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光學相干斷層掃描（OCT）是一種斷層成像系統，可以根據從圖像反射或散射的光生成橫截面或三維圖像。 醫用組織成像是該系統的最典型應用，因為OCT安全且具有高分辨率，儘管光可以穿透的深度限制在毫米量級。OCT測量系統依賴於邁克森干涉儀 (Michelson interferometer)，使得從參考物反射的光與樣品之間的相干性表明散射光源自樣品中與參考鏡的位置相對應的深度。

因為光路徑長是沿著光線方向計算的，並且光線長度在薄膜中會隨著角度增加，因此光線的相位會以 1/cos(theta) 的變化方式近似，這樣才是增加膜層相位的光路徑長時，正確表示方式。請注意Zemax OpticStudio在偏振追跡中，會同時回報 “ray” 以及 “field” 兩種係數，因而使用者可以同時查看兩者。當使用者需要增加膜層相位到光路徑長時，就使用ray係數。

多年來，Ansys 一直通過基于模型的系統開發和分析產品參與這一進程。此次演講將總結 Ansys 在應對這些關鍵挑戰方面取得的最新進展。嘉賓簡介：Olaf Kath 博士于 2001 年在柏林洪堡大學計算機科學研究所獲得博士學位，自2001 年起，他致力于將工具支持的基于模型的技術和方法引入功能安全與信息安全保障流程。