ansys脈沖函數(shù)使用的案例
ANSYS中可以使用的數(shù)學(xué)函數(shù)
在ANSYS幫助系統(tǒng)中關(guān)于*SET命令的注釋下列出了ANSYS中可以使用的數(shù)學(xué)函數(shù)。所有這些數(shù)學(xué)函數(shù)均可以在ANSYS環(huán)境中使用，這些數(shù)學(xué)函數(shù)包括：
ABS(X) 求絕對(duì)值
ACOS(X) 反余弦
ASIN(X) 反正弦
ATAN(X) 反正切
ATAN2(X,Y) 反正切, ArcTangent of (Y/X) , 可以考慮變量X,Y 的符號(hào)
COS(X) 求余弦
COSH(X) 雙曲余弦
EXP(X) 指數(shù)函數(shù)
GDIS(X,Y) 求以X為均值,Y為標(biāo)準(zhǔn)差的高斯分布,在使用蒙地卡羅法研究隨機(jī)荷載和隨機(jī)材料參數(shù)時(shí),可以用該函數(shù)處理計(jì)算結(jié)果
LOG(X) 自然對(duì)數(shù)
LOG10(X) 常用對(duì)數(shù)(以10為基)
MOD(X,Y) 求 X/Y的余數(shù). 如果 Y=0, 函數(shù)值為 0
NINT(X) 求最近的整數(shù)
RAND(X,Y) 取隨機(jī)數(shù),其中X 是下限, Y是上限
SIGN(X,Y) 取 X的絕對(duì)值并賦予Y的符號(hào). Y>=0, 函數(shù)值為|X|, Y<0, 函數(shù)值為-|X|,.
SIN(X) 正弦
SINH(X) 雙曲正弦
SQRT(X) 平方根
TAN(X) 正切
TANH(X) 雙曲正切
展開 Ansys Zemax | 使用點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的衍射極限成像系統(tǒng)的分辨率
在本文中，我建議使用在 OpticStudio 中計(jì)算的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù) (PSF) 來客觀衡量這些成像系統(tǒng)的分辨率。文中介紹了重疊圖像（探測(cè)器）平面上兩個(gè)點(diǎn)的 PSF 的兩種方法。第一種方法使用多重結(jié)構(gòu)編輯器，第二種方法使用圖像模擬工具。文中比較了這兩種方法，并討論了它們的優(yōu)缺點(diǎn)。
簡介
成像系統(tǒng)的性能與其分辨率有關(guān)，但分辨率的定義各不相同。在超分辨率顯微鏡中，傅里葉環(huán)相關(guān)[1]用于評(píng)估分辨率。在衍射極限顯微鏡中，分辨率是用瑞利或斯派羅準(zhǔn)則估算的[2]。在實(shí)踐中，這些系統(tǒng)的分辨率也可以用微粒測(cè)量，微粒選擇明顯小于預(yù)期分辨率，選定上述標(biāo)準(zhǔn)之一。這些微粒充當(dāng)形成 PSF 的點(diǎn)發(fā)源，其尺寸給出了圖像分辨率的估計(jì)值，同樣，該尺寸根據(jù)其定義而變化。在本文中，我們使用 OpticStudio 中的 PSF 來更客觀地評(píng)估衍射極限成像系統(tǒng)的分辨率。
方法一：多重結(jié)構(gòu)編輯器（相干成像）
顯微鏡設(shè)計(jì)
在整篇文章中，我使用了基于 TL4X-SAP 物鏡（4X，0.2 NA）和 TTL200 管鏡的顯微鏡設(shè)計(jì)，如圖1所示。這兩種透鏡都可由 THORLABS 網(wǎng)站以黑盒形式提供。
圖 1 - 由 THORLABS 的黑匣子元件組成的顯微鏡設(shè)計(jì)。放大倍數(shù)為 4X，數(shù)值孔徑 (NA) 為0.2。
我們使用“真實(shí)圖像高度”定義并指定了在 X 和 Y 半寬為6.656毫米的正方形上具有相等面積的五個(gè)視場(chǎng)，對(duì)應(yīng)于物平面中的1.664毫米。視場(chǎng)由像面中具有2048x2048像素和13.312x13.312mm 2 物理尺寸的科學(xué) CMOS (sCMOS) 探測(cè)器進(jìn)行建模。這些探測(cè)器通常用于顯微鏡，可以在 Orca-Flash4.0 V3 (Hamamatsu) 或Zyla 4.2 plus (Andor) 等相機(jī)產(chǎn)品中找到。
展開 【ANSYS經(jīng)驗(yàn)技巧】- 學(xué)會(huì)使用變量數(shù)組函數(shù)（轉(zhuǎn)載）
使用函數(shù)加載器：
1.打開函數(shù)載入器，選擇parameter——function——read from file 打開保存的函數(shù)
2.在table parameter name 中輸入表變量名
3.對(duì)話框下部對(duì)應(yīng)每個(gè)狀態(tài)的函數(shù)表達(dá)式和狀態(tài)表。單擊函數(shù)表，即顯示每個(gè)指定方程變量的數(shù)據(jù)輸入?yún)^(qū)，如果需要使用材料ID變量，可以在其輸入?yún)^(qū)輸入。
4.在每個(gè)定義的狀態(tài)中重復(fù)以上過程。
5.直到你為函數(shù)中所有的狀態(tài)的所有變量提供賦值，才能保存為表格式參數(shù)使用。
注意：在ansys分析中用函數(shù)加載必須的兩個(gè)步驟：
1利用函數(shù)編輯器創(chuàng)建任意方程或函數(shù)
2在利用函數(shù)加載器加載函數(shù)，并以函數(shù)定義表參數(shù)
轉(zhuǎn)自：三維網(wǎng)。 作者：4kpolo
原帖鏈接：http://www.3dportal.cn/discuz/viewthread.php?tid=746468&extra=page%3D1%26amp%3Bfilter%3Ddigest
展開 Ansys Zemax | 使用點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的衍射極限成像系統(tǒng)的分辨率
在本文中，我建議使用在 OpticStudio 中計(jì)算的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù) (PSF) 來客觀衡量這些成像系統(tǒng)的分辨率。文中介紹了重疊圖像（探測(cè)器）平面上兩個(gè)點(diǎn)的 PSF 的兩種方法。第一種方法使用多重結(jié)構(gòu)編輯器，第二種方法使用圖像模擬工具。文中比較了這兩種方法，并討論了它們的優(yōu)缺點(diǎn)。
簡介
成像系統(tǒng)的性能與其分辨率有關(guān)，但分辨率的定義各不相同。在超分辨率顯微鏡中，傅里葉環(huán)相關(guān)[1]用于評(píng)估分辨率。在衍射極限顯微鏡中，分辨率是用瑞利或斯派羅準(zhǔn)則估算的[2]。在實(shí)踐中，這些系統(tǒng)的分辨率也可以用微粒測(cè)量，微粒選擇明顯小于預(yù)期分辨率，選定上述標(biāo)準(zhǔn)之一。這些微粒充當(dāng)形成 PSF 的點(diǎn)發(fā)源，其尺寸給出了圖像分辨率的估計(jì)值，同樣，該尺寸根據(jù)其定義而變化。在本文中，我們使用 OpticStudio 中的 PSF 來更客觀地評(píng)估衍射極限成像系統(tǒng)的分辨率。
方法一：多重結(jié)構(gòu)編輯器（相干成像）
顯微鏡設(shè)計(jì)
在整篇文章中，我使用了基于 TL4X-SAP 物鏡（4X，0.2 NA）和 TTL200 管鏡的顯微鏡設(shè)計(jì)，如圖1所示。這兩種透鏡都可由 THORLABS 網(wǎng)站以黑盒形式提供。
圖 1 - 由 THORLABS 的黑匣子元件組成的顯微鏡設(shè)計(jì)。放大倍數(shù)為 4X，數(shù)值孔徑 (NA) 為0.2。
我們使用“真實(shí)圖像高度”定義并指定了在 X 和 Y 半寬為6.656毫米的正方形上具有相等面積的五個(gè)視場(chǎng)，對(duì)應(yīng)于物平面中的1.664毫米。視場(chǎng)由像面中具有2048x2048像素和13.312x13.312mm2物理尺寸的科學(xué) CMOS (sCMOS) 探測(cè)器進(jìn)行建模。這些探測(cè)器通常用于顯微鏡，可以在 Orca-Flash4.0 V3 (Hamamatsu) 或Zyla 4.2 plus (Andor) 等相機(jī)產(chǎn)品中找到。
展開 
