ansys查看數(shù)據(jù)
關(guān)注創(chuàng)建者：王靖雯 創(chuàng)建時(shí)間：2023-03-08
ansys查看數(shù)據(jù)的視頻教程
達(dá)索eonvia允許IP用戶查看受IP保護(hù)的數(shù)據(jù)
允許IP用戶查看受IP保護(hù)的數(shù)據(jù)，并保護(hù)其不受所有其他無(wú)權(quán)訪問(wèn)的用戶的訪問(wèn)。IP用戶也可以請(qǐng)求IP保護(hù)例外。 根據(jù)包含這些限制的相關(guān)分類，強(qiáng)制執(zhí)行安全規(guī)則和IP保護(hù)例外。 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)包括技能、公民身份、出生國(guó)、組織隸屬關(guān)系。 根據(jù)包含這些限制的相關(guān)分類，強(qiáng)制執(zhí)行安全規(guī)則和出口控制例外。
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【1】ANSYS Workbench中添加Path（路徑）及其對(duì)應(yīng)節(jié)點(diǎn)編號(hào)的查看方法
ANSYS Workbench中添加Path（路徑）及其對(duì)應(yīng)節(jié)點(diǎn)編號(hào)的查看方法
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ansys查看數(shù)據(jù)的實(shí)例教程
我是新手，用ansys模擬了盆式絕緣子加電壓后的電場(chǎng)分布，在后處理器中選擇plot result>contour plot>nodal solu，結(jié)果如圖顯示。我想知道具體位置的電場(chǎng)強(qiáng)度，請(qǐng)問(wèn)怎么查看。另外，我想該圖中的彩虹圖能細(xì)化一下，怎么操作？謝謝指導(dǎo)！
概述本文旨在說(shuō)明光線數(shù)據(jù)庫(kù)查看器 (Ray Database Viewer) 分析結(jié)果中出現(xiàn)的相關(guān)名詞與標(biāo)識(shí)，包含Ray、Segment、Path、Prnt、Levl、In、Hit等等。
正文首先我們?cè)O(shè)定一個(gè)簡(jiǎn)單的系統(tǒng)以便說(shuō)明，這個(gè)系統(tǒng)設(shè)定如下：
使用
單光線光源 (Source Ray)，并設(shè)定陳列光線條數(shù)# (#Layout Rays) 以及分析光線條數(shù)# (#Analysis Rays)。這會(huì)讓系統(tǒng)僅追跡一條光線，方便我們觀察光線分裂 (Ray Split) 與線段 (Segment) 的關(guān)系。物體2與3是兩片BK7平板玻璃。光線追跡相對(duì)閾值強(qiáng)度 (Minimum Relative Ray Intensity) = 0.05，當(dāng)光線能量相對(duì)于從光源出發(fā)時(shí)的比例低于此值時(shí)，將會(huì)停止追跡，此時(shí)該光線能量會(huì)計(jì)入能量損耗（閾值） (Energy Lost (Threshold)) 并顯示光在光線追跡 (Ray Trace) 窗口的下方。打開(kāi)3D布局圖 (3D Layout) 并確認(rèn)勾選 “使用偏振 (Use Polarization)” 、 “NSC光線分裂 (Split NSC Rays)” 以及 “光線箭頭 (Fletch Rays)” ，布局圖上的追跡結(jié)果如下圖。
打開(kāi)分析(Analyze) > 光線數(shù)據(jù)庫(kù)查看器 (Ray Database Viewer)，打開(kāi)設(shè)定對(duì)話框，取消勾選XYZ，勾選光程 (Path)。
展開(kāi) 典型熱處理工藝匯總，查看詳細(xì)數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)
1 概述
在Adams/PostProcessor中，通常都是以曲線的形式查看仿真結(jié)果數(shù)據(jù)，但也可以以列表的方式查看Adams/PostProcessor中顯示的曲線圖。另外，可以將一個(gè)曲線以數(shù)據(jù)表的形式導(dǎo)出，即能夠利用曲線繪圖來(lái)分類或創(chuàng)建用戶自定義的輸出文件。
2 用數(shù)據(jù)列表方式顯示測(cè)量曲線
左鍵選擇一個(gè)曲線繪圖邊框，注意不要點(diǎn)擊在曲線、圖例或坐標(biāo)軸上。另一個(gè)方法是可以在Adams/Postprocessor左側(cè)窗口的模型樹(shù)中選擇對(duì)應(yīng)的曲線繪圖，在這個(gè)過(guò)程中可能需要點(diǎn)擊一個(gè)page前的“＋”號(hào)以將page中的內(nèi)容擴(kuò)展開(kāi)顯示對(duì)應(yīng)的曲線繪圖。當(dāng)選擇了一個(gè)曲線繪圖后，注意在窗口左下角的屬性編輯窗口中的Table復(fù)選
Table復(fù)選框位置
選擇Table復(fù)選框后對(duì)應(yīng)的屬性編輯窗口將變?yōu)橛^察圖表顯示的控制窗口。在視窗中原來(lái)的曲線繪圖變?yōu)榱薍TML格式的圖表數(shù)據(jù)。下圖例子中顯示了單擺的X向和Y向位移。
file:///C:\Users\user\AppData\Local\Temp\msohtmlclip1\01\clip_image004.jpg
不勾選Table復(fù)選框顯示曲線圖
file:///C:\Users\user\AppData\Local\Temp\msohtmlclip1\01\clip_image006.jpg
勾選Table復(fù)選框顯示數(shù)據(jù)表格
3 曲線數(shù)據(jù)導(dǎo)出方式
在Adams/PostProcessor中，導(dǎo)出數(shù)據(jù)有三種方式：NumericData，Spreadsheet和Table。NumericData和Spreadsheet方式導(dǎo)出數(shù)據(jù)會(huì)導(dǎo)出整個(gè)結(jié)果集中包含的數(shù)據(jù)，Table方式導(dǎo)出數(shù)據(jù)只會(huì)導(dǎo)出在你所選擇的曲線視圖中顯示的曲線數(shù)據(jù)。
展開(kāi) 許多時(shí)候我們需要在ANSYS中查看高斯點(diǎn)上的應(yīng)或者和應(yīng)變，然而我們看到的節(jié)點(diǎn)上的應(yīng)力或者應(yīng)變通常是由高斯點(diǎn)上的應(yīng)力或者應(yīng)變外插而來(lái)，這時(shí)候我們就需要用到ERESX這個(gè)命令了。
ERESX命令使用格式：ERESX，Key(GUI: Main>solution > Load Step Opts > Output Ctrls > Integration Pt或Main Menu > Preprocessor > Loads > Load
Step Opts > Output
Ctrls > Integration Pt)
Key為外插法控制鍵，有DEFA,YES和NO三個(gè)選項(xiàng)，分別對(duì)應(yīng)著三種情況：
DEFA(默認(rèn)設(shè)置)：除了具有塑性、蠕變或膨脹等非線性特性的單元意外，將積分點(diǎn)的結(jié)果進(jìn)行外插擴(kuò)展到所有單元的節(jié)點(diǎn)上。
YES: 將積分點(diǎn)的結(jié)果進(jìn)行外插擴(kuò)展到所有單元的節(jié)點(diǎn)上，僅將線性結(jié)果數(shù)據(jù)通過(guò)外插法擴(kuò)展到這些具有塑性、蠕變或膨脹非線性特性的單元上。
NO: 將積分點(diǎn)上的結(jié)果復(fù)制(不是外插)到所有單元的節(jié)點(diǎn)上。
顯然，當(dāng)我們不確定ANSYS是如何外推的，想直接查看高斯點(diǎn)上的應(yīng)力、應(yīng)變或其它結(jié)果的時(shí)候，我們就可以直接使用ERESX,no這個(gè)命令來(lái)查看了。
注意：對(duì)于非線性的數(shù)據(jù)ANSYS總是采用復(fù)制的方式擴(kuò)展到節(jié)點(diǎn)上，而不是外推法,當(dāng) 然，你也可以用ERESX,yes來(lái)采用外推法；這個(gè)命令同樣可以在prep7中使用；
轉(zhuǎn)載來(lái)源于
http://blog.sina.com.cn/s/blog_934e096a0102wkyb.html
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表面的干涉儀數(shù)據(jù)包含不規(guī)則度的相關(guān)信息，包括旋轉(zhuǎn)對(duì)稱不規(guī)則性 (RSI)、用于確定中空間頻率的斜率誤差以及其他表面形狀制造誤差。這些制造誤差取決于在球面或非球面上進(jìn)行的拋光類型，可以是傳統(tǒng)的瀝青拋光、高速拋光以及磁流變拋光 (MRF)。由于很難使用 Zernike 項(xiàng)來(lái)模擬所有這些類型的表面形狀變化，因此確定表面誤差如何影響整體系統(tǒng)級(jí)性能的最佳方法是在 OpticStudio
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表面的干涉儀數(shù)據(jù)包含不規(guī)則度的相關(guān)信息，包括旋轉(zhuǎn)對(duì)稱不規(guī)則性 (RSI)、用于確定中空間頻率的斜率誤差以及其他表面形狀制造誤差。這些制造誤差取決于在球面或非球面上進(jìn)行的拋光類型，可以是傳統(tǒng)的瀝青拋光、高速拋光以及磁流變拋光 (MRF)。由于很難使用 Zernike 項(xiàng)來(lái)模擬所有這些類型的表面形狀變化，因此確定表面誤差如何影響整體系統(tǒng)級(jí)性能的最佳方法是在 OpticStudio
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概要
本文示范了如何輸入表面起伏數(shù)據(jù)，以定義Zemax OpticStudio中的網(wǎng)格矢高 (Grid Sag) 類型表面，表面起伏數(shù)據(jù)應(yīng)為Z坐標(biāo)軸上的矢高 (Sag)。
正文
表面起伏數(shù)據(jù)格式是這樣定義的：
第一行，由7個(gè)數(shù)字表示。
第1, 2個(gè)數(shù)字，代表x與y方向的數(shù)據(jù)數(shù)量，數(shù)據(jù)類型為整數(shù)。
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概要
本文介紹了如何使用極探測(cè)器和導(dǎo)入/導(dǎo)出 IESNA 和 EULUMDAT 光源數(shù)據(jù)，以及對(duì) NSDP 優(yōu)化操作數(shù)和 ZPL 數(shù)值函數(shù)進(jìn)行描述。將使用封裝好的 LED 來(lái)演示這些功能
簡(jiǎn)介
OpticStudio 有許多內(nèi)置的、用于模擬各種光源發(fā)出光線的空間和角分布的非序列光源類型。極探測(cè)器可用于測(cè)量任何光源的輻射強(qiáng)度，包括導(dǎo)入如 IESNA
最近突然遇到一個(gè)有意思的問(wèn)題，一時(shí)不知道如何操作，想著Ansys 應(yīng)該比較容易實(shí)現(xiàn)，但是用了很長(zhǎng)時(shí)間才找到一種方案(lll￢ω￢)。不知道大家是如何操作的。
已知：X坐標(biāo)系和Y坐標(biāo)系，和A點(diǎn) 相對(duì)Y坐標(biāo)系的位置。查看A點(diǎn)相對(duì)X坐標(biāo)系的位置，A點(diǎn)可以不是幾何點(diǎn)或網(wǎng)格節(jié)點(diǎn)。
<h3 class="ql-align-center"><strong>會(huì)議基本信息</strong></h3><p><strong>時(shí)間：</strong>2025 年 5 月 28 日（星期三）</p><p><strong>地點(diǎn)：</strong>武漢光谷萬(wàn)豪酒店</p><p><strong>費(fèi)用：</strong>收費(fèi)，499 元/人（含午餐，茶歇）</p><p><em>（Ansys維保期客戶免費(fèi)
數(shù)字工程技術(shù)與并行工作流程結(jié)合，以減少成本高昂的原型設(shè)計(jì)，促進(jìn)跨職能協(xié)作并加速產(chǎn)品上市進(jìn)程
主要亮點(diǎn)
Ansys 支持 SimAI? 云計(jì)算的人工智能解決方案現(xiàn)在允許用戶擴(kuò)展訓(xùn)練數(shù)據(jù)，以在后處理過(guò)程中獲得更深入的洞察
Ansys System Architecture Modeler（SAM）? 中的新功能包括支持 SysML v2，這不僅可通過(guò)在團(tuán)隊(duì)之間建立更緊密的聯(lián)系實(shí)現(xiàn)更優(yōu)化的產(chǎn)品設(shè)計(jì)以及顯著的時(shí)間節(jié)省
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表面的干涉儀數(shù)據(jù)包含不規(guī)則度的相關(guān)信息，包括旋轉(zhuǎn)對(duì)稱不規(guī)則性 (RSI)、用于確定中空間頻率的斜率誤差以及其他表面形狀制造誤差。這些制造誤差取決于在球面或非球面上進(jìn)行的拋光類型，可以是傳統(tǒng)的瀝青拋光、高速拋光以及磁流變拋光 (MRF)。由于很難使用 Zernike 項(xiàng)來(lái)模擬所有這些類型的表面形狀變化，因此確定表面誤差如何影響整體系統(tǒng)級(jí)性能的最佳方法是在 OpticStudio
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本文介紹了一種使用Ansys Zemax OpticStudio和Lumerical RCWA在整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)中精確仿真1D/2D光柵的靜態(tài)工作流程。將首先簡(jiǎn)要介紹方法。然后解釋有關(guān)如何建立系統(tǒng)的詳細(xì)信息。
本篇內(nèi)容將分為上下兩部分，上部將首先簡(jiǎn)要介紹方法工作流，下部將詳細(xì)闡述示例部分。
介紹
在此工作流程中，設(shè)計(jì)人員首先在Lumerical
培訓(xùn)活動(dòng)
本次培訓(xùn)主題為『Ansys Zemax 成像設(shè)計(jì)』，由宇熠高級(jí)光學(xué)工程師主講，針對(duì)序列成像設(shè)計(jì)，幫助學(xué)員們掌握 優(yōu)化技巧、公差分析技巧、熱分析、像質(zhì)評(píng)價(jià)、坐標(biāo)變換 等知識(shí)點(diǎn)。線下培訓(xùn)學(xué)習(xí)效率更高、更豐富、更精準(zhǔn)，可直接與老師面對(duì)面交流提問(wèn)，當(dāng)場(chǎng)解決記憶深刻。
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本文介紹了一種使用Ansys
