中頻誤差建模
關注創建者：匿名 創建時間：2026-01-04
中頻誤差建模的實例教程
如何對中頻誤差進行評估和公差分析
概述
本文我們介紹了如何使用周期性空間頻率表面來建模旋轉對稱曲面的不規則度(例如由于金剛石車削而產生的不規則度)。
具體方法為使用專用的自定義序列模式表面DLL（常規偶次非球面結合Zernike項與矢高周期變化得到）建模該中空間頻率表面。我們將使用中頻面周期性不規則度對非球面單透鏡和一個天塞物鏡 (Tessar Objective) 進行表面不規則度的評估和公差分析
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介紹
對于表面不規則度的公差分析是鏡頭設計過程中保證生產加工得到的實際光學元件能夠達到預期性能的重要環節。可能引起光學性能變化的因素包括但不限于光學表面的加工誤差、所用模具的加工誤差、注塑造成的不規則度、光學元件與傳感器間的校準誤差、光學表面的粗糙度誤差以及厚度誤差。
將這些不規則度參數化將有利于公差分析，公差操作數 TEZI 就是一個很好的例子。TEZI 操作數使用 Zernike 多項式來表示不規則度，一些低頻表面誤差可以用該參數化公式來評價公差。并且非常高頻的表面誤差將引起光束產生大角度散射，光學系統中可以將這部分作為能量損耗忽略不計。然而，介于這兩者之間的中頻表面誤差，參數化建模就存在一些難度，不僅在于難以使用多項式進行表示，而且在于不能作為系統損耗而忽略。
本文我們以以金剛石車削為例，解釋為什么需要一個中頻誤差的分析模型。我們定義了一個表達式來建模這種不規則度，并在示例中使用點列圖和公差分析進行展示。最后，說明使用這種模型時應注意的限制條件。
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概述
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具體方法為使用專用的自定義序列模式表面DLL（常規偶次非球面結合Zernike項與矢高周期變化得到）建模該中空間頻率表面。我們將使用中頻面周期性不規則度對非球面單透鏡和一個天塞物鏡 (Tessar Objective) 進行表面不規則度的評估和公差分析。
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介紹
對于表面不規則度的公差分析是鏡頭設計過程中保證生產加工得到的實際光學元件能夠達到預期性能的重要環節。可能引起光學性能變化的因素包括但不限于光學表面的加工誤差、所用模具的加工誤差、注塑造成的不規則度、光學元件與傳感器間的校準誤差、光學表面的粗糙度誤差以及厚度誤差。
將這些不規則度參數化將有利于公差分析，公差操作數 TEZI 就是一個很好的例子。TEZI 操作數使用 Zernike 多項式來表示不規則度，一些低頻表面誤差可以用該參數化公式來評價公差。并且非常高頻的表面誤差將引起光束產生大角度散射，光學系統中可以將這部分作為能量損耗忽略不計。然而，介于這兩者之間的中頻表面誤差，參數化建模就存在一些難度，不僅在于難以使用多項式進行表示，而且在于不能作為系統損耗而忽略。
本文我們以以金剛石車削為例，解釋為什么需要一個中頻誤差的分析模型。我們定義了一個表達式來建模這種不規則度，并在示例中使用點列圖和公差分析進行展示。
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具體方法為使用專用的自定義序列模式表面DLL（常規偶次非球面結合Zernike項與矢高周期變化得到）建模該中空間頻率表面。我們將使用中頻面周期性不規則度對非球面單透鏡和一個天塞物鏡 (Tessar Objective) 進行表面不規則度的評估和公差分析。
作者 Katsumoto Ikeda
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(*附件中包含的示例文件適用于 OpticStudio 20.1 及以上版本的專業版或旗艦版軟件中）
簡介
對于表面不規則度的公差分析是鏡頭設計過程中保證生產加工得到的實際光學元件能夠達到預期性能的重要環節。可能引起光學性能變化的因素包括但不限于光學表面的加工誤差、所用模具的加工誤差、注塑造成的不規則度、光學元件與傳感器間的校準誤差、光學表面的粗糙度誤差以及厚度誤差。
將這些不規則度參數化將有利于公差分析，公差操作數 TEZI 就是一個很好的例子。TEZI 操作數使用 Zernike 多項式來表示不規則度，一些低頻表面誤差可以用該參數化公式來評價公差。并且非常高頻的表面誤差將引起光束產生大角度散射，光學系統中可以將這部分作為能量損耗忽略不計。然而，介于這兩者之間的中頻表面誤差，參數化建模就存在一些難度，不僅在于難以使用多項式進行表示，而且在于不能作為系統損耗而忽略。
本文我們以以金剛石車削為例，解釋為什么需要一個中頻誤差的分析模型。我們定義了一個表達式來建模這種不規則度，并在示例中使用點列圖和公差分析進行展示。最后，說明使用這種模型時應注意的限制條件。
光學制造
在光學表面制造時，通常用表面不規則度或RMS誤差的形式來衡量一個表面與一個完美標準表面之間的差異。
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作者 Katsumoto Ikeda
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(*附件中包含的示例文件適用于 OpticStudio 20.1 及以上版本的專業版或旗艦版軟件中）
簡介
對于表面不規則度的公差分析是鏡頭設計過程中保證生產加工得到的實際光學元件能夠達到預期性能的重要環節。可能引起光學性能變化的因素包括但不限于光學表面的加工誤差、所用模具的加工誤差、注塑造成的不規則度、光學元件與傳感器間的校準誤差、光學表面的粗糙度誤差以及厚度誤差。
將這些不規則度參數化將有利于公差分析，公差操作數 TEZI 就是一個很好的例子。TEZI 操作數使用 Zernike 多項式來表示不規則度，一些低頻表面誤差可以用該參數化公式來評價公差。并且非常高頻的表面誤差將引起光束產生大角度散射，光學系統中可以將這部分作為能量損耗忽略不計。然而，介于這兩者之間的中頻表面誤差，參數化建模就存在一些難度，不僅在于難以使用多項式進行表示，而且在于不能作為系統損耗而忽略。
本文我們以以金剛石車削為例，解釋為什么需要一個中頻誤差的分析模型。我們定義了一個表達式來建模這種不規則度，并在示例中使用點列圖和公差分析進行展示。最后，說明使用這種模型時應注意的限制條件。
光學制造
在光學表面制造時，通常用表面不規則度或RMS誤差的形式來衡量一個表面與一個完美標準表面之間的差異。
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作者 Katsumoto
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具體方法為使用專用的自定義序列模式表面DLL（常規偶次非球面結合Zernike項與矢高周期變化得到）建模該中空間頻率表面。我們將使用中頻面周期性不規則度對非球面單透鏡和一個天塞物鏡 (Tessar Objective) 進行表面不規則度的評估和公差分析。
作者 Katsumoto
本內容更加貼近光學元件的制造和加工，如果您對這方面感興趣，本文將會很有幫助！
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概述
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具體方法為使用專用的自定義序列模式表面DLL（常規偶次非球面結合Zernike項與矢高周期變化得到）建模該中空間頻率表面
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