ansys檢查干涉的案例
如何解決：模型有干涉而無法劃分網(wǎng)格，但干涉檢查卻沒有干涉問題
但是劃分網(wǎng)格提示有干涉二網(wǎng)格劃分失敗：
但是在干涉檢查中，卻沒有干涉。
這是哪里出現(xiàn)了問題呢？檢查模型可以發(fā)現(xiàn)，零部件中由焊件建立，出現(xiàn)是多實(shí)體的零部件。裝配體的干涉檢查中，默認(rèn)僅檢查零部件之間的干涉，要不零部件之間的多實(shí)體也包括在內(nèi)的話，需要在“干涉檢查”命令中勾選“包括多體零件干涉”。
打開有干涉的零部件再仔細(xì)確認(rèn)問題的所在---多實(shí)體出在干涉。修改模型即可成功劃分網(wǎng)格。
在做網(wǎng)格劃分的時候，建議把多實(shí)體的零件干涉也考慮在內(nèi)，避免漏掉出現(xiàn)模型有干涉而無法劃分網(wǎng)格，但干涉檢查卻沒有干涉問題。
展開 SOLIDWORKS參數(shù)化設(shè)計之干涉檢查
SOLIDWORKS參數(shù)化設(shè)計的思路和技巧我們講過很多了，今天來講一講如何在模型完成之后自動執(zhí)行干涉檢查。
SOLIDWORKS軟件本身就有干涉檢查的功能，在評估選項(xiàng)卡里可以找到該功能，我們這里說的干涉檢查指的是靜態(tài)干涉檢查，即模型在靜止時，零件之間是否有干涉存在，我們參數(shù)化完成之后，也是直接調(diào)用該功能來進(jìn)行干涉檢查的。
SolidKits.AutoWorks軟件的設(shè)置中有開啟干涉檢查的開關(guān)，見下圖。
勾選該選項(xiàng)之后，參數(shù)化模型更新完成之后就會自動運(yùn)行干涉檢查，若SOLIDWORKS版本為2022及以上，還可以直接輸出干涉報告。
默認(rèn)情況下，是對整個裝配體進(jìn)行干涉檢查，那如果只想針對個別零件進(jìn)行干涉檢查，就需要在參數(shù)表中指定，哪些零件之間要進(jìn)行干涉檢查，標(biāo)記的方法也很簡單，只需要在該零件對應(yīng)的選項(xiàng)單元格中輸入{INTERFER=1}即可。
SolidKits.AutoWorks是一款設(shè)計自動化軟件，其核心是參數(shù)化設(shè)計工具。使用者僅僅通過輸入任務(wù)參數(shù)，即可自動完成整個設(shè)計改型流程的所有工作任務(wù)，生成圖紙、BOM等完整交付物，而且可以與其他系統(tǒng)進(jìn)行集成，比如PDM/ERP/MES等。
展開 汽車全3D動態(tài)自動干涉檢查標(biāo)準(zhǔn)揭秘，值得收藏
設(shè)計師盡量保證模具的合理性，通過檢查、杜絕常見易忽略問題的發(fā)生。
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Ansys Lumerical | 針對多模干涉耦合器的仿真設(shè)計與優(yōu)化
說明
本示例演示通過1×2端口多模干涉(MMI)耦合器計算寬帶傳輸和光損耗，并使用S參數(shù)在 INTERCONNECT 中創(chuàng)建 MMI 的緊湊模型。(聯(lián)系我們獲取文章附件)
綜述
低損耗光耦合器和光分路器是基于 Mach-Zehnder 的光調(diào)制器的基本組件，是集成電路的關(guān)鍵組成部分。通過在輸入和輸出波導(dǎo)處使用 taper 以確保輸入和輸出波導(dǎo)的模式與干涉區(qū)域之間的良好匹配，可以將損耗降至最低。EME 求解器非常適合表征這些器件，本例中的器件針對TE模式進(jìn)行了優(yōu)化，但該方法可以擴(kuò)展到任何設(shè)計和極化。
運(yùn)行和結(jié)果
第1步：優(yōu)化 MMI 幾何結(jié)構(gòu)
使用EME運(yùn)行一系列參數(shù)掃描以優(yōu)化 MMI 性能。
· 模式收斂掃描
確保每個單元格中的模式數(shù)量足以給出準(zhǔn)確的結(jié)果，模式收斂掃描是確保仿真結(jié)果可靠的重要部分，應(yīng)作為 EME 仿真文件初始設(shè)置的一部分來完成。下圖顯示輸出端口的傳輸結(jié)果收斂于約15種模式，稍大的值用于確保模式數(shù)量足以滿足本示例中使用的其他掃描（如波長、纖芯長度和錐形寬度）。右圖為從 field_profile 監(jiān)視器獲得的電場強(qiáng)度。
· 波長掃描
EME 是一種單頻求解器，參數(shù)掃描是獲得寬頻結(jié)果所必需的。將波長掃描設(shè)置為1.5~1.6 μm，具有100個波長點(diǎn)，按波長掃描。波長掃描選項(xiàng)卡返回S矩陣，然后可以根據(jù)S矩陣的S21元素計算從端口1通過端口2的基本TE模式傳輸。下圖顯示了使用EME分析窗口中的波長掃描功能獲得的1.1 μm taper 寬度的 MMI 傳輸與波長的函數(shù)關(guān)系 。
· 纖芯長度掃描
確定纖芯的最佳長度。涉及改變區(qū)域長度的掃描非常適合EME求解器，因?yàn)閹缀蹩梢粤⒓传@得結(jié)果，下圖顯示了作為纖芯長度函數(shù)的傳輸。
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Ansys Lumerical | 針對多模干涉耦合器的仿真設(shè)計與優(yōu)化
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說明
本示例演示通過1×2端口多模干涉(MMI)耦合器計算寬帶傳輸和光損耗，并使用S參數(shù)在 INTERCONNECT 中創(chuàng)建 MMI 的緊湊模型。
綜述
低損耗光耦合器和光分路器是基于 Mach-Zehnder 的光調(diào)制器的基本組件，是集成電路的關(guān)鍵組成部分。通過在輸入和輸出波導(dǎo)處使用 taper 以確保輸入和輸出波導(dǎo)的模式與干涉區(qū)域之間的良好匹配，可以將損耗降至最低。EME 求解器非常適合表征這些器件，本例中的器件針對TE模式進(jìn)行了優(yōu)化，但該方法可以擴(kuò)展到任何設(shè)計和極化。
運(yùn)行和結(jié)果
第1步：優(yōu)化 MMI 幾何結(jié)構(gòu)
使用EME運(yùn)行一系列參數(shù)掃描以優(yōu)化 MMI 性能。
模式收斂掃描
確保每個單元格中的模式數(shù)量足以給出準(zhǔn)確的結(jié)果，模式收斂掃描是確保仿真結(jié)果可靠的重要部分，應(yīng)作為 EME 仿真文件初始設(shè)置的一部分來完成。下圖顯示輸出端口的傳輸結(jié)果收斂于約15種模式，稍大的值用于確保模式數(shù)量足以滿足本示例中使用的其他掃描（如波長、纖芯長度和錐形寬度）。右圖為從 field_profile 監(jiān)視器獲得的電場強(qiáng)度。
波長掃描
EME 是一種單頻求解器，參數(shù)掃描是獲得寬頻結(jié)果所必需的。將波長掃描設(shè)置為1.5~1.6 μm，具有100個波長點(diǎn)，按波長掃描。波長掃描選項(xiàng)卡返回S矩陣，然后可以根據(jù)S矩陣的S21元素計算從端口1通過端口2的基本TE模式傳輸。下圖顯示了使用EME分析窗口中的波長掃描功能獲得的1.1 μm taper 寬度的 MMI 傳輸與波長的函數(shù)關(guān)系 。
纖芯長度掃描
確定纖芯的最佳長度。涉及改變區(qū)域長度的掃描非常適合EME求解器，因?yàn)閹缀蹩梢粤⒓传@得結(jié)果，下圖顯示了作為纖芯長度函數(shù)的傳輸。
展開 Ansys Zemax | 在OpticStudio中通過幾何光線追跡來模擬楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)
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概述
這篇文章旨在介紹楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)背后的理論知識，并在OpticStudio中用幾何光線追跡模擬該實(shí)驗(yàn)，最后比較理論和模擬的結(jié)果。
簡介
楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)是物理學(xué)中最著名的實(shí)驗(yàn)之一。這個實(shí)驗(yàn)通過展示光從點(diǎn)光源到干涉圖樣的變化，揭示了光的波動特性。楊氏實(shí)驗(yàn)的結(jié)果可以定性地解釋為條紋圖，也可以定量地解釋為相干因子（作為為光源寬度的函數(shù)）。兩種理論都會在本文中詳細(xì)分析。
本文將討論雙縫實(shí)驗(yàn)背后的理論，并在OpticStudio的非序列模式下對該實(shí)驗(yàn)進(jìn)行精確建模。
楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)
楊氏雙縫干涉衍射實(shí)驗(yàn)是描述空間相干性在干涉條紋形成中所起到的作用的經(jīng)典裝置。總體布局如下圖所示：
在觀察面上形成的條紋圖案取決于照亮縫隙面的光的空間相干性、雙縫之間分隔的距離以及從縫隙面到觀察面上的傳播距離。雖然將嚴(yán)謹(jǐn)?shù)慕y(tǒng)計數(shù)學(xué)應(yīng)用到這個問題上看似艱巨，但一旦認(rèn)識到觀察到的干涉圖樣只是來自不同點(diǎn)光源的基礎(chǔ)條紋的總和 [Ref. 1, Section 5.2.1] ，擴(kuò)展光源形成的條紋圖樣實(shí)際上是相當(dāng)明確的。這里我們考慮光源非相干的情況，即光源上的任意兩點(diǎn)以一種不相干的方式隨機(jī)輻射，比如熱白熾燈就是非相干光源。
在OpticStudio的非序列模式中，使用幾何光線追跡和表面散射及散射光線的 “重點(diǎn)采樣(Importance Sampling) ”，就可以很好地模擬這種裝置。在觀測面上的基礎(chǔ)條紋圖案是由擴(kuò)展光源上的每個點(diǎn)形成的，而在OpticStudio中，這種條紋圖案是通過使用矩形探測器對光線進(jìn)行相干探測來發(fā)現(xiàn)的。對基礎(chǔ)條紋圖案的集合（從整個光源的采樣點(diǎn)得到）按強(qiáng)度進(jìn)行求和，得到合成的條紋圖。
展開 Ansys Zemax | 在 OpticStudio 中將干涉儀數(shù)據(jù)附加到光學(xué)表面 – 第一部分
讓我們在 Wavefront Map 上仔細(xì)檢查一下。
正如預(yù)期的那樣，在雙通道仿真設(shè)置中，峰谷（0.8686 waves）和 RMS（0.1617 waves）波前誤差的數(shù)值是測量時報告的兩倍。波前映射的形狀似乎是倒置的，在中心顯示谷值而不是峰值，這是因?yàn)樵?OpticStudio 中，波前誤差被定義為主光線和光瞳光線之間的光程差。這可以解釋為沿光線傳播方向查看波前，因此在這種情況下，從鏡子向圖像平面看。這與 Zygo 從源到鏡子的觀察方式相反，因此這解釋了波前形狀的翻轉(zhuǎn)。
根據(jù)凸鏡的第一個實(shí)驗(yàn)，我們可以得出結(jié)論，OpticStudio 生成了 YYY.DAT 數(shù)據(jù)文件可以直接附加到表面模型，定性和定量結(jié)果都與預(yù)期非常吻合。
小結(jié)
我們通過上述方式介紹了如何將Zygo表面測量的干涉儀數(shù)據(jù)導(dǎo)入至OpticStudio中作為表面進(jìn)行建模，并通過一個理想示意系統(tǒng)驗(yàn)證了該方法的可行性。本文為該系列文章的第一篇，后續(xù)文章我們將利用一些更為實(shí)際的系統(tǒng)，進(jìn)行更加全面的嘗試和介紹。
展開 Ansys Zemax | 在 OpticStudio 中將干涉儀數(shù)據(jù)附加到光學(xué)表面 – 第二部分
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表面的干涉儀數(shù)據(jù)包含不規(guī)則度的相關(guān)信息，包括旋轉(zhuǎn)對稱不規(guī)則性 (RSI)、用于確定中空間頻率的斜率誤差以及其他表面形狀制造誤差。這些制造誤差取決于在球面或非球面上進(jìn)行的拋光類型，可以是傳統(tǒng)的瀝青拋光、高速拋光以及磁流變拋光 (MRF)。由于很難使用 Zernike 項(xiàng)來模擬所有這些類型的表面形狀變化，因此確定表面誤差如何影響整體系統(tǒng)級性能的最佳方法是在 OpticStudio 中將測得的干涉儀數(shù)據(jù)直接鏈接到光學(xué)表面。
在第一部分文章：《Ansys Zemax | 在 OpticStudio 中將干涉儀數(shù)據(jù)附加到光學(xué)表面 – 第一部分中》，我們演示了如何根據(jù)表面形狀和方向?qū)?em>干涉測量數(shù)據(jù)導(dǎo)入 OpticStudio，本部分文章我們將引入更多的實(shí)例演示。
雙凸透鏡
作為實(shí)際演示案例，讓我們使用與之前相同的規(guī)格對雙凸透鏡進(jìn)行建模：
通光孔徑：25.85 mm
半徑：111.9837 mm [注：半徑在 Zygo 生成的XXX.DAT數(shù)據(jù)文件中標(biāo)明]
峰谷波前誤差：0.433 waves，RMS 波前誤差：0.084 waves，測試波長 632.8 nm
為了驗(yàn)證我們可以附加 OpticStudio 生成的 YYY.DAT 文件至鏡頭的前表面，并針對鏡頭后表面使用倒置和翻轉(zhuǎn)數(shù)據(jù)文件，我們創(chuàng)建了一個鏡頭系統(tǒng)。鏡頭中名義雙凸透鏡與導(dǎo)入數(shù)據(jù)透鏡一起完美地聚焦準(zhǔn)直入射光束，而不會產(chǎn)生殘余波前誤差。我們使用多重結(jié)構(gòu)系統(tǒng)，其中第一個結(jié)構(gòu)包含名義雙凸透鏡，而第二個結(jié)構(gòu)添加了干涉測量結(jié)果。
與以前類似，光圈類型設(shè)置為按光闌尺寸浮動，但光闌表面是具有 25.85 mm半直徑的虛擬表面，位于雙凸透鏡前 5 mm處。
展開 ANSYS官方 | PCB電磁兼容設(shè)計規(guī)則檢查與仿真驗(yàn)證
ANSYS官方將特別推出一系列ANSYS網(wǎng)絡(luò)研討會，不僅包含ANSYS 2019 R3 新版本功能介紹，同時也包括最新的行業(yè)熱點(diǎn)解決方案，ANSYS將與各位深入探討行業(yè)熱點(diǎn)趨勢，諸如無人駕駛、PCB結(jié)構(gòu)可靠性、天線設(shè)計、數(shù)字孿生等等。
報名本系列課程，聯(lián)系微信客服jishulink555，可免費(fèi)贏取ANSYS官方定制真空保溫杯、小夜燈、餐具套裝、手機(jī)支架、話費(fèi)等精美紀(jì)念品！此外，在此系列網(wǎng)絡(luò)研討會結(jié)束后，ANSYS將官方抽取1名幸運(yùn)者，TA將獲得華為最新發(fā)布的Mate 30 1臺（報名多場幾率疊加）！
本期研討會：《PCB電磁兼容設(shè)計規(guī)則檢查與仿真驗(yàn)證》將于1月8日 20:00-21:00舉辦。
直播主題
PCB電磁兼容設(shè)計規(guī)則檢查與仿真驗(yàn)證
日期/時間
2020年1月8日
20:00 – 21:00
課程受眾
Layout工程師、硬件工程師、SI工程師、EMC工程師、測試工程師等相關(guān)人士
講師簡介
張偉，ANSYS高級應(yīng)用工程師。
在電磁電路仿真分析領(lǐng)域從業(yè)十二年，作為SI/PI/EMC仿真軟件專家，具備豐富的SI/PI/EMC仿真分析經(jīng)驗(yàn)。
展開 關(guān)于ANSYS/lsdyna仿真軟件中檢查模型尺寸的幾種方法
在ANSYS經(jīng)典界面下，是沒有單位的概念的，簡言之需要讀者自行定義協(xié)調(diào)的單位制，那么在用外部建模軟件建好模型后，我怎么知道模型的尺度在當(dāng)前ansys軟件中是多少呢
①用check geometry命令，選中模型任意兩點(diǎn)，就可以測量出長度，對此就可以使用scale命令對模型進(jìn)行縮放來調(diào)整模型尺度
②在LSPP中使用measure命令，直接量取模型網(wǎng)格任意兩節(jié)點(diǎn)的距離來判斷
Ansys Zemax | 在 OpticStudio 中將干涉儀數(shù)據(jù)附加到光學(xué)表面 – 第一部分
現(xiàn)在，我們可以檢查表面矢高圖，以驗(yàn)證鏡子的形狀。為了最好地可視化較小的制造誤差，請將 Remove 選項(xiàng)設(shè)置為 Base Radius，以從當(dāng)前矢高中減去基礎(chǔ)曲率半徑，并僅報告差異。正如預(yù)期的那樣，根據(jù)測量結(jié)果，表面矢高圖在表面中心顯示一個峰值。這意味著從定性的角度來看，Zygo 測量和 OpticStudio 模擬方法之間的數(shù)據(jù)匹配。
為了對結(jié)果進(jìn)行數(shù)值驗(yàn)證，除了定性分析之外，我們還可以使用 Wavefront Map 工具。由于這是一個模擬干涉儀如何測量表面形狀的雙通道模型，因此我們預(yù)計峰谷（0.433 waves）和 RMS（0.084 waves）波前誤差將與測量值相比翻倍，因?yàn)闇y量結(jié)果報告為透射。讓我們在 Wavefront Map 上仔細(xì)檢查一下。
正如預(yù)期的那樣，在雙通道仿真設(shè)置中，峰谷（0.8686 waves）和 RMS（0.1617 waves）波前誤差的數(shù)值是測量時報告的兩倍。波前映射的形狀似乎是倒置的，在中心顯示谷值而不是峰值，這是因?yàn)樵?OpticStudio 中，波前誤差被定義為主光線和光瞳光線之間的光程差。這可以解釋為沿光線傳播方向查看波前，因此在這種情況下，從鏡子向圖像平面看。這與 Zygo 從源到鏡子的觀察方式相反，因此這解釋了波前形狀的翻轉(zhuǎn)。
根據(jù)凸鏡的第一個實(shí)驗(yàn)，我們可以得出結(jié)論，OpticStudio 生成了 YYY.DAT 數(shù)據(jù)文件可以直接附加到表面模型，定性和定量結(jié)果都與預(yù)期非常吻合。
小結(jié)
我們通過上述方式介紹了如何將Zygo表面測量的干涉儀數(shù)據(jù)導(dǎo)入至OpticStudio中作為表面進(jìn)行建模，并通過一個理想示意系統(tǒng)驗(yàn)證了該方法的可行性。本文為該系列文章的第一篇，后續(xù)文章我們將利用一些更為實(shí)際的系統(tǒng)，進(jìn)行更加全面的嘗試和介紹。
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本期研討會：《PCB電磁兼容設(shè)計規(guī)則檢查與仿真驗(yàn)證》將于1月8日 20:00-21:00舉辦。
直播主題
PCB電磁兼容設(shè)計規(guī)則檢查與仿真驗(yàn)證
日期/時間
2020年1月3日
20:00 – 21:00
課程受眾
Layout工程師、硬件工程師、SI工程師、EMC工程師、測試工程師等相關(guān)人士
講師簡介
張偉，ANSYS高級應(yīng)用工程師。
在電磁電路仿真分析領(lǐng)域從業(yè)十二年，作為SI/PI/EMC仿真軟件專家，具備豐富的SI/PI/EMC仿真分析經(jīng)驗(yàn)。
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