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關注創建者:王靖雯 創建時間:2023-03-07

ansys測量直徑的實例教程
引言
在高速列車、航空航天、船舶制造等高端裝備領域,大型階梯軸作為核心傳動部件,其直徑測量精度直接決定了裝備的裝配精度與運行可靠性。傳統測量方法受限于接觸式干擾、環境敏感性等問題,難以滿足現代工業對高精度、高效率測量的需求。光學成像測量法憑借非接觸、抗干擾強等優勢成為主流選擇,但透鏡裝配偏心導致的光軸不重合、測量誤差大等技術瓶頸,長期制約著測量精度的提升。長春理工大學段潔副教授團隊基于Zemax光學設計軟件成功研發出對稱式雙遠心光路-雙CCD光學成像系統[1],有效解決了大型階梯軸直徑測量的精度難題。本文將深度解析該系統的設計邏輯、Zemax仿真優化過程及工程應用價值,展現光學設計軟件在高端制造領域的核心賦能作用。
大型階梯軸測量的技術瓶頸
大型階梯軸的直徑通常在600mm-800mm之間,其尺寸精度直接影響裝備的傳動效率和運行穩定性。在實際生產中,測量設備面臨多重技術挑戰:
傳統接觸式測量易造成工件表面損傷,且測量誤差受壓力、溫度等環境因素影響顯著;超聲波測量、偏振成像測量等非接觸方法存在抗干擾能力弱、精度不足等問題;光學成像系統因透鏡裝配偏心、光軸不重合,導致準直性下降,測量誤差難以控制;現有光學系統或結構復雜、或視場過小(如部分系統物方線視場僅60mm),無法適配大型階梯軸測量需求。
隨著高端裝備制造對精度要求的不斷提升,行業迫切需要一款兼具大視場、高精度、高穩定性的光學成像測量系統。
基于Zemax的對稱式雙遠心光路設計
團隊提出的對稱式雙遠心光路-雙CCD測量方法,以平面反射鏡誤差補償為核心創新點,通過Zemax軟件完成光路設計、參數優化與性能仿真,構建了滿足大型階梯軸測量需求的光學系統。
展開 步驟:
1、打開Ansys Workbench,創建一個“靜態結構”系統。
2、定義拉伸試驗樣品的材料屬性。本例中使用的是結構鋼。
3、導入模型,其外觀類似于圖 1 所示。
圖1 單軸拉伸試驗試樣
4、將材料分配給幾何體。
5、按照圖2所示,在試件上施加適當的約束條件。
圖2 樣品的邊界條件
6、按照圖2所示施加位移。
7、對模型進行網格劃分并運行仿真。繪制等效彈性應變(圖3)。
圖3 等效彈性應變圖
總結:
本案例說明了單軸拉伸試驗樣品中應變的測量方法。
如有疑問歡迎留言或私信!
概述
本文展示了如何創建XMP測量模板,以及如何創建和應用全局規則,Speos的仿真運算結果為*.XMP格式,內部包含光學仿真數據運算的結果信息。打開XMP仿真記過后,可以編輯使用template測量模板文件。通過使用全局規則的XMP測量模板,就可以在不同的項目中重復使用模板的測量項目,從而節省大量時間。可以利用全局規則來創建XMP模板,這些模板可以幫助驗證模擬是否滿足內部或法規要求。
前提條件
第一次創建模板,需要XMP的模擬結果。
創建測量模板
步驟1:認識XMP結果中的測量工具
打開仿真創建的XMP結果文件。點擊Measure按鈕。它將打開一個新窗口,可以在其中創建測量內容并將其導出為模板。
單擊Add area按鈕來創建新的測量行,在測量行下,用戶可以選擇改變區域的形狀,區域的參數(區域中心和區域的整體高度和寬度),以及測量值(最大值,最小值,平均值等)。Threshold列可用于為特定測量設置要考慮的最小或最大閾值。
添加新區域測量行:首先單擊“Shape形狀”列,并點擊“add area or measure添加區域或測量”按鈕。
添加同一區新的測量項,首先單擊“measure測量”列并按“add area or measure添加區域或測量”按鈕。
形狀:當選擇形狀時,會出現一個下拉列表,顯示可供選擇進行測量的不同選項,包括使用矩形,圓形,線、點、折線等選項。
測量:當選擇測量時,會出現一個下拉列表,顯示不同的測量選項,如最大值,最小值,平均值,對比度等。
閾值:左下列顯示了最小和最大閾值選項,用戶可以在其中輸入值。
步驟2:全局規則應用
在本例中,創建了兩個區域,它們將用于全局規則。
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概述:
單軸拉伸試驗是了解大多數材料并獲取應力與應變關系的主要方法。可靠的拉伸數據對于組件設計至關重要。本案例展示了如何進行拉伸試驗并獲取應變圖。
目標:
觀察在施加漸進式位移載荷的單軸拉伸試樣中的應變。
步驟:
1、打開Ansys Workbench,創建一個“靜態結構”系統。
2、定義拉伸試驗樣品的材料屬性。本例中使用的是結構鋼。
3、導入模型,其外觀類似于圖
引言
在高速列車、航空航天、船舶制造等高端裝備領域,大型階梯軸作為核心傳動部件,其直徑測量精度直接決定了裝備的裝配精度與運行可靠性。傳統測量方法受限于接觸式干擾、環境敏感性等問題,難以滿足現代工業對高精度、高效率測量的需求。光學成像測量法憑借非接觸、抗干擾強等優勢成為主流選擇,但透鏡裝配偏心導致的光軸不重合、測量誤差大等技術瓶頸,長期制約著測量精度的提升。長春理工大學段潔副教授團隊基于Zemax
概述
本文展示了如何創建XMP測量模板,以及如何創建和應用全局規則,Speos的仿真運算結果為*.XMP格式,內部包含光學仿真數據運算的結果信息。打開XMP仿真記過后,可以編輯使用template測量模板文件。通過使用全局規則的XMP測量模板,就可以在不同的項目中重復使用模板的測量項目,從而節省大量時間。可以利用全局規則來創建XMP模板,這些模板可以幫助驗證模擬是否滿足內部或法規要求。