電至空電狀態(0%SOC);
l 電池單體放電過程生熱功率測試
準備3個動力電池單體,并按照如下步驟進行放電過程生熱功率測試:
① 儀器校準和漂移測試:確保儀器已校準。如因環境溫度變化較大或者試驗結果偏差太大,需要對進行儀器重新校準和漂移測試。
丹麥基準聲學實驗室(DPLA)
丹麥擁有世界上最活躍的聲學和振動基準校準實驗室之一,丹麥聲學基準實驗室(DPLA)。該實驗室部分由Brüel & Kj?r管理,盡管它是一個完全獨立的實體。
在DPLA,僅校準參考傳感器,例如來自二級實驗室的參考儀器,以及Brüel & Kj?r自己的生產線測試設備,這些設備與一級參考儀器進行比較。
一些組織,特別是飛機制造商,有太多的儀器,他們沒有時間把它們送走校準,投資自己的二級校準實驗室。這些實驗室以及全球其它二級實驗室由Brüel & Kj?r的參考儀器和校準設備提供服務。通過這種Brüel & Kj?r參考儀器,世界上很大一部分聲音和振動測量可追溯到DPLA。
展開 這項進展將應用于NIST的許多儀器,從原子鐘到磁傳感器和氣體光譜儀。
NIST 芯片長為14毫米(約0.55英寸),寬為9毫米(約0.35英寸)。波導由氮化硅制成,它可以控制各種光線頻率。蒸汽室是由硅和玻璃窗經過微機械加工制成,有點類似在NIST 芯片級的原子鐘和磁力計中使用的那些,也是由Kitching的研究小組開發。
光子芯片與微機械加工成的蒸汽室圖解
(圖片來源:參考資料【2】)
新型設備測量頻率的精準度是100秒內百億分之一的部分誤差,這個性能通過與一個獨立的NIST頻率梳對比得以驗證。Kitching 表示,這個性能水平對于如此小的東西來說已經非常好了,盡管全尺寸實驗室儀器會更加精準。
激光穩頻的光學裝置
(圖片來源:參考資料【2】)
價值
這項研究是“芯片上的NIST”( NIST-on-a-Chip ) 項目的一部分,旨在設計出小型、便宜、低功率且易制造的測量工具原型,它們是基于量子的,因此從本質上講是精準的。這些工具幾乎在任何地方都可以使用,例如工業場所中的儀器校準。在這個項目中,NIST 開發的技術將通過私營部門制造和分發。
展開 
儀器校準的最新內容
從風電設備的大型構件對接,到航空航天的微型零件組裝,從機床部件的精拼接,到儀器儀表的校準調試。
裝配平臺的平整表面如同工業生產的“標準坐標”,為每一個工件提供穩定、統一的支撐基準,杜絕因基準偏差導致的部件錯位、運行異響、精度不達標等問題,從源頭保障裝配質量的一致性與可靠性。
精度等級:按需選擇,別盲目追高
按國家標準,裝配平臺精度分為00級、0級、1級、2級四個等級:
00級:平面度誤差不超過0.02mm/m,適用于高精度檢測、儀器校準
0級:平面度誤差不超過0.05mm/m,適用于精密裝配、核心零部件檢測
1級:平面度誤差不超過0.10mm/m,適用于常規裝配、工業主流選擇
2級:平面度誤差不超過0.20mm/m,適用于重型工件劃線、毛坯粗測
精度等級:按需選擇,別盲目追高
按國家標準,裝配平臺精度分為00級、0級、1級、2級四個等級:
00級:平面度誤差不超過0.02mm/m,適用于高精度檢測、儀器校準
0級:平面度誤差不超過0.05mm/m,適用于精密裝配、核心零部件檢測
1級:平面度誤差不超過0.10mm/m,適用于常規裝配、工業主流選擇
2級:平面度誤差不超過0.20mm/m,適用于重型工件劃線、毛坯粗測
0級:比較高精度,平面度誤差在微米級,適用于計量室、精和密儀器校準和高精度檢測。
1級:高精度,適用于精和密裝配線和批量零件檢測。
2級:工業常用級,適用于普通機械裝配、調試和車間劃線。
3級:普通精度,適用于焊接、鉚焊和重載工件支撐。
尺寸規格:從200mm×300mm的小型平臺,到3000mm×8000mm以上的大型平臺均可定制,甚至可以通過多塊拼接滿足超大型工件的需求。
0級:比較高精度,用于計量室、精和密測量、儀器校準。
1級:高精度,用于一般精和密測量和檢查。
2級:中等精度,用于車間劃線、普通裝配。
3級:普通精度,用于焊接、粗加工等對精度要求不高的場合。
如何選? 務必遵循“夠用就好”的原則。因為精度每提升一個等級,價格可能增加30%-50%。精和密檢測選0/1級,常規裝配和劃線選2級即可。
2.
標準詳細規定了從樣品采集到結果報告整個過程的操作步驟和技術要求,包括但不限于采樣設備的選擇與準備、樣品處理方式、儀器校準程序、測試條件設定以及數據處理原則等。其中特別強調了對于不同類型的加臭劑,在使用光離子化檢測器進行分析時需要考慮其特異性響應特征,并據此調整實驗參數以獲得最佳分離效果。
圖9 標準曲線法校正曲線
圖10 增量法校正曲線
03
常見問題
3.1 儀器校準:別讓"跑偏"的波長毀了你的數據!
紫外分光光度計的波長校準是實驗的第一步,但很多人只是"例行公事"地做一下,結果測出來的吸收峰位置偏差,導致定性定量全錯!
關鍵操作:
波長校準:溫度變化會導致儀器機械部件微調,波長可能"跑偏"。
通過分析阿貝偏移的原因并進行理論計算和模擬驗證,利用自準直儀構建阿貝誤差補償系統,對自制激光跟蹤儀的距離精度誤差進行補償,實驗結果表明補償后的測距精度可從 1.828ppm 提高到 0.496ppm,該方法也適用于其他亞微米測量儀器的距離精度校準。
綜上所述,激光跟蹤儀憑借其高精度、實時快速、動態測量、便于移動等優點,在多個領域發揮著重要作用。
點擊這里,即可報名
研討會內容
基于工作標準電容傳聲器、壓電加速度計檢定規程,介紹HBK 9721型聲學校準系統和3629型振動校準系統所使用的儀器溯源和校準方法,介紹基于該系統可開展的傳聲器、振動傳感器、測振儀、力傳感器、聲學和振動校準器校準方面的工作。
如何校準儀器讀數?
單色儀在掃描不同波長時獲得的強度(更準確地說:光功率)會發生重大變化,并且還還可能表現出時間漂移,例如由于溫度變化或所用燈的老化。此外,光電探測器的響應度通常與波長有關。由于這些原因,例如,吸收率或反射率的精確測量需要與可能存在物體的強度進行比較。
在單光束分光光度計中,使用單獨的校準掃描進行校準,其中不插入樣品或參考樣品。